块存储性能测试方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种块存储性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，涉及存储系统领域。方法包括：分别对测试场景的不同构建参数进行多次取值，以生成多个测试场景；基于所述不同的测试场景对预设测试模板进行修改，分别生成所述不同的测试场景对应的测试文件，所述预设测试模板为测试工具对块存储性能测试所需的测试模板文件；基于所述不同的测试场景对应的测试文件对块存储性能进行测试，以获取性能测试结果。通过简化测试场景配置和测试文件配置的过程，从而减少配置测试场景和测试文件所需时间，提高配置效率，进而可以提高对块存储进行不同场景测试的效率。不同场景测试的效率。不同场景测试的效率。

【技术实现步骤摘要】
块存储性能测试方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及存储系统领域，具体地，涉及一种块存储性能测试方法、一种块存储性能测试装置、一种电子设备及一种存储介质。

技术介绍

[0002]块存储是存储系统向外提供的一种存储服务，在存储系统的研发过程中，通常需要对块存储进行测试，以便于全面了解块存储的性能。
[0003]在块存储的测试过程中，经常需对不同场景下的块存储的性能进行测试，且测试频繁，所需测试的场景众多。然而，现有的性能测试工具，需人为配置测试场景，并根据测试场景，配置对应不同测试场景的测试脚本，以使性能测试工具基于测试脚本对块存储的性能进行测试，由于配置测试文件步骤繁琐，测试频繁与测试场景众多，从而导致人为配置测试场景与测试脚本的工作量大，配置效率低，进而使得测试效率低。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术旨在提供一种块存储性能测试方法、块存储性能测试装置、电子设备及计算机可读存储介质，用于改善现有技术中，进行不同测试场景配置与测试文件配置效率低的问题，以提高对块存储性能进行测试的效率。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种块存储性能测试方法，其特征在于，应用于电子设备，包括：分别对测试场景的不同构建参数进行多次取值，以生成多个测试场景；基于所述不同的测试场景对预设测试模板进行修改，分别生成所述不同的测试场景对应的测试文件，所述预设测试模板为测试工具对块存储性能测试所需的测试模板文件；基于所述不同的测试场景对应的测试文件对块存储性能进行测试，以获取性能测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别对测试场景的不同构建参数进行多次取值，以生成多个测试场景之前，所述方法还包括：获取用户编写的系统配置文件；所述分别对测试场景的不同构建参数进行多次取值，以生成多个测试场景，包括：基于所述系统配置文件分别对所述测试场景的不同构建参数进行多次取值，生成所述多个测试场景，其中，所述系统配置文件用于设置所述构建参数的取值范围。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述分别对测试场景的不同构建参数进行多次取值，以生成多个测试场景，包括：读取所述系统配置文件；基于所述系统配置文件，对所述不同构建参数在各自的取值范围内进行取值，生成对应不同所述测试场景的多个测试目录，并生成表征所述测试场景目录名，其中，所述测试场景、所述测试目录与所述目录名相互对应。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述不同的测试场景对预设测试模板进行修改，包括：提取所述目录名中所述测试场景的所述不同构建参数；基于所述目录名中的所述不同构建参数对所述预设测试模板进行修改，以获得所述测试场景对应的测试文件。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述不同的测试场景对应的测试文件对块存储性能进行测试之前，所述方法还包括：基于所述系统...

【专利技术属性】
技术研发人员：王宜燕，张小博，赵晓鹏，杨经纬，尚啸，杨林祥，张宇峰，李忠，
申请(专利权)人：中电信数智科技有限公司，
类型：发明
国别省市：