本实用新型专利技术公开一种六轴防磁场干扰测磁偏角线圈装置，包括用于检测磁偏角的检测线圈组件(1)和用于防止外界干扰的干扰线圈组件(2)，待检测的产品设于检测线圈组件(1)的内部，所述检测线圈组件(1)设于干扰线圈组件(2)内部。本实用新型专利技术提供一种可以避免在对磁铁检测过程中受到外部磁场的影响，保证检测的准确性与高效性的一种六轴防磁场干扰测磁偏角线圈装置。圈装置。圈装置。
【技术实现步骤摘要】
一种六轴防磁场干扰测磁偏角线圈装置
[0001]本技术涉及磁场检测设备领域，具体讲是一种六轴防磁场干扰测磁偏角线圈装置。
技术介绍
[0002]在一些精密的仪器中，需要保证磁铁形成磁场的准确性与稳定性，从而需要对所使用的磁铁进行磁偏角的检测，以保证磁铁的使用质量。
[0003]现有的测量磁铁磁偏角的装置根据亥姆霍兹线圈原理设计的三维测磁偏角线圈，可以一次性测出磁铁所形成的磁场在X轴、Y轴、Z轴上的磁偏角。但此类装置极易受外部环境干扰，当外部环境存在移动磁场时，就会导致测量数据不准确，从而导致此类装置在测量过程中需要在一个磁场稳定的环境中进行。
[0004]但因为在生产质检测量过程中，不可能仅测量一个磁铁，往往在此类装置边上还会有大量待检测的磁铁，为保证检测的准确性，需要将待检测的其它磁铁远离检测装置，避免影响检测结果，从而造成检测过程的低效性。
技术实现思路
[0005]本技术所要解决的技术问题是：提供一种可以避免在对磁铁检测过程中受到外部磁场的影响，保证检测的准确性与高效性的一种六轴防磁场干扰测磁偏角线圈装置。
[0006]本技术解决上述问题所采用的技术方案为：一种六轴防磁场干扰测磁偏角线圈装置，包括用于检测磁偏角的检测线圈组件和用于防止外界干扰的干扰线圈组件，待检测的产品设于检测线圈组件的内部，所述检测线圈组件设于干扰线圈组件内部。
[0007]与现有技术相比，本技术的优点在于：在检测线圈组件的外部设有一种干扰线圈组件，通过干扰线圈组件的设计，可以对检测线圈组件进行保护，以避免外部磁场对检测线圈组件的影响，同时干扰线圈组件形成的是一个稳定的磁场，他对待测磁铁的测量结果影响极小，当外部环境磁场发生变化时，干扰线圈组件所形成的磁场会进行磁场过滤，使外部磁场对检测线圈组件的作用仅限于强度的变化，而不会造成磁偏角的变化，从而保证检测线圈组件对磁铁检测的准确性，进而提高了批量检测时的效率。
[0008]作为本技术的一种改进，所述检测线圈组件包括X轴检测线圈架、Y轴检测线圈架和Z轴检测线圈架，所述X轴检测线圈架、Y轴检测线圈架和Z轴检测线圈架均设有两个，所述X轴检测线圈架、Y轴检测线圈架和Z轴检测线圈架上均缠绕有检测线圈，所述X轴检测线圈架与Y轴检测线圈架垂直设置，所述X轴检测线圈架与Z轴检测线圈架垂直设置，所述Y轴检测线圈架与Z轴检测线圈架垂直，通过所述改进，实现检测线圈组件在X轴、Y轴、Z轴的磁偏角检测。
[0009]作为本技术的一种改进，所述Z轴检测线圈架设有用于放置待检测的产品的放置台，通过所述改进，可以提供一个检测位置，保证待测磁铁在检测时的稳定性。
[0010]作为本技术的一种改进，所述干扰线圈组件包括X轴干扰线圈架、Y轴干扰线
圈架和Z轴干扰线圈架，所述X轴干扰线圈架、Y轴干扰线圈架和Z轴干扰线圈架均设有两个，所述X轴干扰线圈架、Y轴干扰线圈架和Z轴干扰线圈架上均缠绕有干扰线圈，所述X轴干扰线圈架与Y轴干扰线圈架垂直设置，所述X轴干扰线圈架与Z轴干扰线圈架垂直设置，所述Y轴干扰线圈架与Z轴干扰线圈架垂直，所述Z轴干扰线圈架与Z轴检测线圈架平行设置，通过所述改进，实现干扰线圈组件在X轴、Y轴、Z轴对外部磁场的过滤效果，同时也保证了过滤后的磁场对检测线圈组件仅在X轴、Y轴、Z轴有强度的变化，不会造成磁偏角的测量偏差。
[0011]作为本技术的一种改进，所述X轴检测线圈架套接在Z轴检测线圈架上，所述Y轴检测线圈架套接在X轴检测线圈架上，所述Z轴干扰线圈架套接在Y轴检测线圈架上，所述X轴干扰线圈架套接在Z轴干扰线圈架上，所述Y轴干扰线圈架套接在X轴干扰线圈架上，通过所述改进，使整个装置结构更加紧凑，占用空间更小。
[0012]作为本技术的一种改进，所述Z轴检测线圈架、X轴检测线圈架、Y轴检测线圈架、Z轴干扰线圈架、X轴干扰线圈架上均设有连接限位块，所述连接限位块用于连接相互连接的两个线圈架，通过所述改进，可以使各个线圈架之间的连接更稳定，并且保证相连接的两个线圈架之间的垂直关系，进而保证干扰线圈组件不会对磁偏角的测量产生影响。
[0013]作为本技术的一种改进，所述连接限位块设于相对应的线圈架的相离的两侧，通过所述改进，在线圈架之间的相互连接上更加便捷。
[0014]作为本技术的一种改进，所述六轴防磁场干扰测磁偏角线圈装置还包括底座，所述Z轴干扰线圈架固定连接在底座上，通过所述改进，可以稳定支撑整个装置，保证磁铁检测时的稳定性。
附图说明
[0015]图1是本技术整体结构示意图。
[0016]图2是本技术整体结构俯视结构示意图。
[0017]图中所示：1、检测线圈组件，1.1、X轴检测线圈架，1.2、Y轴检测线圈架，1.3、Z轴检测线圈架，1.3.1、放置台，2、干扰线圈组件，2.1、X轴干扰线圈架，2.2、Y轴干扰线圈架，2.3、Z轴干扰线圈架，3、连接限位块，4、底座。
具体实施方式
[0018]下面结合附图对本技术的实施例作进一步描述。
[0019]如图1
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2所示，一种六轴防磁场干扰测磁偏角线圈装置，其特征在于：包括用于检测磁偏角的检测线圈组件1和用于防止外界干扰的干扰线圈组件2，待检测的产品设于检测线圈组件1的内部，所述检测线圈组件1设于干扰线圈组件2内部，所述检测线圈组件1包括X轴检测线圈架1.1、Y轴检测线圈架1.2和Z轴检测线圈架1.3，所述X轴检测线圈架1.1、Y轴检测线圈架1.2和Z轴检测线圈架1.3均设有两个，所述X轴检测线圈架1.1、Y轴检测线圈架1.2和Z轴检测线圈架1.3上均缠绕有检测线圈，所述X轴检测线圈架1.1与Y轴检测线圈架1.2垂直设置，所述X轴检测线圈架1.1与Z轴检测线圈架1.3垂直设置，所述Y轴检测线圈架1.2与Z轴检测线圈架1.3垂直，所述干扰线圈组件2包括X轴干扰线圈架2.1、Y轴干扰线圈架2.2和Z轴干扰线圈架2.3，所述X轴干扰线圈架2.1、Y轴干扰线圈架2.2和Z轴干扰线圈架2.3均设有两个，所述X轴干扰线圈架2.1、Y轴干扰线圈架2.2和Z轴干扰线圈架2.3上均缠绕有干扰线
圈，所述X轴干扰线圈架2.1与Y轴干扰线圈架2.2垂直设置，所述X轴干扰线圈架2.1与Z轴干扰线圈架2.3垂直设置，所述Y轴干扰线圈架2.2与Z轴干扰线圈架2.3垂直，所述Z轴干扰线圈架2.3与Z轴检测线圈架1.3平行设置，X轴干扰线圈架2.1与X轴检测线圈架1.1平行设置，Y轴干扰线圈架2.2与Y轴检测线圈架1.2平行设置。
[0020]如图2所示，所述Z轴检测线圈架1.3设有用于放置待检测的产品的放置台1.3.1，图中所示为Z轴检测线圈架1.3中的上线圈架，Z轴检测线圈架1.3中的下线圈架与Z轴检测线圈架1.3中的上线圈架结构相同。
[0021]所述X轴检测线圈架1.1套接在Z轴检测线圈架1.3上，所述Y轴检测线圈架1.2套接在X轴检测线圈架1.1上，所述Z轴干本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种六轴防磁场干扰测磁偏角线圈装置，其特征在于：包括用于检测磁偏角的检测线圈组件(1)和用于防止外界干扰的干扰线圈组件(2)，待检测的产品设于检测线圈组件(1)的内部，所述检测线圈组件(1)设于干扰线圈组件(2)内部。2.根据权利要求1所述的一种六轴防磁场干扰测磁偏角线圈装置，其特征在于：所述检测线圈组件(1)包括X轴检测线圈架(1.1)、Y轴检测线圈架(1.2)和Z轴检测线圈架(1.3)，所述X轴检测线圈架(1.1)、Y轴检测线圈架(1.2)和Z轴检测线圈架(1.3)均设有两个，所述X轴检测线圈架(1.1)、Y轴检测线圈架(1.2)和Z轴检测线圈架(1.3)上均缠绕有检测线圈，所述X轴检测线圈架(1.1)与Y轴检测线圈架(1.2)垂直设置，所述X轴检测线圈架(1.1)与Z轴检测线圈架(1.3)垂直设置，所述Y轴检测线圈架(1.2)与Z轴检测线圈架(1.3)垂直。3.根据权利要求2所述的一种六轴防磁场干扰测磁偏角线圈装置，其特征在于：所述Z轴检测线圈架(1.3)设有用于放置待检测的产品的放置台(1.3.1)。4.根据权利要求2所述的一种六轴防磁场干扰测磁偏角线圈装置，其特征在于：所述干扰线圈组件(2)包括X轴干扰线圈架(2.1)、Y轴干扰线圈架(2.2)和Z轴干扰线圈架(2.3)，所述X轴干扰线圈架(2.1)、Y轴干扰线圈架(2.2)和Z轴干扰线圈架(2.3)均设有两个，所述X轴干扰线圈架(2.1)、Y轴干扰线圈架(2.2)和Z轴干扰线...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄可可，雷强，
申请(专利权)人：宁波兴隆磁性技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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