确定探针的核磁共振弛豫时间和/或核磁共振谱的技术制造技术

技术编号:33080280 阅读:28 留言:0更新日期:2022-04-15 10:32
本发明专利技术涉及一种确定探针(P)的核磁共振弛豫时间的方法。该方法包括:第一步骤(S1),通过向探针(P)施加纵向静态磁场(B0)使第一原子核(H)和第二原子核(N)极化;第二步骤(S2),通过辐照交换序列(SWAP)的横向磁场脉冲,交换第一原子核(H)和第二原子核(N)的极化;第三步骤(S3),通过辐照至少一个激励脉冲(EXC)横向磁化第二原子核(N),并测量第二原子核(N)产生的磁化信号(FID);以及第四步骤(S4),根据第二原子核(N)的测量的磁化信号(FID),确定第二原子核(N)的核磁共振弛豫时间。核(N)的核磁共振弛豫时间。核(N)的核磁共振弛豫时间。

【技术实现步骤摘要】
确定探针的核磁共振弛豫时间和/或核磁共振谱的技术


[0001]本专利技术涉及一种用于确定探针的核磁共振弛豫时间和探针的核磁共振谱中的至少一者的方法、装置、计算机程序、和数据载体,其中,探针包括具有第一旋磁比的第一原子核和具有第二旋磁比的第二原子核,并且第一旋磁比大于第二旋磁比。

技术介绍

[0002]核磁共振(NMR)光谱是物理、化学、和生物学中研究物质的电子性质的最基本的光谱技术之一。例如,NMR弛豫测定法的应用领域可能涉及石油工业中的多孔介质的研究、固体脂肪和籽油的结构分析、或磁共振成像(MRI)中的造影剂的测试。进一步的应用涉及聚合物的物理和化学性质的研究,例如,确定它们的电子密度、结晶度、聚合度、或增塑剂和其他添加剂的比例。
[0003]在NMR光谱中,向探针施加强静态纵向磁场,并且在使用特定序列的横向磁场激励脉冲激励探针后测量探针的磁响应信号。然而,当以小旋磁比激励探针的原子核时,检测到的磁响应信号的强度可能相当弱。在这种情况下,可能需要执行多个激励和测量序列,以确保可接受的信噪比。通常,在两个这样的序列之间,需要等待直到探针本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种确定探针(P)的核磁共振弛豫时间和/或探针(P)的核磁共振谱的方法,其中,所述探针(P)包括具有第一旋磁比的第一原子核(H)和具有第二旋磁比的第二原子核(N),并且所述第一旋磁比大于所述第二旋磁比,所述方法包括以下步骤:第一步骤(S1),通过向所述探针(P)施加纵向静态磁场B0,极化所述第一原子核(H)和所述第二原子核(N);第二步骤(S2),通过辐照至少一个交换序列(SWAP)的横向磁场脉冲,交换所述第一原子核(H)和所述第二原子核(N)的极化;第三步骤(S3),通过辐照至少一个激励脉冲(EXC)横向磁化所述第二原子核(N)并测量产生的磁化信号(FID);第四步骤(S4),根据所测量的磁化信号(FID)确定所述核磁共振弛豫时间和/或所述核磁共振谱。2.根据前述权利要求所述的方法,其特征在于,在所述第二步骤(S2)中通过辐照所述至少一个交换序列(SWAP)的横向磁场脉冲,所述第一原子核(H)的核自旋和所述第二原子核(N)的核自旋在执行所述第二步骤(S2)之后并在执行所述第三步骤(S3)之前,立即在所述纵向静态磁场B0的方向中重新对齐。3.根据前述任一项权利要求所述的方法,其特征在于,所述第二步骤(S2)中的辐照所述至少一个交换序列(SWAP)的横向磁场脉冲包括辐照第一序列(SEQ1)的横向磁场脉冲以激励所述第一原子核(H),并辐照第二序列(SEQ2)的横向磁场脉冲以激励所述第二原子核(N),其中,所述第一序列(SEQ1)的横向磁场脉冲的脉冲频率对应于所述第一原子核(H)在所述纵向静态磁场B0中的拉莫尔频率,并且所述第二序列(SEQ2)的横向磁场脉冲的脉冲频率对应于所述第二原子核(N)在所述纵向静态磁场B0中的拉莫尔频率。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,同时且同步地辐照所述第一序列(SEQ1)的横向磁场脉冲和所述第二序列(SEQ2)的横向磁场脉冲,和/或所述第一序列(SEQ1)的横向磁场脉冲的时间长度与所述第二序列(SEQ2)的横向磁场脉冲的时间长度相同。5.根据权利要求3或4所述的方法,其特征在于,所述第一序列(SEQ1)的每个横向磁场脉冲在脉冲中心定时、磁场脉冲旋转角度和/或磁场脉冲振荡方向方面对应于所述第二序列(SEQ2)的横向磁场脉冲。6.根据前述任一项权利要求所述的方法,其特征在于,所述第二步骤(S2)中的辐照所述至少一个交换序列(SWAP)的横向磁场脉冲、辐照所述第一序列(SEQ1)的横向磁场脉冲和/或辐照所述第二序列(SEQ2)的横向磁场脉冲包括:辐照第一横向磁场脉冲(P1),其中,所述第一横向磁场脉冲(P1)为(π
x
/2)脉冲;在辐照所述第一横向磁场脉冲(P1)之后,以预定的时间延迟t
D
辐照第二横向磁场脉冲(P2),其中,所述第二横向磁场脉冲(P2)是π
x
脉冲;在辐照所述第二横向磁场脉冲(P2)之后,以所述预定的时间延迟t
D
辐照第三横向磁场脉冲(P3),其中,所述第三横向磁场脉冲(P3)是π
x
脉冲;在辐照所述第三横向磁场脉冲(P3)之后,立即无时间延迟地辐照第四横向磁场脉冲(P4),其中,所述第四横向磁场脉冲(P4)是(π

x
/2)脉冲;在辐照所述第四横向磁场脉冲(P4)之后,立即无时间延迟地辐照第五横向磁场脉冲(P5),其中,所述第五横向磁场脉冲(P5)是(π
y
/2)脉冲;
在辐照所述第五横向磁场脉冲(P5)之后,以所述预定的时间延迟t
D
辐照第六横向磁场脉冲(P6),其中,所述第六横向磁场脉冲(P6)是π
x
脉冲;以及在辐照所述第六横向磁场脉冲(P6)之后,以所述预定的时间延迟t
D
辐照第七横向磁场脉冲(P7),其中,所述第七横向磁场脉冲(P7)是(π

y
/2)脉冲。7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述预定的时间延迟为t
D
=1/(4J
HN
),其中,J
...

【专利技术属性】
技术研发人员:A
申请(专利权)人:特拉量子股份公司
类型:发明
国别省市:

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