双键槽星体双键槽对内径对称度检测工装制造技术

本实用新型专利技术属于超越离合器生产设备技术领域，提出一种双键槽星体双键槽对内径对称度检测工装，包括星体齿模，所述星体齿模设置在基准台上，基准台的中心设置有与星体齿模嵌套的基准轴，基准轴的两侧设置有基准键和标尺块，标尺块的宽度小于基准键的宽度，标尺块上的顶面设置有角度刻度，基准轴的顶部设置设置有一字槽，一字槽的槽底面与标尺块的顶面齐平，一字槽的宽度大于基准键的宽度。本装置利用星体齿模可为星体齿提供检测参照，而星体齿上的双键槽对一方面可参照星体齿模上的双键槽对进行调节，另一方面则通过标尺块上的角度刻度进行读值。本装置设计合理、结构简单、有利于提高测量准确性和测量效率，适合大规模推广。广。广。

【技术实现步骤摘要】
双键槽星体双键槽对内径对称度检测工装


[0001]本技术属于超越离合器生产设备
，尤其涉及一种双键槽星体双键槽对内径对称度检测工装。

技术介绍

[0002]超越离合器是随着机电一体化产品的发展而出现的基础件，它是用于原动机和工作机之间或机器内部主动轴与从动轴之间动力传递与分离功能的重要部件。它是利用主、从动部分的速度变化或旋转方向的变换具有自行离合功能的装置。超越离合器由星体，外环，滚柱，弹簧等组成，可将高转速低扭矩通过小齿轮带动外缘齿圈转化成低转速高扭矩。当星体相对于外环顺时针旋转时，离合器处于结合状态，星体带动外环转动，这种情况下离合器处于超越状态，从而让动力从传动上脱离。在加工超越离合器星体齿的流程中，由于星体齿内圈的键槽质量直接对其与转轴的配合性能有直接影响，所以需要对星体齿内圈的一对键槽质量进行检测，而其中一项比较重要的检测指标就是双键槽对的内径对称度。
[0003]目前，双键槽对的内径对称度检测大多是由人工通过卡尺测量的，测量参照较少，测量准确度较差，而且测量效率较低。

技术实现思路

[0004]本技术针对上述在监测双键槽对的内径对称度方面所存在的技术问题，提出一种设计合理、结构简单、有利于提高测量准确性和测量效率的双键槽星体双键槽对内径对称度检测工装。
[0005]为了达到上述目的，本技术采用的技术方案为，本技术提供的双键槽星体双键槽对内径对称度检测工装，包括星体齿模，所述星体齿模设置在基准台上，所述基准台的中心设置有与星体齿模嵌套的基准轴，所述基准轴的两侧设置有用来与设置在星体齿模内径上的键槽配合的基准键，所述基准键的顶部设置有标尺块，所述标尺块的宽度小于基准键的宽度，所述标尺块上的顶面设置有角度刻度，所述基准轴的顶部设置设置有一字槽，所述一字槽的槽底面与标尺块的顶面齐平，所述一字槽的宽度大于基准键的宽度。
[0006]作为优选，所述基准台为柱形结构，所述基准台的直径大于星体齿模的齿顶圆直径，所述基准台的顶面设置有环形槽。
[0007]作为优选，所述基准台的底部设置有缓冲槽，所述缓冲槽中设置有缓冲垫。
[0008]作为优选，所述缓冲槽包括柱形槽部和设置在柱形槽部边缘的多个径向槽，所述缓冲垫包括柱形垫部和设置在柱形垫部边缘的径向垫部。
[0009]与现有技术相比，本技术的优点和积极效果在于：
[0010]1、本技术提供的双键槽星体双键槽对内径对称度检测工装，利用星体齿模可为星体齿提供检测参照，而星体齿上的双键槽对一方面可参照星体齿模上的双键槽对进行调节，另一方面则通过标尺块上的角度刻度进行读值，从而提高测量的准确性。本装置设计合理、结构简单、有利于提高测量准确性和测量效率，适合大规模推广。
附图说明
[0011]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0012]图1为实施例提供的双键槽星体双键槽对内径对称度检测工装的轴测图；
[0013]图2为实施例提供的双键槽星体双键槽对内径对称度检测工装(无星体齿模)的轴测图；
[0014]图3为实施例提供的双键槽星体双键槽对内径对称度检测工装的俯视图；
[0015]图4为实施例提供的双键槽星体双键槽对内径对称度检测工装的仰视图；
[0016]以上各图中，1、星体齿模；2、基准台；3、基准轴；4、基准键；5、标尺块；6、角度刻度；7、一字槽；8、环形槽；9、缓冲垫；91、柱形垫部；92、径向垫部。
具体实施方式
[0017]为了能够更清楚地理解本技术的上述目的、特征和优点，下面结合附图和实施例对本技术做进一步说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。为叙述方便，下文如出现“上”、“下”、“左”、“右”字样，仅表示与附图本身的上、下、左、右方向一致，并不对结构起限定作用。
[0018]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术，但是，本技术还可以采用不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本技术并不限于下面公开说明书的具体实施例的限制。
[0019]实施例，如图1、图2、图3和图4所示，本技术提供的双键槽星体双键槽对内径对称度检测工装，包括星体齿模1，星体齿模为一个标准星体齿，所述星体齿模1设置在基准台2上，基准台2的中心设置有与星体齿模1嵌套的基准轴3，基准轴3的两侧设置有用来与设置在星体齿模1内径上的键槽配合的基准键4，基准键4的顶部设置有标尺块5，标尺块5的宽度小于基准键4的宽度，标尺块5上的顶面设置有角度刻度6，基准轴3的顶部设置设置有一字槽7，一字槽7的槽底面与标尺块5的顶面齐平，一字槽7的宽度大于基准键4的宽度。本技术利用星体齿模1可为星体齿提供检测参照，令待测量工件由上至下对应至星体齿模1，而星体齿上的双键槽对一方面可参照星体齿模1上的双键槽对进行调节，另一方面则通过标尺块5上的角度刻度6进行读值，从而提高测量的准确性。标尺块5的宽度小于基准键4的宽度，便于检测人员星体齿工件在一定范围内进行旋转调节。基准轴3的一部分可以伸入待测星体齿工件，可以对星体齿工件进行径向定位，而其顶部的一字槽7一方面可便于检测人员使用卡具如塞尺对双键槽对进行间隙测量，另一方则便于肉眼观察角度刻度。本装置设计合理、结构简单、有利于提高测量准确性和测量效率，实用性较强，利用率较高。
[0020]为了提高基准台2的实用性，本技术提供的基准台2为柱形结构，基准台2的直径大于星体齿模1的齿顶圆直径，基准台2的顶面设置有环形槽8。其中，基准台2的直径设计有利于提高星体齿模1和星体齿工件在检测过程中的稳定性；环形槽8可以架空星体齿模1的齿位，而环形槽8的边缘部分则便于手持搬动基准台2。
[0021]为了本装置的测量稳定性，本技术提供的基准台2的底部设置有缓冲槽，缓冲
槽中设置有缓冲垫9。通过设置缓冲垫9可提高基准台2在测量工位上的稳定性，进而提高本装置的测量稳定性。
[0022]进一步地，本技术提供的缓冲槽包括柱形槽部和设置在柱形槽部边缘的多个径向槽，缓冲垫9包括柱形垫部91和设置在柱形垫部91边缘的径向垫部92。这样的话，不仅能够为基准台2提供一定的缓冲性能，还能保证缓冲垫9在基准台2底部的稳定性，并有利于延长缓冲垫9的实际使用寿命。
[0023]以上所述，仅是本技术的较佳实施例而已，并非是对本技术作其它形式的限制，任何熟悉本专业的技术人员可能利用上述揭示的
技术实现思路
加以变更或改型为等同变化的等效实施例应用于其它领域，但是凡是未脱离本技术技术方案内容，依据本技术的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与改型，仍属于本技术技术方案的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双键槽星体双键槽对内径对称度检测工装，其特征在于，包括星体齿模，所述星体齿模设置在基准台上，所述基准台的中心设置有与星体齿模嵌套的基准轴，所述基准轴的两侧设置有用来与设置在星体齿模内径上的键槽配合的基准键，所述基准键的顶部设置有标尺块，所述标尺块的宽度小于基准键的宽度，所述标尺块上的顶面设置有角度刻度，所述基准轴的顶部设置有一字槽，所述一字槽的槽底面与标尺块的顶面齐平，所述一字槽的宽度大于基准键的宽度。2.根据权利要求1所述的双键槽星体双键槽...

【专利技术属性】
技术研发人员：王振峰，王文丽，陈萌萌，
申请(专利权)人：聊城市东昌府区瑞致机械有限公司，
类型：新型
国别省市：