一种激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及检测设备技术领域，具体涉及一种激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置，包括激光头，所述激光头设置在被测透明物质的正上方，所述被测透明物质的下侧放置有漫反射板；还包括光学系统，所述光学系统上方设置有探测器。本实用新型专利技术具有的有益效果是：将激光传感器安装在被测透明物质的正上方，漫反射板置于透明物质的底部，激光传感器发射激光并垂直透射被测透明物质，透射光在漫反射板表面发射，其中一路发射光在透明物质上表面发生折射，折射光在探测器上形成光斑，折射光斑位置与透明物质厚度相关，激光传感器通过测量折射光斑位置间接测量被测透明物质厚度；该种方法为非接触式测量，精度可达微米级。精度可达微米级。精度可达微米级。

【技术实现步骤摘要】
一种激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置


[0001]本技术涉及检测设备
，具体涉及一种激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置。

技术介绍

[0002]目前测量透明物质厚度的方法，主要有利用电容法、超声波反射和激光反射。
[0003]电容法检测电容极板间的透明物质厚度对介电常数的影响，通过测量电容大小确定透明物质厚度，因介电常数只能针对特定透明物质；超声波测量发射超声波和反射超声波时间差来确定超声波探头与透明物质表面的距离变化来测量透明物质厚度，测量精度低；激光反射法通过检测液面发射激光与反射激光相位差变化测量液面高度的变化，精度高，但是结构复杂。

技术实现思路

[0004]针对问题，本技术提供了一种激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置，包括激光头，所述激光头设置在被测透明物质的正上方，所述被测透明物质的下侧放置有漫反射板；还包括光学系统，所述光学系统上方设置有探测器。
[0005]作为本技术的再进一步技术方案是：所述漫反射板与被测透明物质的下表面相贴合。
[0006]作为本技术的再进一步技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置，其特征在于，包括激光头(1)，所述激光头(1)设置在被测透明物质的正上方，所述被测透明物质的下侧放置有漫反射板(4)；还包括光学系统(3)，所述光学系统(3)上方设置有探测器(2)。2.根据权利要求1所述的激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置，其特征在于，所述漫反射板(4)与被测透明物质的下表面相贴合。3.根据权利要求1所述的激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置，其特征在于，所述激光头(1)的水平高度与所述光学系统(3)的水平高度相等。4.根据权利要求3所述的激光传感器折射原理测量透明物质厚度的装置，其特征在于，所述激光头(1)与光学系统(3)位于漫反射板(4)上方的距离为H，激光头(1)与光学系统(3)中心水平的水平距离为B，探测器(2)位于光学系统(3)上方的距离为f。5.根据权利要求1所述的激光传感器折射...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢俊辉，史丽娟，郑茗侨，余小飞，
申请(专利权)人：江汉大学，
类型：新型
国别省市：