一种近红外光谱数据异常点校正方法技术

本发明专利技术涉及近红外光谱数据校正技术，其公开了一种近红外光谱数据异常点校正方法，解决便携式近红外光谱仪采集获取的光谱数据容易失真，准确性较差，进而影响其光谱预测分析能力的问题。本发明专利技术首先利用便携式近红外光谱仪分别采集待测样品及标准板光谱数据；然后结合标准板反射率与其光谱数据获取标准板反射率

【技术实现步骤摘要】
一种近红外光谱数据异常点校正方法


[0001]本专利技术涉及近红外光谱数据校正技术，具体涉及一种近红外光谱数据异常点校正方法。

技术介绍

[0002]近年来，近红外光谱分析技术发展十分迅速，已在化工，制药，军工，食品等多个领域都获得了广泛应用。近红外光谱技术属于分子光谱技术，可以在分子水平上表明物质成分和性质信息，不论是对经济还是从社会影响来说，都取得了非常高的效益，极具发展潜力。
[0003]伴随着便携式近红外光谱技术的发展，市场主流的大型近红外光谱仪设备都朝着体积小巧，价格低廉的便携式方向发展。但是便携式近红外光谱仪易于受光源、检测器、使用方法、环境条件等影响，其采集获取的光谱数据极易失真，准确性较差，进而影响其光谱预测分析能力。
[0004]因此，如何能提供一种有效的方法来对便携式近红外光谱数据进行校正而使得光谱传感器采集获得的光谱数据有良好的预测分析能力成为了一个亟待解决的问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术所要解决的技术问题是：提出一种近红外光谱数据异常点校正方法，解决便携式近红外光谱仪采集获取本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种近红外光谱数据异常点校正方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、利用便携式近红外光谱仪分别采集待测样品及标准板光谱数据；S2、结合标准板反射率与其光谱数据获取标准板反射率
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光谱数据对照表；S3、结合光谱数据合理偏差值获取标准板反射率
‑
光谱阈值对照表；S4、结合待测样品反射率与标准板反射率之间的关系获取样品反射率
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光谱阈值对照表；S5、结合样品反射率
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光谱阈值对照表判断待测样品光谱数据是否异常，并对异常光谱数据进行异常点校正。2.如权利要求1所述的近红外光谱数据异常点校正方法，其特征在于，步骤S1中，采用波长均分式便携近红外光谱仪分别对待测样品和标准板的光谱数据进行采集，其波长范围为1760nm～2150nm，分辨率为10nm，则每条光谱数据包含40个光强值点，每条光谱数据实际表示为40个波长点上光强值的矩阵集合。3.如权利要求2所述的近红外光谱数据异常点校正方法，其特征在于，步骤S1中，在采集过程中，针对每一个待测样品对应采集5条光谱数据，并将5条光谱数据做均值运算，均值后的数据作为为该样品的实际光谱数据。4.如权利要求2所述的近红外光谱数据异常点校正方法，其特征在于，步骤S2中，所述结合标准板反射率与其光谱数据获取标准板反射率
‑
光谱数据对照表，具体包括：假设标准板的反射率为α，通过近红外光谱仪采集获得的标准板光谱数据为(P1，P2……
，P
40
)，则生成标准板反射率
‑
光谱数据对照表α～～(P1，P2……
，P
40
)。5.如权利要求4所述的近红外光谱数据异常点校正方法，其特征在于，步骤S3中，所述结合光谱数据合理偏差值获取标准板反射率
‑
光谱阈值对照表，具体包括：假设便携式近红外光谱数据的合理偏差为x％，则标准板光谱数据上限阈值为[(1+x％)*P1，(1+x％)*P2……
，(1+x％)*P
40
]，标准板光谱数据下限阈值为[(1
‑
x％)*P1，(1
‑
x％)*P2……
，(1
‑
x％)*P
40
]，通过将标准板反射率与阈值表进行对应，获取标准板反射率
‑
光谱阈值对照表。6.如权利要求5所述的近红外光谱数据异常点校正方法，其特征在于，步骤S4中，所述结合待测样品反射率与标准板反射率之间的关系获取样品反射率
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【专利技术属性】
技术研发人员：刘浩，闫晓剑，贾利红，张国宏，
申请(专利权)人：四川启睿克科技有限公司，
类型：发明
国别省市：