一种CT探测装置及其温度控制方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种CT探测装置及其温度控制方法，该探测装置包括基座、设置于所述基座上的控制模块和多个探测模块，每个探测模块包括：金属支架，该金属支架固定于所述基座；闪烁体以及与所述闪烁体连接的转换单元，所述闪烁体与所述转换单元相对设置于所述金属支架的同一表面，所述闪烁体暴露于所述基座外，用于接收X射线，所述转换单元用于对X射线进行处理；闭环加热单元，该闭环加热单元设置于所述金属支架背离所述闪烁体的表面，与所述控制模块电连接，用于当所述转换单元的自发热量无法维持所述闪烁体处于预设工作温度时，调节所述闪烁体的当前温度，使其维持在预设工作温度。本发明专利技术提供的探测装置能够维持所述闪烁体的预设工作温度，提高扫描图像质量。提高扫描图像质量。提高扫描图像质量。

【技术实现步骤摘要】
一种CT探测装置及其温度控制方法


[0001]本专利技术涉及医学成像
，具体而言，涉及一种CT探测装置及其温度控制方法。

技术介绍

[0002]X射线CT是X射线断层扫描技术的简称，通过对CT数据进行重建得到被扫描物体的断层图像，通过对断层图像中的特征数据进行分析，实现对被扫描物体中危险物品的识别。
[0003]CT机中核心部件是探测器，探测器主要由光栅、闪烁体、光电传感单元、AD转换器等部件组成，这些部件的一些重要特性受温度影响敏感；其中，闪烁体需要在相对稳定的温度下进行工作，对温度变化十分敏感，这时就需要对闪烁体及其周围的环境进行温度控制。CT探测器内不同闪烁体的温度分布不均会导致不同探测器模块的响应不一致，从而导致CT探测器异常，影响图像质量。
[0004]目前，针对探测器的温控策略是通过对探测器周围空气温度进行调节，从而实现对探测器的温度控制。然而，在外部环境温度稳定情况下，用这种调节方式控制温度稳定在温差为
±
2℃以内已经是极限，且对闪烁体的材料温度特性要求比较高；一旦外部环境温度发生较大变化，需要较长时间才能将探测器温度调节至工作温度，达到稳态。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种CT探测装置及其温度控制方法，能够解决上述提到的至少一个技术问题。具体方案如下：
[0006]根据本专利技术的具体实施方式，第一方面，本专利技术提供一种CT探测装置，包括基座、设置于所述基座上的控制模块和多个探测模块，每个探测模块包括：
[0007]金属支架，该金属支架固定于所述基座；
[0008]闪烁体以及与所述闪烁体连接的转换单元，所述闪烁体与所述转换单元相对设置于所述金属支架的同一表面，所述闪烁体暴露于所述基座外，用于接收X射线，所述转换单元用于对X射线进行处理；
[0009]闭环加热单元，该闭环加热单元设置于所述金属支架背离所述闪烁体的表面，与所述控制模块电连接，用于当所述转换单元的自发热量无法维持所述闪烁体处于预设工作温度时，调节所述闪烁体的当前温度，使其维持在预设工作温度。
[0010]可选的，所述闭环加热单元包括加热电阻和温度传感器，所述加热电阻和温度传感器均设置于所述金属支架背离所述闪烁体的表面，且分别与所述控制模块电连接；其中，所述温度传感器用于采集所述金属支架表面实时温度；所述控制模块根据所述金属支架表面实时温度控制所述加热电阻产生热量，该热量通过所述金属支架传输给所述闪烁体。
[0011]可选的，所述加热电阻为薄膜热电阻，该薄膜热电阻粘贴于所述金属支架表面。
[0012]可选的，所述控制模块包括脉冲宽度变调电路，该脉冲宽度变调电路用于控制所述加热电阻的功率，产生不同的热量。
[0013]可选的，所述控制模块还包括处理单元，该处理单元用于接收所述温度传感器采集的金属支架表面实时温度，并根据所述金属支架表面实时温度得到所述闪烁体的当前温度。
[0014]可选的，所述闪烁体的温度随着所述金属支架表面实时温度的变化而呈线性变化。
[0015]可选的，所述金属支架为片状结构，用于将所述转换单元的自发热量及闭环加热单元产生的热量传输给所述闪烁体。
[0016]可选的，所述闪烁体处于平衡态时实时温差在
±
0.5℃以内。
[0017]根据本专利技术的具体实施方式，第二方面，本专利技术提供一种如上任一所述CT探测装置的温度控制方法，包括：当转换单元产生的自发热量使闪烁体达到预设工作温度后，实时采集金属支架表面温度；若所述金属支架表面温度低于所述预设工作温度，则控制闭环加热单元工作，并将产生的热量通过所述金属支架传输给所述闪烁体；当所述闪烁体的实时温度达到所述预设工作温度时，控制所述闭环加热单元停止工作，此时所述转换单元将自发热量传输给所述闪烁体，使其维持在预设工作温度。
[0018]可选的，所述方法还包括：在所述转换单元产生自发热量的过程中，控制所述闭环加热单元工作，将产生的热量传输给所述转换单元，直到所述转换单元的自发热量达到所述闪烁体的预设工作温度，此时所述闭环加热单元停止工作。
[0019]本专利技术实施例的上述方案与现有技术相比，至少具有以下有益效果：
[0020]第一，本专利技术通过分布式控制闪烁体温度，使其维持在预设工作温度，能够提升扫描图像质量；
[0021]第二，将探测装置处于稳态时实时温差控制在
±
0.5℃，极大降低了对闪烁体温度特性的要求，对主流闪烁体材料的纯度和加工工艺可以大幅度放宽，在保证图像质量的同时，降低了闪烁体的成本；
[0022]第三，该CT探测装置充分利用了转换单元自热的能量，降低了能源的损耗。
附图说明
[0023]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本专利技术的实施例，并与说明书一起用于解释本专利技术的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：
[0024]图1示出了本专利技术实施例提供的一种CT探测装置的结构示意图；
[0025]图2示出了图1所示CT探测装置的主视图；
[0026]图3示出了图1所示CT探测装置的俯视图；
[0027]图4示出了图1所示CT探测装置中闭环加热单元的工作原理示意图；
[0028]图5示出了本专利技术另一实施例提供的一种CT探测装置温度控制方法流程图。
具体实施方式
[0029]为了使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施
例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0030]在本专利技术实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本专利技术。在本专利技术实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义，“多种”一般包含至少两种。
[0031]应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
[0032]应当理解，尽管在本专利技术实施例中可能采用术语第一、第二、第三等来描述，但不应限于这些术语。
[0033]还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的商品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种商品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括所述要素本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种CT探测装置，其特征在于，包括基座、设置于所述基座上的控制模块和多个探测模块，每个探测模块包括：金属支架，该金属支架固定于所述基座；闪烁体以及与所述闪烁体连接的转换单元，所述闪烁体与所述转换单元相对设置于所述金属支架的同一表面，所述闪烁体暴露于所述基座外，用于接收X射线，所述转换单元用于对X射线进行处理；闭环加热单元，该闭环加热单元设置于所述金属支架背离所述闪烁体的表面，与所述控制模块电连接，用于当所述转换单元的自发热量无法维持所述闪烁体处于预设工作温度时，调节所述闪烁体的当前温度，使其维持在预设工作温度。2.根据权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述闭环加热单元包括加热电阻和温度传感器，所述加热电阻和温度传感器均设置于所述金属支架背离所述闪烁体的表面，且分别与所述控制模块电连接；其中，所述温度传感器用于采集所述金属支架表面实时温度；所述控制模块根据所述金属支架表面实时温度控制所述加热电阻产生热量，该热量通过所述金属支架传输给所述闪烁体。3.根据权利要求2所述的探测装置，其特征在于，所述加热电阻为薄膜热电阻，该薄膜热电阻粘贴于所述金属支架表面。4.根据权利要求2所述的探测装置，其特征在于，所述控制模块包括脉冲宽度变调电路，该脉冲宽度变调电路用于控制所述加热电阻的功率，产生热量。5.根据权利要求2所述的探测装置，其特征在于，所述控制模块还包...

【专利技术属性】
技术研发人员：王子奇，
申请(专利权)人：苏州晟诺医疗科技有限公司，
类型：发明
国别省市：