磁环钨钢针校脚测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种磁环钨钢针校脚测试治具，包括上模和下模；所述下模设置通槽，所述下模上安装铜片；所述铜片的一端固定在通槽两侧的台阶上，铜片的另一端在通槽上方悬空；所述上模上设置通孔；所述通孔内安装钨钢针；所述钨钢针与铜片接触。本实用新型专利技术具有使用简单便捷、减少人工成本以及提高效率等现有产品所不具备的优点。所不具备的优点。所不具备的优点。

【技术实现步骤摘要】
磁环钨钢针校脚测试治具


[0001]本技术涉及一种磁环产品的校脚和测试的装置，具体的说，本技术涉及一种磁环钨钢针校脚测试治具。

技术介绍

[0002]在实际生产过程中，尤其是在生产带有针脚的磁环产品时，会出现针脚歪曲的现象，针脚歪曲对于产品性能测试极为不利，操作不当就会发生误接触和接触不到位情况；目前磁环产品在校脚和测试上分为两个步骤，效率低、人工成本高、操作复杂且治具种类繁多。基于以上缺陷和不足，我们设计出一种用于校正针脚和性能测试的磁环钨钢针校脚测试治具。

技术实现思路

[0003]为了克服现有技术的不足，本技术提供一种磁环钨钢针校脚测试治具，使治具具有校脚及测试功能一体化以及提高效率的特点。
[0004]本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：
[0005]一种磁环钨钢针校脚测试治具，包括上模和下模；所述下模设置通槽，所述下模上安装铜片；所述铜片的一端固定在通槽两侧的台阶上，铜片的另一端在通槽上方悬空；所述上模上设置通孔；所述通孔内安装钨钢针；所述钨钢针与铜片接触。
[0006]在上述结构中，所述下模底部设置有凹槽，所述通槽两侧的台阶上设置有第一圆孔；所述凹槽与第一圆孔连通。
[0007]在上述结构中，所述通槽两侧的台阶上设置有第一牙孔；所述铜片的一端通过紧固螺母固定在第一牙孔上。
[0008]在上述结构中，所述上模上设置和紧固螺母大小相同的第二圆孔。
[0009]在上述结构中，所述铜片之间互不接触，铜片上设置有缺口槽。
[0010]在上述结构中，所述上模上设置锥形通孔；所述下模上设置第二牙孔；上模通过装配螺丝固定在下模上。
[0011]本技术的有益效果是：本技术提供了一种磁环钨钢针校脚测试治具，包括上模和下模；所述下模设置通槽，所述下模上安装铜片；所述铜片的一端固定在通槽两侧的台阶上，铜片的另一端在通槽上方悬空；所述上模上设置通孔；所述通孔内安装钨钢针；所述钨钢针与铜片接触；解决了磁环产品在校脚和测试上需要分为多个步骤而导致的效率低和操作复杂的问题；在使用过程中能够大幅提高校脚和测试的效率以及减少人力成本。
附图说明
[0012]下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。
[0013]图1是本技术装配示意图；
[0014]图2是本技术结构拆分图；
[0015]图3是本技术结构中下模的俯视图；
[0016]图4是本技术结构中下模的仰视图。
具体实施方式
[0017]以下将结合实施例和附图对本技术的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整地描述，以充分地理解本技术的目的、特征和效果。显然，所描述的实施例只是本技术的一部分实施例，而不是全部实施例，基于本技术的实施例，本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例，均属于本技术保护的范围。另外，专利中涉及到的所有联接/连接关系，并非单指构件直接相接，而是指可根据具体实施情况，通过添加或减少联接辅件，来组成更优的联接结构。本技术创造中的各个技术特征，在不互相矛盾冲突的前提下可以交互组合。
[0018]参照图1
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4，一种磁环钨钢针校脚测试治具，包括上模04和下模08；所述下模08设置通槽09，所述下模08上安装铜片06；所述铜片06的一端固定在通槽09两侧的台阶05上，铜片06的另一端在通槽09上方悬空；所述上模04上设置通孔；所述通孔内安装钨钢针01；所述钨钢针01与铜片06接触。
[0019]所述下模08底部设置有凹槽14，所述通槽09两侧的台阶05上设置有第一圆孔13；所述凹槽14与第一圆孔13连通。
[0020]所述通槽09两侧的台阶05上设置有第一牙孔12；所述铜片06的一端通过紧固螺母10固定在第一牙孔12上。
[0021]所述上模04上设置和紧固螺母10大小相同的第二圆孔02。上模04和下模08安装时，紧固螺母10可以放置在第二圆孔02中，可以防止由于紧固螺母10突出而导致上模04和下模08不能贴合在一起。
[0022]所述铜片06之间互不接触，铜片06上设置有缺口槽。
[0023]所述上模04上设置锥形通孔；所述下模08上设置第二牙孔11；上模04通过装配螺丝03固定在下模08上。
[0024]在工作过程中，上模04和下模08安装时，紧固螺母10可以放置在第二圆孔02中，可以解决由于紧固螺母10突出而导致上模04和下模08不能贴合在一起的问题；测试设备可以与铜片06连接，测试设备的线路可以通过下模08底部的凹槽14接入到第一圆孔13内与铜片06连接；将磁环产品插入钨钢针01上进行针脚的校正，同时钨钢针01与铜片06接触，可以同时测试磁环产品；从而达到同时校脚和测试的目的。
[0025]以上是对本技术的较佳实施进行了具体说明，但本技术创造并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本技术精神的前提下还可做出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磁环钨钢针校脚测试治具，其特征在于：包括上模和下模；所述下模设置通槽，所述下模上安装铜片；所述铜片的一端固定在通槽两侧的台阶上，铜片的另一端在通槽上方悬空；所述上模上设置通孔；所述通孔内安装钨钢针；所述钨钢针与铜片接触。2.根据权利要求1所述的一种磁环钨钢针校脚测试治具，其特征在于：所述下模底部设置有凹槽，所述通槽两侧的台阶上设置有第一圆孔；所述凹槽与第一圆孔连通。3.根据权利要求1所述的一种磁环钨钢针校脚测试治具，其特征在于：所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄桂林，
申请(专利权)人：广西岑科电子工业有限公司，
类型：新型
国别省市：