玻璃油墨层的缺陷检测结构及检测方法技术

本发明专利技术提供了一种玻璃油墨层的缺陷检测结构及检测方法，该缺陷检测结构包括承载片、AR膜层、SiO2膜层和MgF2膜层。其中，承载片为透明材质；AR膜层设于承载片的一表面；SiO2膜层设于承载片的背离AR膜层的表面；MgF2膜层设于SiO2膜层的背离承载片的表面。采用该缺陷检测结构可以在待检测玻璃镀AR膜之前，将原本只有在镀AR膜之后才能显现出来的油墨层缺陷提前显现出来。当检测发现油墨层存在缺陷时，可及时对油墨层缺陷进行返修，有效提高产品良率。该缺陷检测结构很好地解决了玻璃样品镀AR膜后显现出来的油墨层缺陷无法进行返修，导致产品报废的问题；并且该缺陷检测结构结构简单、操作方便、实用性强。实用性强。实用性强。

【技术实现步骤摘要】
玻璃油墨层的缺陷检测结构及检测方法


[0001]本专利技术涉及玻璃外观检测
，特别是涉及一种玻璃油墨层的缺陷检测结构及检测方法。

技术介绍

[0002]AR(Anti
‑
Reflection)膜层是一种光学增透膜层，可应用于一些电子产品(如iPad)的玻璃表面，形成玻璃盖板。这些玻璃盖板的结构包含玻璃基底及设于玻璃基底正面的AR膜层和设于玻璃基底背面的油墨层。在制造的过程中，是先在玻璃基底背面采用丝印等方式形成油墨层，然后在玻璃基底正面采用蒸镀等方式形成AR膜层。在形成油墨层之后而在未形成AR膜层之前，一些油墨层缺陷无法被发现；然而在形成AR膜层之后，由于AR膜层之后玻璃盖板的反射率骤降，一般地，镀膜面的反射率可由镀膜前的约4.2％减少到0.5％左右，此时未形成AR膜层之前无法发现的油墨层缺陷会非常容易就显现出来。
[0003]而且，在镀AR膜层后，如果要对玻璃盖板的油墨层进行返修，则返修过程会对已经形成的AR膜层造成破坏。因此，镀了AR膜层后的玻璃盖板的油墨层缺陷一般不能返修，只能被判定为油墨层缺陷而报废。因此，镀AR膜层后才显现出来的油墨层缺陷会对产品良率造成较大影响，提高生产成本、造成制造浪费。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要提供一种能够无需在玻璃上形成AR膜层、可在形成油墨层后及时发现油墨层缺陷的玻璃油墨层的缺陷检测结构及检测方法。
[0005]本专利技术提出的技术方案如下：
[0006]根据本专利技术的一个方面，提供了一种玻璃油墨层的缺陷检测结构，包括：
[0007]承载片，所述承载片为透明材质；
[0008]AR膜层，设于所述承载片的表面；
[0009]SiO2膜层，设于所述承载片的背离所述AR膜层的表面；及
[0010]MgF2膜层，设于所述SiO2膜层的背离所述承载片的表面。
[0011]在其中一些实施例中，所述SiO2膜层的厚度为60nm～120nm；所述MgF2膜层的厚度为60nm～120nm。
[0012]在其中一些实施例中，所述SiO2膜层的厚度为80nm～100nm；所述MgF2膜层的厚度为84nm～96nm。
[0013]在其中一些实施例中，所述缺陷检测结构还包括：
[0014]AS膜层，所述AS膜层设于所述AR膜层的背离所述承载片的表面。
[0015]在其中一些实施例中，所述AR膜层与含有所述油墨层的待检测玻璃上待镀的AR膜的材质、结构及厚度相同。
[0016]在其中一些实施例中，所述承载片为玻璃片或PMMA片，所述承载片的厚度为0.2mm～1mm。
[0017]根据本专利技术的另一方面，还提供了一种玻璃油墨层的缺陷检测方法，包括如下步骤：
[0018]提供本专利技术上述的缺陷检测结构及含有所述油墨层的待检测玻璃；
[0019]将所述缺陷检测结构以所述MgF2膜层所在表面与所述待检测玻璃以玻璃基板背离所述油墨层的表面贴合，并在相互贴合的两个表面之间加入水形成水界面层；及
[0020]对贴合有所述缺陷检测结构的所述待检测玻璃进行油墨层缺陷检测。
[0021]在其中一些实施例中，所述水界面完全填充所述MgF2膜层与所述待检测玻璃之间的间隙。
[0022]在其中一些实施例中，所述对贴合有所述缺陷检测结构的所述待检测玻璃进行油墨层缺陷检测，包括如下步骤：
[0023]利用光源从所述缺陷检测结构的靠近所述AR膜层的一侧照射所述缺陷检测结构，透过所述缺陷检测结构观察并判断所述待检测玻璃的所述油墨层是否存在缺陷。
[0024]在其中一些实施例中，所述判断所述待检测玻璃的所述油墨层是否存在缺陷，包括如下步骤：
[0025]当所述待检测玻璃的所述油墨层存在划痕、麻点和/或异色时，则判断所述油墨层存在缺陷；否则，判断所述油墨层不存在缺陷。
[0026]与现有技术相比，本专利技术具有如下有益效果：
[0027]本专利技术的玻璃油墨层的缺陷检测结构，在承载片的一面设置AR膜层，另一面设置SiO2膜层，在SiO2膜层的背离承载片的一面设置MgF2膜层。在对待检测玻璃的油墨层进行缺陷检测时，可将待检测玻璃的油墨层一面朝下，待镀膜面朝上，并在待镀膜面上滴加水；然后将缺陷检测结构的MgF2膜层一面放在待镀膜面上；再将贴合后的缺陷检测结构和待检测玻璃一起送入检验工位，对待检测玻璃的油墨层缺陷进行检测。由于SiO2膜层和MgF2膜层的光学干涉作用，使承载片和水界面的反射率大大降低，而水和待检测玻璃待镀膜面界面的反射率也比较低；因此，将缺陷检测结构和待检测玻璃贴合后，其整体的反射率与在待检测玻璃的待镀膜一面上直接镀AR膜后的效果接近。采用此贴合后的结构检测油墨层缺陷和待检测玻璃镀AR膜后检测油墨层缺陷的效果基本一致。因此，该缺陷检测结构可以在待检测玻璃镀AR膜之前，将原本只能在镀AR膜之后才能显现出来的油墨层缺陷提前显现出来，方便对油墨层缺陷进行返修，提高产品良率。
[0028]此外，缺陷检测完成后可将该缺陷检测结构和待检测玻璃进行分离，该缺陷检测结构可以重复利用。并且该缺陷检测结构的结构简单、操作方便、实用性强。
附图说明
[0029]图1为本专利技术实施例1的缺陷检测结构的结构示意图。
[0030]图2为待检测玻璃的结构示意图。
[0031]图3为本专利技术实施例1的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后的结构示意图。
[0032]图4为本专利技术实施例1的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，承载片与水界面的反射率。
[0033]图5为本专利技术实施例1的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，待检测玻璃背离油墨层一面与水界面的反射率。
[0034]图6为待检测玻璃背离油墨层一面的反射率。
[0035]图7为本专利技术实施例2的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，承载片与水界面的反射率。
[0036]图8为本专利技术实施例3的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，承载片与水界面的反射率。
[0037]图9为本专利技术实施例4的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，承载片与水界面的反射率。
[0038]图10为本专利技术实施例5的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，承载片与水界面的反射率。
[0039]图11为本专利技术对比例1的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，承载片与水界面的反射率。
[0040]图12为本专利技术对比例2的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，承载片与水界面的反射率。
[0041]图13为本专利技术对比例3的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，承载片与水界面的反射率。
[0042]图14为本专利技术对比例4的缺陷检测结构与待检测玻璃贴合后，承载片与水界面的反射率。
[0043]附图标记说明：
[0044]10、缺陷检测结构；11、承载片；12、AR膜层；13、SiO2膜层；14、MgF2膜层；15、AS膜层；20、待检测玻璃；21、玻璃基板；22、油墨层；30、水界面层。
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种玻璃油墨层的缺陷检测结构，其特征在于，包括：承载片，所述承载片为透明材质；AR膜层，设于所述承载片的表面；SiO2膜层，设于所述承载片的背离所述AR膜层的表面；及MgF2膜层，设于所述SiO2膜层的背离所述承载片的表面。2.根据权利要求1所述的玻璃油墨层的缺陷检测结构，其特征在于，所述SiO2膜层的厚度为60nm～120nm；所述MgF2膜层的厚度为60nm～120nm。3.根据权利要求1所述的玻璃油墨层的缺陷检测结构，其特征在于，所述SiO2膜层的厚度为80nm～100nm；所述MgF2膜层的厚度为84nm～96nm。4.根据权利要求1所述的玻璃油墨层的缺陷检测结构，其特征在于，所述缺陷检测结构还包括：AS膜层，所述AS膜层设于所述AR膜层的背离所述承载片的表面。5.根据权利要求1所述的玻璃油墨层的缺陷检测结构，其特征在于，所述AR膜层与含有所述油墨层的待检测玻璃上待镀的AR膜的材质、结构及厚度相同。6.根据权利要求1至5任一项所述的玻璃油墨层的缺陷检测结构，其特征在于，所述承载片为玻璃片或PMMA片，所述承载片的厚度为0.2mm～1mm。...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨鹏，
申请(专利权)人：万津实业赤壁有限公司，
类型：发明
国别省市：