一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法技术

本发明专利技术公开了一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法，包括：S1将一个纯色图像作为输入灰阶图像，输入待测显示屏；S2拍摄待测显示屏显示的输入灰阶图像；S3对拍摄得到的输入灰阶图像提取各子像素的子像素亮度值；S4统计子像素亮度值的统计分布方差；S5若不满足预设的输出条件，则执行S6；S6对子像素亮度值进行计算，获得各子像素的补图灰阶值；S7将当前的补图灰阶值作为新的输入灰阶图像，输入待测显示屏，回到S2进行迭代。本发明专利技术能够进一步甄别出DeMura精度较低或失败的情况，进行进一步的迭代处理，以提高DeMura精度及成功率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法


[0001]本专利技术涉及一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法，属于显示制造领域。

技术介绍

[0002]在现有技术中，使用电流驱动的自发光显示器（包括OLED显示屏、MiniLED显示屏以及未来的MicroLED显示屏）由于制造工艺的限制，会产生子像素级别的电路上的不一致性。这种不一致性表现在显示上，即为一种整体或局部的显示不均匀性，表现为块状，沙装，点状等等，这种不均匀性统称为Mura（指显示器亮度不均匀, 造成各种痕迹的现象）。Mura通常有亮度Mura和色Mura两种，表示亮度的不均匀性和颜色的不均匀性，目前限制Mura是国产OLED生产良率的主要因素之一。而对于显示器的Mura校准通常称为DeMura。
[0003]目前业界常用的DeMura方案包括以下几个步骤：拍摄、提图、建模、压缩和显示驱动芯片（DriverIC）算法处理。但是针对现有的拍摄工序，由于成像亮度计本身的一致性以及线性可能并不理想，会带来一定的误差。同时提图的时候，由于空间采样的倍率非整数，会产生采样的相位不一致，从而导致提图的模式不同，也会产生误差。比如很难避免的是提图的数据会有周期性的条纹产生，俗称摩尔纹（Moire）。提图软件在处理摩尔纹的时候会使用某些滤波算法，这些算法也会人为产生误差。理想的拍摄提图，能够精准的获得每个子像素的显示特性（不一致性），但不理想的拍摄和提图，往往会导致DeMura的精度较低，甚至造成DeMura的失败。
[0004]因此，急需一种能够提高显示器Mura测量精度的方法，能够进一步甄别出DeMura精度较低或失败的情况，进行进一步的迭代处理，以提高DeMura精度及成功率。

技术实现思路

[0005]为解决现有的技术问题，本专利技术提供一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法，通过迭代的方法减少拍摄和提图的误差，提高拍摄提图的精度。
[0006]本专利技术中主要采用的技术方案为：一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法，包括以下步骤：S1输入：将一个纯色图像作为输入灰阶图像，输入待测显示屏；S2拍摄：拍摄待测显示屏显示的输入灰阶图像；S3提图：对拍摄得到的输入灰阶图像提取各子像素的子像素亮度值；S4统计方差：统计子像素亮度值的统计分布方差，n为执行S4的次序数，n为正整数；S5输出判断：若满足预设的输出条件，则通过校验，输出当前的输入灰阶图像；若不满足预设的输出条件，则执行S6计算补图；S6计算补图：对子像素亮度值进行计算，获得各子像素的补图灰阶值；S7迭代：将当前的补图灰阶值作为新的输入灰阶图像，输入待测显示屏，回到S2进
行迭代；S5中输出的图像即为本方法测量得到的校准数据。
[0007]进一步地，所述预设的输出条件具体为：在第一次计算补图前，输出条件为：，其中，k为预设的常数，L1为初始图像中各子像素的子像素亮度值，为L1的平均值；在第一次计算补图后，输出条件为：/＞0.95。
[0008]进一步地，所述预设的输出条件具体为：n达到预设的迭代次数上限值，即预设一个固定的迭代次数。
[0009]进一步地，S6具体为：计算；其中，为各子像素的子像素亮度值，为各子像素的亮度目标值，(x)为待测显示屏的反伽马函数，为各子像素的补图灰阶值，为对应的输入灰阶图像的灰阶值，i表示第i个子像素；当n=1时，为S1中初始的输入灰阶图像的灰阶值。
[0010]进一步地，所述亮度目标值为各子像素的平均值。
[0011]进一步地，，其中为待测显示屏的伽马系数。
[0012]进一步地，S6具体为：对于各个子像素，根据子像素亮度值的大小，选择参与拟合的另一灰阶图像的对应子像素亮度值，连线得到线段，通过线性拟合计算获得补图灰阶值。
[0013]进一步地，S6具体为：对每一个子像素i的第j个灰阶值G(j)，根据其在该灰阶的亮度实测值、在相邻灰阶的亮度实测值和、以及该灰阶的目标亮度值的大小关系，分别进行如下计算：情况（1）：若，则计算；情况（2）：若，则计算；情况（3）：若，则计算；若该灰阶为最小的灰阶值，则按情况（2）计算；若该灰阶为最大的灰阶值，则按情况（1）计算；
其中，目标亮度值为该灰阶下各子像素中心区域的平均亮度值。
[0014]进一步地，S6具体为：对于各个子像素，选择若干个灰阶图像，将子像素亮度值与相同纯色的其他灰阶图像的对应子像素亮度值进行曲线拟合，计算获得补图灰阶值。
[0015]与现有技术相比，本专利技术具有如下有益效果：（1）对于Mura问题严重的屏幕，能够进一步甄别出DeMura精度较低或失败的情况，通过多次迭代来获得更高的精度和更好的DeMura效果；（2）拍摄和提图系统的供应商有多家，同时性能和适配性良莠不齐，本专利技术可以作为显示屏拍摄提图精确性的一个量化的评价，通过看一次补图后的亮度分布直方图，可以评价其准确性；（3）压缩算法由于压缩比非常大，通常是30倍以上，通常使用有损压缩，这种压缩会带来一定的误差，而往往压缩比越大，其所带来的误差就越大，但好处是DriverIC芯片上的面积和成本开销就越小。本专利技术在前端拍摄提图建模时候就能获得更准确的显示亮度信息，那么后端压缩所容许的误差冗余度就越大，越有利于成本的降低。
附图说明
[0016]图1 为本专利技术中的迭代测量流程图；图2为实施例1中子像素R的成像细节图；图3为实施例1中子像素G的成像细节图；图4为实施例1中子像素B的成像细节他；图5为实施例1中三次迭代后子像素亮度直方图分布。
具体实施方式
[0017]为了使本
的人员更好地理解本申请中的技术方案，下面对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。
[0018]实施例1如图1所示，为本专利技术实施例1的迭代测量流程图，具体如下：S1输入：将一个纯色图像作为输入灰阶图像，输入待测显示屏。具体地，对于某个待测显示屏，分别送入{R32，R64，R96，R160，R192，R224，G32，G64，G96，G192，G224，B32，B64，B96，B160，B192，B224}共18个纯色灰阶到待测显示器；其中，R代表红色，G代表绿色，B代表绿色，例如，R32是红色32灰阶（显示8bit颜色深度，最大值是255）。
[0019]S2拍摄：拍摄待测显示屏显示的输入灰阶图像。具体地，分别使用成像亮度计拍摄其所有子像素显示的亮度信息。
[0020]S3提图：对拍摄得到的输入灰阶图像提取各子像素的子像素亮度值。具体地址，对拍摄的灰阶图像进行子像素分辨，提取各子像素的子像素亮度值，从而获得每个子像素在6个灰阶的显示特性，如图2至图4所示分别为子像素R、G、B的成像细节。
[0021]S4统计方差：统计子像素亮度值的统计分本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S1输入：将一个纯色图像作为输入灰阶图像，输入待测显示屏；S2拍摄：拍摄待测显示屏显示的输入灰阶图像；S3提图：对拍摄得到的输入灰阶图像提取各子像素的子像素亮度值；S4统计方差：统计子像素亮度值的统计分布方差，n为执行S4的次序数，n为正整数；S5输出判断：若满足预设的输出条件，则通过校验，输出当前的输入灰阶图像；若不满足预设的输出条件，则执行S6计算补图；S6计算补图：对子像素亮度值进行计算，获得各子像素的补图灰阶值；S7迭代：将当前的补图灰阶值作为新的输入灰阶图像，输入待测显示屏，回到S2进行迭代；S5中输出的图像即为本方法测量得到的校准数据。2.根据权利要求1所述的用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法，其特征在于，所述预设的输出条件具体为：在第一次计算补图前，输出条件为：，其中，k为预设的常数，L1为初始图像中各子像素的子像素亮度值，为L1的平均值；在第一次计算补图后，输出条件为：/＞0.95。3.根据权利要求1所述的用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法，其特征在于，所述预设的输出条件具体为：n达到预设的迭代次数上限值。4.根据权利要求1所述的用于提高显示器Mura测量精度的迭代测量方法，其特征在于，S6具体为：计算；其中，为各子像素的子像素亮度值，为各子像素的亮度目标值，(x)为待测显示屏的反伽马函数，为各子像素的补图灰阶值，为对应的输入灰阶图像的灰阶值，i表示第i个子像素；当n=1时，为S1中初始的输入灰阶图像的灰阶值。5...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡剑，李堃，黄鉴，叶选新，蔡杰羽，石炳磊，白海楠，朱诗文，
申请(专利权)人：苇创微电子上海有限公司，
类型：发明
国别省市：