光栅的测试系统、方法、装置、存储介质和电子装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供了一种光栅的测试系统、方法、装置、存储介质和电子装置，其中，该系统包括：光源模块，光栅连接模块，控制模块和光谱仪，其中，光源模块的输出端与光栅连接模块的输入端连接，控制模块的输入端包括至少两个开关通道，光栅连接模块的输出端与至少两个开关通道的第一通道连接，光栅连接模块的输入端还与至少两个开关通道的第二通道连接，控制模块的输出端与光谱仪连接。通过本发明专利技术，解决了相关技术中存在的光栅的测试效率较低的问题，进而达到了提高光栅的测试效率的效果。而达到了提高光栅的测试效率的效果。而达到了提高光栅的测试效率的效果。

【技术实现步骤摘要】
光栅的测试系统、方法、装置、存储介质和电子装置


[0001]本专利技术实施例涉及光栅测试领域，具体而言，涉及一种光栅的测试系统、方法、装置、存储介质和电子装置。

技术介绍

[0002]近年来，随着信息化技术的快速发展，光栅的使用也越来越广泛，比如，光栅检测，相应地，对光栅的测试也就愈发重要，利用光栅做检测，首先光栅的本身的质量和检测的能力更好，才能使检测的结果更准确，所以对光栅进行测试，一般光栅可以进行透射谱和反射谱测试。目前，都是将光栅与测试光路进行熔接，通过光谱仪来显示光谱，但是测试的类型不一样，操作的方式也不一样，都是通过反复熔接和连接光路来测试光栅。
[0003]针对相关技术中存在的光栅的测试效率较低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供了一种光栅的测试系统、方法、装置、存储介质和电子装置，以至少解决相关技术中存在的光栅的测试效率较低的问题。
[0005]根据本专利技术的一个实施例，提供了一种光栅的测试系统，包括：光源模块，光栅连接模块，控制模块和光谱仪，其中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光栅的测试系统，其特征在于，包括：光源模块，光栅连接模块，控制模块和光谱仪，其中，所述光源模块的输出端与所述光栅连接模块的输入端连接，所述控制模块的输入端包括至少两个开关通道，所述光栅连接模块的输出端与所述至少两个开关通道的第一通道连接，所述光栅连接模块的输入端还与所述至少两个开关通道的第二通道连接，所述控制模块的输出端与所述光谱仪连接；所述光源模块，用于输出光栅测试光源；所述光栅连接模块，用于连接待测试光栅；所述控制模块，用于根据所述待测试光栅的测试类型控制所述第一通道或者所述第二通道的接通；所述光谱仪，用于对所述待测试光栅的光谱进行测试。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述控制模块，包括：光开关和控制器，其中，所述光开关的输入端包括所述至少两个开关通道，所述光开关的输出端与所述光谱仪连接，所述控制器与所述光开关连接；所述控制器，用于根据所述待测试光栅的测试类型控制所述第一通道或者所述第二通道的接通。3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述光栅连接模块的输入端通过第一模式匹配器与所述第二通道连接，其中，所述第一模式匹配器用于将输入光束的光纤类型匹配为下级设备的目标光纤类型，得到所述目标光纤类型的输出光束传输给所述下级设备。4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述光栅连接模块，包括：耦合器，第一N通道分束设备，第二N通道分束设备，第二模式匹配器和衰减器，其中，所述耦合器的输入端与所述光源模块的输出端连接，所述耦合器的输出端与所述第一N通道分束设备的输入端连接，所述第一N通道分束设备包括N个输出端，所述N个输出端中的1个输出端用于连接参考光栅，所述N个输出端中的N
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1个输出端用于连接N
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1个所述待测试光栅，N为大于1的整数；所述第二N通道分束设备包括N个输入端，所述N个输入端中的1个输入端用于连接所述参考光栅，所述N个输入端中的N
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1个输入端用于连接N
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1个所述待测试光栅；所述第二N通道分束设备的输出端与所述第二模式匹配器的输入端连接，所述第二模式匹配器通过所述衰减器与所述控制模块连接；所述衰减器用于对所述第二模式匹配器的输出光束的光束能量进行衰减，得到目标光束能量的光束，所述目标光束能量落入所述光谱仪的光束能量阈值范围，所述光束能量阈值范围用于指示允许所述光谱仪检测的光束能量范围。5.根据权利要求1至4中任一项所述的系统，其特征在于，所述光源模块，包括：激光光源和第三模式匹配器，其中，所述激光光源的输出端与所述第三模式匹配器的输入端连...

【专利技术属性】
技术研发人员：田婷婷，闫大鹏，古杨，施建宏，黄中亚，
申请(专利权)人：武汉锐科光纤激光技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：