一种用于检测中低频冲击响应谱测量设备精度的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种用于检测中低频冲击响应谱测量设备精度的装置，该装置的底座内表面上固定设置有导轨，导轨上滑动连接有滑台，滑台上依次固定设置有移动凸轮和齿条；底座上端表面固定设置有导向座，导向座的中心孔内轴承连接有竖直推杆，竖直推杆的上端固定连接有平台，平台上放置中低频响应谱测量设备，竖直推杆的下端销轴连接有摆动推杆的中部，摆动推杆的一端与导向座下表面销轴连接，摆动推杆的另一端与移动凸轮的上表面滑动连接；齿条上啮合有齿轮，齿轮固定在轴上，轴的两端与底座的侧壁轴承连接，轴的一个端部与电机连接，电机固定安装在底座上。本实用新型专利技术测得的试验数据准确、完整和可靠。完整和可靠。完整和可靠。

【技术实现步骤摘要】
一种用于检测中低频冲击响应谱测量设备精度的装置


[0001]本专利技术涉及一种精度检测装置，特别涉及一种用于检测中低频冲击响应谱测量设备精度的装置。

技术介绍

[0002]国际上通常采用冲击响应谱表征设备遭受的冲击载荷大小（即冲击环境）。现阶段，通常采用加速度传感器测量冲击的加速度响应数据，生成冲击响应谱，但是加速度传感器在强冲击载荷作用下会产生零飘现象。零飘现象会影响冲击谱中低频段数值的准确性和完整性。因此，为了准确分析设备遭受的冲击环境，国内多家企业单位研制了中低频冲击响应谱测量设备。
[0003]中低频冲击谱测量设备属于非标准设备，不同企业单位研制的中低频冲击测量设备的设计原理、结构方案和试验测量方法等都存在诸多差异。另外，根据相关标准，理想加速度冲击载荷的曲线为正弦曲线，而强冲击试验机的加速度冲击载荷曲线只是近似于正弦曲线，若使用强冲击试验机对中低频冲击谱测量设备的精度进行检测，则通过中低频冲击谱测量设备采集的数据与理论值比较，则存在较大的误差。因此，为了保证中低频冲击谱测量设备在强冲击载荷作用下的测量值准确可靠，急需研发一种用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于检测中低频冲击响应谱测量设备精度的装置，其特征在于：该装置的底座（1）内表面上固定设置有导轨（14），导轨（14）上滑动连接有滑台（16），滑台（16）上依次固定设置有移动凸轮（17）和齿条（18）；底座（1）上端表面固定设置有导向座（4），导向座（4）的中心孔内轴承连接有竖直推杆（8），竖直推杆（8）的上端固定连接有平台（3），平台（3）上放置中低频响应谱测量设备（28），竖直推杆（8）的下端销轴连接有摆动推杆（12）的中部，摆动推杆（12）的一端与导向座（4）下表面销轴连接，摆动推杆（12）的另一端与移动凸轮（17）的上表面滑动连接；齿条（18）上啮合有齿轮（19），齿轮（19）固定在轴（23）上，轴（23）的两端与底座（1）的侧壁轴承连接，轴（23）的一个端部与电机（7）连接，电机（7）固定安装在底座（1）上。2.根据权利要求1所述的一种用于检测中低频冲击响应谱测量设备精度的装置，其特征在于：摆动推杆（12）包括：摆动推杆杆体（12
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1），滚轮（12
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2），滚轮销轴（12
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3），竖直推杆销轴（12
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4），摆动销轴（12
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5），摆动推杆杆体（12
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1）的中部设有长条孔，长条孔内滑动连接有竖直推杆销轴（12
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4），竖直推杆销轴（12
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4）与竖直推杆（8）连接；摆动推杆杆体（12
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1）的一端通过滚轮销轴（12
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【专利技术属性】
技术研发人员：韩赫，金映丽，闫明，孙自强，孙赫，惠安民，刘海超，吴子坤，王鹏，巴忠诚，王禹奇，
申请(专利权)人：沈阳工业大学，
类型：新型
国别省市：