一种具有复合缓冲层的近紫外LED外延结构及其制备方法技术

技术编号:32973274 阅读:13 留言:0更新日期:2022-04-09 11:44
本发明专利技术公开了一种具有复合缓冲层的近紫外LED外延结构及其制备方法,包括外延结构包括依次设置的衬底、复合缓冲层和半导体层,复合缓冲层包括第一缓冲层和第二缓冲层,且所述第一缓冲层为图案型,且所述第一缓冲层为氮化镓层,所述第二缓冲层设置在第一缓冲层上,且所述第二缓冲层为三氧化二铝层,且所述三氧化二铝层的下侧填充在第一缓冲层的图案内,所述第一缓冲层的上侧为平整的,且复合缓冲层通过真空溅渡成型,通过设置此复合缓冲层,能有利于晶格不匹配的情况下,更好的生长薄膜,提高晶体的质量,即提高LED外延结构的稳定和质量。即提高LED外延结构的稳定和质量。即提高LED外延结构的稳定和质量。

【技术实现步骤摘要】
一种具有复合缓冲层的近紫外LED外延结构及其制备方法


[0001]本专利技术涉及半导体生产领域,尤其涉及一种具有复合缓冲层的近紫外LED外延结构及其制备方法。

技术介绍

[0002]紫外LED指发光中心波长在400nm以下的LED,但有时将发光波长大于380nm时称为近紫外LED,而短于300nm时称为深紫外LED。因短波长光线的杀菌效果高,因此紫外LED常用于冰箱和家电等的杀菌及除臭等用途。
[0003]紫外LED主要应用在生物医疗、防伪鉴定、净化(水、空气等)领域、计算机数据存储和军事等方面。而且随着技术的发展,新的应用会不断出现以替代原有的技术和产品,紫外LED有着广阔的市场应用前景,如紫外LED光疗仪是未来很受欢迎的医疗器械,但是技术还处于成长期。
[0004]由于市场对于紫外LED的需求量大,一般来说,LED结构包括衬底、缓冲层、局限层、布拉格反射层和多重量子阱,通过缓冲层的设置,能使得通常为蓝宝石的衬底上有利于晶格不匹配的情况下成长薄膜,现有的缓冲层一般为GaN,其晶体质量还不够高。
[0005]因此本专利技术专利的专利技术人,针对这一技术问题,旨在专利技术一种具有复合缓冲层的近紫外LED外延结构及其制备方法。

技术实现思路

[0006]为克服上述缺点,本专利技术的目的在于提供一种具有复合缓冲层的近紫外LED外延结构及其制备方法。
[0007]为了达到以上目的,本专利技术采用的技术方案是:一种具有复合缓冲层的近紫外LED外延结构,所述外延结构包括依次设置的衬底、复合缓冲层和半导体层,
[0008]所述复合缓冲层包括第一缓冲层和第二缓冲层,且所述第一缓冲层为图案型,且所述第一缓冲层为氮化镓层,所述第二缓冲层设置在第一缓冲层上,且所述第二缓冲层为三氧化二铝层,且所述三氧化二铝层的下侧填充在第一缓冲层的图案内,所述第一缓冲层的上侧为平整的。
[0009]进一步的,所述复合缓冲层设置多组,且一般设置在200组以内,当然根据实际需要进行选择即可,一般来说设置在50层即可。
[0010]进一步的,所述第一缓冲层和第二缓冲层通过真空溅渡成型。
[0011]进一步的,所述复合缓冲层的总厚度在200nm以内。
[0012]进一步的,所述衬底为蓝宝石衬底、碳化硅衬底中的一种或两种复合。
[0013]进一步的,所述半导体层为硅、锗、镓或宽禁带Ⅲ族氮化物半导体材料中的至少一种。常见的为,在缓冲层上设置U型GaN层、N型GaN层、有源层和P型GaN层。
[0014]本专利技术一种具有复合缓冲层的近紫外LED外延结构的有益效果是,通过设置此复合缓冲层,能有利于晶格不匹配的情况下,更好的生长薄膜,提高晶体的质量,即提高LED外
延结构的稳定和质量。
[0015]一种具有复合缓冲层的近紫外LED外延结构的制备方法,
[0016]第一,提供一个清洁的衬底;
[0017]第二,在衬底上设置图形化掩膜;
[0018]第三,利用真空溅镀在第二步的衬底上设置第一缓冲层;
[0019]第四,去除图形化掩膜;
[0020]第五,在上一步的基础上设置第二缓冲层;
[0021]第六,重复第二至第五步,设置多组复合缓冲层;
[0022]第七,在多组复合缓冲层上设置半导体层。
[0023]进一步的,图形化掩膜通过印刷将高分子材料设置在衬底上。一般采用丝网印刷即可,网版上设置对应的图案,一般设置矩阵型的块状图形即可,网版采用500目,刮刀的压力在100N,此时的丝网印刷效果最佳。
[0024]进一步的,在第二步骤中通过热烘烤加固图形化掩膜。即高分子材料的图形化掩膜在印刷后,及时的通过热烘烤加固,方便第一缓冲层的图案化的高效设置。
[0025]进一步的,高分子材料为保护胶,保护胶可印刷、溶于水且加热时固化。采用这种保护胶,能设计特定的图案,达到第一缓冲层图案化的效果。一般的烘烤温度在150度左右,时长在10分钟,在去除保护胶时,可采用热水浴,温度在80左右,时长在5分钟。
[0026]进一步的,所述真空溅渡采用在50度,1nm每分钟的低镀率下。能有效的保证复合缓冲层的稳定和效果。
[0027]本专利技术一种具有复合缓冲层的近紫外LED外延结构的制备方法的有益效果是,通过此方法设置多层重复的复合缓冲层,能有效的提高晶格不匹配的情况下,生长半导体薄膜的效果,提高晶体的质量,同时也避免了不同种缓冲层之间重复大致的LED效果的减弱,在多层的复合缓冲层内设置存在材质连贯性的缓冲层。
附图说明
[0028]图1为具有复合缓冲层的近紫外LED外延结构的结构示意图。
[0029]图2为一种第一缓冲层的示意图。
[0030]图3为另一种第一缓冲层的示意图。
[0031]图中:
[0032]1、衬底,2、复合缓冲层,3、半导体层,21、第一缓冲层,22、第二缓冲层。
具体实施方式
[0033]下面结合附图对本专利技术的较佳实施例进行详细阐述,以使本专利技术的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解,从而对本专利技术的保护范围做出更为清楚明确的界定。
[0034]参见附图1

3所示,本实施例中的一种具有复合缓冲层的近紫外LED外延结构及其制备方法,外延结构包括依次设置的衬底1、复合缓冲层2和半导体层3,
[0035]复合缓冲层2包括第一缓冲层21和第二缓冲层22,且第一缓冲层21为图案型,且第一缓冲层21为氮化镓层,第二缓冲层22设置在第一缓冲层21上,且第二缓冲层22为三氧化二铝层,且三氧化二铝层的下侧填充在第一缓冲层21的图案内,第一缓冲层21的上侧为平
整的。
[0036]进一步的,复合缓冲层2设置多组,且一般设置在200组以内,当然根据实际需要进行选择即可,一般来说设置在50层即可。
[0037]进一步的,第一缓冲层21和第二缓冲层22通过真空溅渡成型。
[0038]进一步的,复合缓冲层2的总厚度在200nm以内。
[0039]进一步的,衬底1为蓝宝石衬底1、碳化硅衬底1中的一种或两种复合。
[0040]进一步的,半导体层3为硅、锗、镓或宽禁带Ⅲ族氮化物半导体材料中的至少一种。常见的为,在缓冲层上设置U型GaN层、N型GaN层、有源层和P型GaN层。
[0041]一种具有复合缓冲层2的近紫外LED外延结构的有益效果是,通过设置此复合缓冲层2,能有利于晶格不匹配的情况下,更好的生长薄膜,提高晶体的质量,即提高LED外延结构的稳定和质量。
[0042]一种具有复合缓冲层的近紫外LED外延结构的制备方法,
[0043]第一,提供一个清洁的衬底1;
[0044]第二,在衬底1上设置图形化掩膜,且采用横竖条图案,参见附图2;
[0045]第三,利用真空溅镀在第二步的衬底1上设置第一缓冲层21;
[0046]第四,去除图形化掩膜;
[0047]第五,在本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具有复合缓冲层的近紫外LED外延结构,其特征在于:所述外延结构包括依次设置的衬底、复合缓冲层和半导体层,所述复合缓冲层包括第一缓冲层和第二缓冲层,且所述第一缓冲层为图案型,且所述第一缓冲层为氮化镓层,所述第二缓冲层设置在第一缓冲层上,且所述第二缓冲层为三氧化二铝层,且所述三氧化二铝层的下侧填充在第一缓冲层的图案内,所述第一缓冲层的上侧为平整的。2.根据权利要求1所述的一种具有复合缓冲层的近紫外LED外延结构,其特征在于:所述复合缓冲层设置多组,设置在200组以内,且复合缓冲层的总厚度在200nm以内。3.根据权利要求1所述的一种具有复合缓冲层的近紫外LED外延结构,其特征在于:所述第一缓冲层和第二缓冲层通过真空溅渡成型。4.根据权利要求1所述的一种具有复合缓冲层的近紫外LED外延结构,其特征在于:所述半导体层为硅、锗、镓或宽禁带Ⅲ族氮化物半导体材料中的至少一种。5.一种具有复合缓冲层的近紫外...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈逸豪张煜王津
申请(专利权)人:苏州诺斯鲁精密科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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