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一种ZnO基复合材料及其制备方法和QLED器件技术

技术编号:32969363 阅读:32 留言:0更新日期:2022-04-09 11:32
本发明专利技术提供了一种ZnO基复合材料及其制备方法和QLED器件,属于光电材料技术领域。本发明专利技术提供的ZnO基复合层材料的电阻高于ZnO,降低了电子传输层的电子迁移率,减小了电子注入与传输的效率,有效调控了ZnO层的电子注入能力;其中,胺基修饰的SiO2包覆层的NH2‑

【技术实现步骤摘要】
一种ZnO基复合材料及其制备方法和QLED器件


[0001]本专利技术涉及光电材料
,尤其涉及一种ZnO基复合材料及其制备方法和QLED器件。

技术介绍

[0002]胶体量子点(QDs)因其吸收峰宽,发射峰窄,在整个可见光区域上的发射波长连续可调,并且具有优秀的光致发光量子产率(PLQY),引起了广泛关注。这也决定了以量子点作为发光材料的量子点发光二极管(QuantumDot Light Emitting Diodes,QLED)具有色纯度高、发光效率高等优点,使之成为继传统发光二极管(Light Emitting Diodes,LED)和有机发光二极管 (Organic Light

Emitting Diode,OLED)之后最有前途的下一代照明显示技术。
[0003]目前认为,影响QLED性能的主要因素是量子点本身的荧光量子产率与 QLED的电荷注入。ZnO纳米晶凭借其远高于Liq3等有机材料的电子传输能力,成为了QLED器件电子传输层材料的首选。然而,ZnO电子传输层也存在一些问题:一方面,ZnO与量子点本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种ZnO基复合材料,包括ZnO纳米颗粒,以及依次包覆于所述ZnO纳米颗粒表面的SiO2包覆层和胺基修饰SiO2包覆层;所述SiO2包覆层和胺基修饰SiO2包覆层的质量比为(1~7):1。2.根据权利要求1所述的复合材料,其特征在于,所述ZnO纳米颗粒与SiO2包覆层的质量比为100:(0.1~20)。3.根据权利要求1所述的复合材料,其特征在于,所述SiO2包覆层和胺基修饰SiO2包覆层的总平均厚度为0.1~3nm。4.根据权利要求1~3任意一项所述的复合材料,其特征在于,所述ZnO基复合材料的平均粒径为3~6nm。5.一种如权利要求1~4所述的ZnO基复合材料的制备方法,包括如下步骤:(1)将ZnO纳米颗粒与硅源和溶剂混合进行水解反应,得到SiO2包覆ZnO纳米颗粒的混合液;(2)将所述步骤(1)得到的SiO2包覆ZnO纳米颗粒的混合液与氨基硅源混合后进行水解反应,得到ZnO基复合材料。6.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述步骤(1)和步骤...

【专利技术属性】
技术研发人员:杜祖亮王书杰张肖月方岩
申请(专利权)人:河南大学
类型:发明
国别省市:

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