信号发生装置、芯片的可靠性测试系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种信号发生装置、芯片的可靠性测试系统，该信号发生装置包括控制器、第一电路选择器和第一连接器，控制器用于基于触发信号生成第一控制指令，根据第一控制指令控制第一电路选择器的工作状态以输出对应的控制信号至第一连接器，第一连接器用于输出控制信号，以对可靠性测试板上不同的负载进行切换控制。本发明专利技术提出一种芯片可靠性测试中外挂可控负载的可编程的信号发生装置S，克服了传统的芯片可靠性测试中固定负载单一及数据信号可选电压较少，不能满足需要切换不同工作负载或需要两种以上老化信号电压的HTOL以及Bhast测试的缺陷，大大地提高了芯片可靠性实验效率及测试覆盖率，保证了芯片可靠性测试的测试精度。度。度。

【技术实现步骤摘要】
信号发生装置、芯片的可靠性测试系统


[0001]本专利技术涉及芯片测试
，特别涉及一种信号发生装置、芯片的可靠性测试系统。

技术介绍

[0002]HTOL(高温老化寿命试验)以及Bhast(偏压温湿度应力试验)是IC(芯片)的可靠性测试中非常重要的实验，需要让芯片在过电压条件下工作于高温/高湿腔体内一段时间，再根据电压/温度加速模型估算出芯片在常温/常压下的工作寿命。
[0003]目前，需要上电的可靠性测试实验中一般在测试板上固定负载，其规格在进入实验腔体后无法切换。但在一些需要切换负载的应用场景，如无法带载启动的模拟电路，必须在芯片开机后，由轻载转为重载才能正常工作，若要满足这个要求，就需要在芯片与测试板放入腔体，执行开机操作后，再将固定负载通过跳线方式连接，这样势必是需要逐个芯片带电操作，具有危险性且测试效率很低。另外，主流的HTOL测试机台仅支持最高10M两种不同电压的控制信号，随着芯片上IP数量增加，老化实验也需要更多不同的信号电压，大部分厂商会将电压接近的控制信号合并为一种电压，然而这样的方式很有可能会导致芯片的功能失常本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种信号发生装置，其特征在于，所述信号发生装置包括依次通信连接的控制器、第一电路选择器和第一连接器，所述第一连接器与芯片的可靠性测试板的信号控制端电连接；所述控制器用于基于触发信号生成第一控制指令，根据所述第一控制指令控制所述第一电路选择器的工作状态以输出对应的控制信号至所述第一连接器，所述第一连接器用于输出所述控制信号；其中，不同的所述触发信号对应不同的所述控制信号，不同的所述控制信号用于对所述可靠性测试板上不同的负载进行切换控制。2.如权利要求1所述的信号发生装置，其特征在于，所述控制器用于建立不同的工作模式与对应的触发信号、负载之间的映射关系；所述控制器还用于读取所述信号发生装置的当前工作模式，并根据所述映射关系得到与所述当前工作模式相匹配的所述触发信号。3.如权利要求1所述的信号发生装置，其特征在于，所述第一电路选择器包括若干组电路选择单元，每组所述电路选择单元包括依次电连接的第一电平转换单元和第一开关单元；所述控制器用于基于根据所述第一控制指令控制一部分的所述电路选择单元中的所述第一开关单元的闭合，剩余的所述电路选择单元中的所述第一开关单元断开，以向所述第一连接器输出所述控制信号。4.如权利要求3所述的信号发生装置，其特征在于，所述信号发生装置包括依次电连接的信号输入端和第二电平转换单元，所述信号输入端与所述芯片电连接，所述第二电平转换单元与所述控制器电连接；所述信号输入端用于接收所述芯片传输的所述触发信号并发送至所述第二电平转换单元；所述第二电平转换单元用于对所述触发信号通过进行信号转换处理，以将转换处理后的所述触发信号发送至所述控制器。5.如权利要求4所述的信号发生装置，其特征在于，所述信号发生装置包括依次通信连接的电流采样单元、第二电路选择器和第二连接器，所述第二连接器与所述可靠性测试板的电源输入端电连接，所述电流采样单元和所述第二电路选择器均与所述控制器电连接；所述控制器用于基于所述触发信号生成第二控制指令，根据所述第二控制指令控制所述第二电路选择器的工作状态，并将对应的电压信号发送至所述第二连接器，所述第二连接器用于输出所述电压信号。6.如权利要求5所述的信号发生装置，其特征在于，所述第二电路选择器包括第三电平转换单元和若干个第二开关单元，所述第三电平转换单元分别与所述控制器和所述第二开关单元电连接；所述控制器用于将...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕进阁，曹磊，巩冬梅，贺延聪，
申请(专利权)人：展讯通信上海有限公司，
类型：发明
国别省市：