一种三同轴法电缆屏蔽效能测试系统的低频圆筒测试工装技术方案

本发明专利技术提供一种三同轴法电缆屏蔽效能测试系统的低频圆筒测试工装，该三同轴电缆屏蔽效能测试系统包括矢量网络分析仪以及低频圆筒测试工装。所述低频圆筒测试工装包括外回路近端短路结构、屏蔽帽结构及金属筒体结构，其中，所述外回路近端短路结构包括端盖、短路夹片、夹头座二、弹性夹头二、夹头螺帽二；所述屏蔽帽结构包括内回路远端屏蔽盒、外回路远端组件、支撑组件以及连接器。支撑组件以及连接器。支撑组件以及连接器。

【技术实现步骤摘要】
一种三同轴法电缆屏蔽效能测试系统的低频圆筒测试工装


[0001]本专利技术属于电气测量技术及仪器领域，尤其是一种三同轴法电缆屏蔽效能测试系统的低频圆筒测试工装。

技术介绍

[0002]国内存在分布于电动汽车、航天航空、船舶等领域涉及电缆屏蔽效能评估的研究专利，鲜有针对射频同轴电缆屏蔽效能基于三同轴法的高频段测试系统，在轨道交通的高压屏蔽电缆领域也处于空白区。
[0003]实际应用中，用户经常需要了解电缆的屏蔽效能以便使用和设计。由于屏蔽电缆的屏蔽层结构多种多样，且电缆屏蔽效能在理论上仅能做出理想化的分析。如果能针对不同规格屏蔽电缆通过测试直接获取电缆屏蔽效能，会使得在工程评定、比较、设计和使用屏蔽电缆时提供准确的考察依据。
[0004]电缆屏蔽效能测试方法和系统基本都是在IEC标准方法的基础上进行微改甚至不改动，且改动位置多集中于输入输出接口，测试设备输入输出接口的特点的改进方案较多，但操作灵活性、结构简洁的现有技术方案较为少见。
[0005]电缆屏蔽效能解析算法的相关研究目前只有湖南大学涉及，且是在国外keyli学者的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种三同轴法电缆屏蔽效能测试系统的低频圆筒测试工装，其特征在于，包括外回路近端短路结构、屏蔽帽结构及金属筒体结构，其中，所述外回路近端短路结构包括端盖、短路夹片、夹头座二、弹性夹头二、夹头螺帽二；所述屏蔽帽结构包括内回路远端屏蔽盒、外回路远端组件、支撑组件以及连接器；其中，所述端盖设置在所述金属筒体的一侧，所述短路夹片设置在所述端盖内侧，所述夹头座二同轴地设置在所述短路夹片上，所述夹头螺帽二设置在所述夹头座二上，所述夹头座二和所述夹头螺帽二之间设置有弹性夹头二；所述外回路远端组件设置在所述金属筒体另一侧，所述内回路远端屏蔽盒和支撑组件设置在外回路远端组件内，所述支撑组件用于固定所述内回路远端屏蔽盒于外回路远端组件内；其中，所述短路夹片用于夹持并固定被测电缆的一端，并与所述被测电缆的屏蔽层相接触；所述内回路远端屏蔽盒夹持并固定所述被测电缆另一端。2.根据权利要求1所述的三同轴法电缆屏蔽效能测试系统的低频圆筒测试工装，其特征在于，所述内回路远端屏蔽盒，包括，夹头螺帽一、弹性夹头一、夹头座一、连接板、电器接头插针；所述夹头座一与所述连接板相连接；所述弹性夹头一设置在所述夹头座内，用于夹紧所述被测电缆另一端；所述夹头螺帽一和所述夹头座一连接，并压紧所述弹性夹头一；所述连接板和所述电器接头插针一端相连接。3.根据权利要求1所述的三同轴法电缆屏蔽效能测试系统的低频圆筒测试工装，其特征在于，所述外回路远端组件，包括，卡箍端盖，所述卡箍端盖设置在所述金属筒体外。4.根据权利要求3所述的三同轴法电缆屏蔽效能测试系统的低频圆筒测试工装，其特征在于，所述支撑组件，包括，绝缘连接板、电器接头插针绝缘套；所述绝缘连接板的一端和所述连接板相连，所述绝缘连接板的另一端同所述卡箍端盖相连；所述电器接头插针绝缘套设置在所述卡箍端盖顶部；所述电器接头插针穿过所述电器接头插针绝缘套。5.根据权利要求2所述的三同轴法电缆屏蔽效能测试系统的低频圆筒测试工装，其特征在于，所述弹性...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵大勇，杨润泽，
申请(专利权)人：上海凌世电磁技术有限公司，
类型：发明
国别省市：