一种显卡测试装置制造方法及图纸

本申请公开了一种显卡测试装置，包括可打开和闭合的箱体、延伸于所述箱体内部的支撑部和设于所述箱体的散热模组，所述支撑部内设有主板，所述支撑部设有显卡安装口，以供待测试显卡穿过所述显卡安装口插入所述主板的显卡插槽。上述显卡测试装置能够减少灰尘、异物干扰，模拟显卡运行环境进行检测，提高显卡测试的可靠性。的可靠性。的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种显卡测试装置


[0001]本申请涉及显卡测试领域，特别涉及一种显卡测试装置。

技术介绍

[0002]显卡全称显示接口卡，是计算机设备的一个重要组成部分，其性能的好坏直接影响计算机的整体性能。因此，显卡生产过程中需要经过严格的性能测试，保证产品的质量。
[0003]目前工厂生产线上显卡测试一般是直接在静电桌上搭建开放式的测试工装，然后由人员直接安装上显卡进行测试。显卡测试时，风扇运行会发出噪音，且整体产生的热量直接散发出来，导致测试现场噪音大、温度高，环境恶劣。测试工装经常有灰尘、异物等落入，影响正常使用和测试结果的真实可靠性。
[0004]因此，如何改善显卡测试环境，提高显卡测试的可靠性成为本领域技术人员需要解决的技术问题。
[0005]申请内容
[0006]本申请的目的是提供一种显卡测试装置，该显卡测试装置能够避免灰尘、异物在显卡插槽堆积，真实模拟显卡运行环境，提高显卡测试的可靠性。
[0007]为实现上述目的，本申请提供一种显卡测试装置，包括可打开和闭合的箱体、延伸于所述箱体内部的支撑部和设于所述箱体的散热模组，所述支撑部设有主板，所述支撑部设有显卡安装口，以供待测试显卡穿过所述显卡安装口插入所述主板的显卡插槽。
[0008]可选地，所述箱体包括底板、侧立板、前挡板、后挡板和上盖板，所述上盖板翻转扣合于箱体的顶部。
[0009]可选地，所述上盖板的前端铰接翻板，所述翻板的底部与所述前挡板的顶部重叠。
[0010]可选地，所述散热模组包括设于所述箱体的散热风扇和百叶窗。
[0011]可选地，所述支撑部与所述底板、所述后挡板固连，所述支撑部为相对所述底板、所述后挡板朝向所述箱体内部凸设的罩体，所述显卡安装口设于罩体的顶部。
[0012]可选地，所述翻板或所述上盖板设有把手。
[0013]可选地，所述上盖板设有上凸设置的避位凸台，所述避位凸台位于所述显卡安装口的上方且所述避位凸台的底部形成避让空间。
[0014]可选地，所述箱体内设有电源模块，所述电源模块连接所述散热风扇和所述主板；所述箱体设有控制所述散热风扇通断电的风扇开关、以及控制所述主板通断电的测试开关。
[0015]可选地，还包括设于所述箱体内的温度检测模块，所述箱体设有连接所述温度检测模块且用于显示温度的显示组件。
[0016]可选地，所述箱体为金属箱体。
[0017]相对于上述
技术介绍
，本申请提供的显卡测试装置利用能够打开和闭合的箱体配合散热模组模拟显卡在机箱内的运行环境，使得箱体内的温度与显卡在机箱内运行的实际温度相近；利用支撑部容置限位主板，将主板上的显卡插槽罩设在箱体内；在无需进行显卡
测试时，关闭箱体，箱体对显卡安装口及显卡插槽形成一定的封闭，避免了灰尘和异物落入显卡插槽；进行显卡测试时，打开箱体，将显卡通过显卡安装口插入主板的显卡插槽，显卡关闭箱体进行测试即可，显卡运行产生的部分热量留在箱体内，有助于模拟真实的显卡运行环境，提高显卡测试的真实可靠性。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0019]图1为本申请实施例所提供的显卡测试装置的示意图。
[0020]其中：
[0021]1‑
箱体、2
‑
支撑部、3
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显卡安装口、4
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测试开关、5
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风扇开关、6
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指示灯、7
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显示组件、8
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电源模块、9
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过线口、10
‑
散热风扇、11
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上盖板、12
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翻板、13
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避位凸台、14
‑
把手。
具体实施方式
[0022]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0023]为了使本
的技术人员更好地理解本申请方案，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步的详细说明。
[0024]请参考1，图1为本申请实施例所提供的显卡测试装置的示意图。
[0025]本申请提供一种显卡测试装置，能够改善显卡测试环境和测试人员所处的外部环境，避免灰尘杂物落入主板的显卡测试槽内，影响显卡测试；且该显卡测试装置能够模拟显卡运行的环境温度，提高测试结果的可靠性。
[0026]为实现上述目的，本申请实施例提供一种显卡测试装置，包括箱体1、支撑部2、主板和散热模组。箱体1为开合式，在本实施例中采用上盖板11翻转打开的形式，以便打开箱体1装入显卡和关闭箱体1对显卡插槽等进行防护。支撑部2延伸至箱体1内，支撑部2用来容置和限位主板，支撑部2开设显卡安装口3，显卡安装口3与主板的显卡插槽对齐，以便显卡通过显卡安装口3插装至显卡插槽，同时保持显卡位于箱体1内，散热模组和箱体1配合模拟显卡在机箱内的运行温度。箱体1的设置能够有效降低噪音及热量扩散，改善测试人员所处环境。箱体1整体采用金属材质，减少外部电磁信号的干扰。
[0027]具体而言，箱体1包括底板、固连于底板两侧的侧立板，固连在底板和侧立板之间的前挡板及后挡板，上盖板11或上盖板11的局部段通过合页等方式铰接在箱体1的顶部，使得上盖板11能够扣合封闭箱体1，也能够方便地打开以便安装显卡。支撑部2为朝向箱体1内部凸设的长方体状的罩体结构，支撑部2分别固连底板和后挡板，显卡安装口3开设在罩体也即支撑部2的顶部。散热模组包括散热风扇10，风扇安装在后挡板，在显卡运行一段时间或显卡高频/超频运行时，散热风扇10打开，提高对显卡在机箱内运行环境模拟的真实性。
此外，散热模组还包括用来散热的百叶窗，百叶窗可安装在箱体1的前挡板和后挡板。显卡测试过程中，百叶窗打开模拟机箱的散热窗；无需进行显卡测试时，百叶窗关闭，避免灰尘进入箱体1内。
[0028]为提高机箱的封闭性，上盖板11的前端通过合页等铰接件连接可相对上盖板11翻转的翻板12，此状态下，侧立板和后挡板等高设置，前挡板的高度小于等于后挡板的高度，而翻板12翻折下来时，与前挡板配合将箱体1的封闭。翻板12翻折下来时，翻板12的底部和前挡板的顶部重叠，也即翻板12的高度与前挡板的高度之和大于后挡板的高度。为了方便打开或关闭箱体1，上盖板11或翻板12的外侧固定连接有把手14。
[0029]进一步地，上盖板11设有向上凸起的避位凸台13，避位凸台13为底部中空的结构，且避位凸台本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显卡测试装置，其特征在于，包括可打开和闭合的箱体、延伸于所述箱体内部的支撑部和设于所述箱体的散热模组，所述支撑部内设有主板，所述支撑部设有显卡安装口，以供待测试显卡穿过所述显卡安装口插入所述主板的显卡插槽。2.根据权利要求1所述的显卡测试装置，其特征在于，所述箱体包括底板、侧立板、前挡板、后挡板和上盖板，所述上盖板翻转扣合于箱体的顶部。3.根据权利要求2所述的显卡测试装置，其特征在于，所述上盖板的前端铰接翻板，所述翻板的底部与所述前挡板的顶部重叠。4.根据权利要求1
‑
3任一项所述的显卡测试装置，其特征在于，所述散热模组包括设于所述箱体的散热风扇和百叶窗。5.根据权利要求2所述的显卡测试装置，其特征在于，所述支撑部与所述底板、所述后挡板固连，所述支撑部为相对所述底板、所述后挡板朝向所...

【专利技术属性】
技术研发人员：李亚洲，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：