子像素定位坐标修正方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种子像素定位坐标修正方法、装置、设备及可读存储介质，涉及OLED面板技术领域，包括对子像素的初始定位坐标进行拟合，得到拟合坐标；根据所述拟合坐标和所述初始定位坐标计算得到坐标畸变值；基于所述坐标畸变值对所述拟合坐标进行修正，得到修正后的子像素坐标。本申请通过对不准确的子像素的初始定位坐标进行拟合，得到更加平滑的定位结果，然后通过拟合坐标对初始定位坐标的畸变程度进行量化处理，最后根据量化结果对拟合坐标进行平滑修正，得到准确的子像素坐标，以提升子像素的定位精度，进而提升亮度提取的精度。进而提升亮度提取的精度。进而提升亮度提取的精度。

【技术实现步骤摘要】
子像素定位坐标修正方法、装置、设备及可读存储介质


[0001]本申请涉及OLED面板
，特别涉及一种子像素定位坐标修正方法、装置、设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]相对于LCD（Liquid Crystal Display，液晶显示器）屏幕来说，OLED（Organic Light
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Emitting Diode，有机发光二极管）因拥有更优秀的功能，且具备更加轻薄、对比度更高、色域显示更广等特性，市场需求旺盛，行业发展速度快，特别是在智能手机领域，OLED正成为智能手机显示屏发展的主流。不过，由于OLED中的各个子像素是独立驱动且自发光的，因此受生产工艺影响，每个子像素在接收到同样驱动信号时的发光强度不一致，进而造成了屏体本身存在亮暗不均的现象，即Mura缺陷。
[0003]而Mura缺陷难以从工艺上完全克服，一般通过外部补偿技术来解决。目前常用的外部补偿方法为光学抽取式（即De
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Mura），该方式结构简单且方法灵活，具体的：先将屏幕点亮后，再通过光学拍摄的方法提取各子像素的亮度，然后进行电压补偿以消除Mura。De
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Mura的补偿效果主要由各像素点的实际亮度和基于亮度计算的Gamma关系决定，因此精确的亮度提取对De
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Mura技术至关重要。而子像素定位作为OLED De
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Mura流程中十分重要的一环，其精度直接影响亮度提取的精度。
[0004]每个像素点都是由RGB（Red、Green、Blue，红、绿、蓝）三种颜色的子像素构成，在早前LCD作为显示屏发展主流的时代，行业通用的标准RGB排列方式并没有任何缺陷。但是，在OLED领域中，不同颜色子像素由于使用材料不同，发光寿命也不同，比如蓝色像素寿命最短；且随着工艺发展和技术革新，更多的子像素排列方案应运而生。因此，在不同的子像素排列下，各颜色的子像素个数和排列方式都可能各不相同，以致给De
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Mura技术中的子像素定位带来了更大的挑战。
[0005]相关技术中，参见图1所示，现有OLED De
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Mura系统在实现子像素定位时，一般包括以下步骤：特定拍摄图像、子像素定位和子像素亮度提取。具体的，首先分别制作显示屏虚拟分辨率的RGB棋盘格图片，然后将图片导入屏体点亮，使用高分辨率相机进行拍摄取图，最后通过图像处理算法在原图上计算出RGB子像素点的定位坐标，进而提取子像素亮度。该方法虽然能够实现子像素的定位，但是，由于在实际取像过程中，RGB棋盘格中的psf（point spread function，点扩展函数）点的弥散斑容易被相机噪声（底噪、热噪声）和相机传感器的量化误差干扰，而子像素点的实际弥散表现各不相同，故在棋盘格定位中，实际整体定位间距可能不平滑，以致定位结果存在一定的误差。比如某个棋盘格方块的边缘定位结果与相邻方块的边缘定位间距发生跳变。

技术实现思路

[0006]本申请提供一种子像素定位坐标修正方法、装置、设备及可读存储介质，以解决相关技术中子像素定位结果误差大的问题。
[0007]第一方面，提供了一种子像素定位坐标修正方法，包括以下步骤：对子像素的初始定位坐标进行拟合，得到拟合坐标；根据所述拟合坐标和所述初始定位坐标计算得到坐标畸变值；基于所述坐标畸变值对所述拟合坐标进行修正，得到修正后的子像素坐标。
[0008]一些实施例中，所述基于所述坐标畸变值对所述拟合坐标进行修正，得到修正后的子像素坐标，包括：将所述坐标畸变值输入高斯滤波器，以供所述高斯滤波器对所述坐标畸变值对应的畸变区域进行滤波处理，得到修复值；根据所述修复值对所述拟合坐标进行修正，得到修正后的子像素坐标。
[0009]一些实施例中，所述对子像素的初始定位坐标进行拟合，得到拟合坐标，包括：基于多项式模型分别对所述子像素的初始定位坐标的横坐标和纵坐标进行拟合，得到所述初始定位坐标对应的拟合坐标。
[0010]一些实施例中，所述基于多项式模型分别对所述子像素的初始定位坐标的横坐标和纵坐标进行拟合，得到所述初始定位坐标对应的拟合坐标，包括：基于各个所述子像素的初始定位坐标的横坐标和像素点排布索引值创建多个第一等式；基于最小二乘法对多个所述第一等式进行求解，得到横坐标的拟合系数；基于各个所述子像素的初始定位坐标的纵坐标和像素点排布索引值创建多个第二等式；基于最小二乘法对多个所述第二等式进行求解，得到纵坐标的拟合系数；将所述横坐标的拟合系数和所述纵坐标的拟合系数输入至多项式模型，得到所述初始定位坐标对应的拟合坐标。
[0011]一些实施例中，所述坐标畸变值包括所述初始定位坐标与所述拟合坐标之间的横向差值和纵向差值。
[0012]第二方面，提供了一种子像素定位坐标修正装置，包括：拟合单元，其用于对子像素的初始定位坐标进行拟合，得到拟合坐标；计算单元，其用于根据所述拟合坐标和所述初始定位坐标计算得到坐标畸变值；修正单元，其用于基于所述坐标畸变值对所述拟合坐标进行修正，得到修正后的子像素坐标。
[0013]一些实施例中，所述修正单元具体用于：将所述坐标畸变值输入高斯滤波器，以供所述高斯滤波器对所述坐标畸变值对应畸变区域进行滤波处理，得到修复值；根据所述修复值对所述拟合坐标进行修正，得到修正后的子像素坐标。
[0014]一些实施例中，所述拟合单元具体用于：基于多项式模型分别对所述子像素的初始定位坐标的横坐标和纵坐标进行拟合，得到所述初始定位坐标对应的拟合坐标。
[0015]第三方面，提供了一种子像素定位坐标修正设备，包括：存储器和处理器，所述存储器中存储有至少一条指令，所述至少一条指令由所述处理器加载并执行，以实现前述的子像素定位坐标修正方法。
[0016]第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机存储介质存储有计算机程序，当所述计算机程序被处理器执行时，以实现前述的子像素定位坐标修正方法。
[0017]本申请提供的技术方案带来的有益效果包括：可有效提升子像素的定位精度。
[0018]本申请提供了一种子像素定位坐标修正方法、装置、设备及可读存储介质，包括对子像素的初始定位坐标进行拟合，得到拟合坐标；根据所述拟合坐标和所述初始定位坐标计算得到坐标畸变值；基于所述坐标畸变值对所述拟合坐标进行修正，得到修正后的子像素坐标。本申请通过对不准确的子像素的初始定位坐标进行拟合，得到更加平滑的定位结果，然后通过拟合坐标对初始定位坐标的畸变程度进行量化处理，最后根据量化结果对拟合坐标进行平滑修正，得到准确的子像素坐标，以提升子像素的定位精度，进而提升亮度提取的精度。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1为现有本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种子像素定位坐标修正方法，其特征在于，包括以下步骤：对子像素的初始定位坐标进行拟合，得到拟合坐标；根据所述拟合坐标和所述初始定位坐标计算得到坐标畸变值；基于所述坐标畸变值对所述拟合坐标进行修正，得到修正后的子像素坐标。2.如权利要求1所述的子像素定位坐标修正方法，其特征在于，所述基于所述坐标畸变值对所述拟合坐标进行修正，得到修正后的子像素坐标，包括：将所述坐标畸变值输入高斯滤波器，以供所述高斯滤波器对所述坐标畸变值对应的畸变区域进行滤波处理，得到修复值；根据所述修复值对所述拟合坐标进行修正，得到修正后的子像素坐标。3.如权利要求1所述的子像素定位坐标修正方法，其特征在于，所述对子像素的初始定位坐标进行拟合，得到拟合坐标，包括：基于多项式模型分别对所述子像素的初始定位坐标的横坐标和纵坐标进行拟合，得到所述初始定位坐标对应的拟合坐标。4.如权利要求3所述的子像素定位坐标修正方法，其特征在于，所述基于多项式模型分别对所述子像素的初始定位坐标的横坐标和纵坐标进行拟合，得到所述初始定位坐标对应的拟合坐标，包括：基于各个所述子像素的初始定位坐标的横坐标和像素点排布索引值创建多个第一等式；基于最小二乘法对多个所述第一等式进行求解，得到横坐标的拟合系数；基于各个所述子像素的初始定位坐标的纵坐标和像素点排布索引值创建多个第二等式；基于最小二乘法对多个所述第二等式进行求解，得到纵坐标的拟合系数；将所述横坐标的拟合系数和所述纵坐标的拟合系数输入至多项式模型，得...

【专利技术属性】
技术研发人员：程姣，梅林海，徐超，
申请(专利权)人：武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：