【技术实现步骤摘要】
电容式触摸按键检测电路及其检测方法
[0001]本专利技术涉及按键检测,更具体地说是一种电容式触摸按键检测电路及其检测方法。
技术介绍
[0002]目前市面上的触摸按键检测方案大体分为两大类,一种是集成度高的电容式触摸按键检测芯片,具有体积小,集成度高,检测精准等优点,缺点是应用场合不灵活,无法随意匹配按键数量,以及应用成本比较高;另外一种是分立检测方案,可分为电阻式检测方案和电容式检测方案,而市面上大多使用的是电容式检测方案,该检测方案通过振荡器,电容,电阻,比较器,单片机等分立器件组合而成的检测电路,但由于器件较多,体积比较庞大,并不适合空间要求比较高的应用场合,而且振荡频率固定,检测精度低,很难统一适用于多种场合;
技术实现思路
[0003]本专利技术的目的在于克服现有技术的不足,提供电容式触摸按键检测电路及其检测方法。
[0004]为实现上述目的,本专利技术采用以下技术方案:
[0005]第一方面,电容式触摸按键检测电路,包括:
[0006]一阶充放电单元;
[0007 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.电容式触摸按键检测电路,其特征在于,包括:一阶充放电单元;二阶充放电单元;滤波单元;由弹簧按键构成的按键电容,连接于一阶充放电单元和二阶充放电单元之间;其中,输入的信号通过所述一阶充放电单元对所述按键电容进行充放电,进行所述一阶充放电单元处理后的振荡信号通过所述二阶充放电单元进行充放电,再经所述滤波单元滤波后形成稳定的电压信号。2.根据权利要求1所述的电容式触摸按键检测电路,其特征在于,所述一阶充放电单元和所述二阶充放电单元的充放电频率不同。3.根据权利要求2所述的电容式触摸按键检测电路,其特征在于,所述一阶充放电单元的充放电频率高于所述二阶充放电单元的充放电频率。4.根据权利要求1所述的电容式触摸按键检测电路,其特征在于,所述一阶充放电单元包括电阻R42和三极管Q3,所述电阻R42的一端与输入信号端连接,电阻R42的另一端与三极管Q3的第三引脚和按键电容连接,所述三极管Q3的第二引脚与电阻R42的一端和输入信号端连接。5.根据权利要求4所述的电容式触摸按键检测电路,其特征在于,所述二阶充放电单元包括电阻R41,所述电阻R41的一端与所述三极管Q3的第三引脚和按键电容连接,电阻R41的另一端与所述滤波单元连接,所述三极管Q3的第一引脚与滤波单元连接。6.根据权利要求5所述的电容式触摸按键检测电路,其特征在于,所述滤波单元包括电阻R47和电容C19,所述电阻R47的一端与所述三极管Q3的第一引脚和电阻R41的另一端连接,所述电阻R47的另一端与信号输出端和电容C19的一端连接...
【专利技术属性】
技术研发人员:吕煜荣,李立坤,黄旺辉,
申请(专利权)人:深圳市朗科智能电气股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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