显示屏显示缺陷检测方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及显示技术领域，公开了一种显示屏显示缺陷检测方法及装置。其中，显示屏显示缺陷检测方法，包括：获取采样图像，采样图像为拍摄显示有样本图像的显示屏得到的图像；获取采样图像中的各个像素点；对各个像素点分别进行亮度除杂处理，得到目标图像；对目标图像进行缺陷检测以获取目标图像中的缺陷位置；其中，亮度除杂处理包括：计算像素点处的环境光亮度值，环境光亮度值为显示屏以外的环境光在像素点处的亮度值，根据环境光亮度值对像素点的亮度进行亮度补偿。与现有技术相比，本发明专利技术实施方式所提供的显示屏显示缺陷检测方法及装置具有提升显示屏缺陷检测的准确度的优点。装置具有提升显示屏缺陷检测的准确度的优点。装置具有提升显示屏缺陷检测的准确度的优点。

【技术实现步骤摘要】
显示屏显示缺陷检测方法及装置


[0001]本专利技术涉及显示
，特别涉及一种显示屏显示缺陷检测方法及装置。

技术介绍

[0002]显示屏生产过程中由于材料、工艺、结构等原因，会有部分产品出现画面显示亮度不均的现象；这种亮度不均的斑点痕迹会给视觉上带来不舒适感，留有这种Mura痕迹的产品无法达到终端客户的规格要求。例如折叠显示屏中因弯折区折痕存在，膜层与胶层不平，会对人眼产生视觉冲击引起弯折区Mura缺陷。针对显示屏亮度显示不均的mura缺陷，现有技术中通过外部补偿系统将存在Mura不良的显示屏通过子像素级光学成像技术和软件算法消除Mura纹，使得显示屏的显示质量达到面板厂出货规格要求，提高显示屏量产的良率，而对mura区域进行亮度补偿的前提是准确的对显示屏的mura区域进行检测。
[0003]然而，本专利技术的专利技术人发现，现有技术中的显示屏显示缺陷检测方法的缺陷检测效果较差，对mura区域的检测结果不准确，导致亮度补偿后的显示结果较差。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施方式的目的在于提供一种显示屏显示缺本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示屏显示缺陷检测方法，用于对显示有样本图像的显示屏进行检测，其特征在于，包括：获取采样图像，所述采样图像为拍摄所述显示有样本图像的显示屏得到的图像；获取所述采样图像中的各个像素点；对各个所述像素点分别进行亮度除杂处理，得到目标图像；对所述目标图像进行缺陷检测以获取所述目标图像中的缺陷位置；其中，所述亮度除杂处理包括：计算所述像素点处的环境光亮度值，所述环境光亮度值为所述显示屏以外的环境光在所述像素点处的亮度值，根据所述环境光亮度值对所述像素点的亮度进行亮度补偿。2.根据权利要求1所述的显示屏显示缺陷检测方法，其特征在于，所述计算所述像素点处的环境光亮度值，具体包括：获取所述像素点周围预设范围内的其它像素点、得到多个目标像素点；计算至少部分所述目标像素点的亮度平均值作为所述像素点处的环境光亮度值。3.根据权利要求2所述的显示屏显示缺陷检测方法，其特征在于，所述计算至少部分所述目标像素点的亮度平均值，具体包括：将所述目标像素点按照亮度自高向低进行排序；计算排序位于前N位的所述目标像素点的亮度平均值作为所述环境光亮度值，N为大于1的正整数。4.根据权利要求3所述的显示屏显示缺陷检测方法，其特征在于，所述计算排序位于前N位的所述目标像素点的亮度平均值前，还包括：排除排序位于第一位的所述目标像素点；对剩余的各个所述目标像素点按照亮度自高向低重新进行排序。5.根据权利要求2所述的显示屏显示缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述环境光亮度值对所述像素点的亮度进行亮度补偿，具体包括：获取所述像素点在所述采样图像中的亮度作为像素亮度值；判断所述像素点对应的环境光亮度值是否大于其对应的像素亮度值；若否，输出补偿亮度值为255；若是，输出补偿亮度值为255
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(A
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B)，其中，A为所述背景亮度值，B为所述像素亮度值；将所述像素...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏灵艳，周军，
申请(专利权)人：合肥维信诺科技有限公司，
类型：发明
国别省市：