马赫曾德尔干涉仪光子晶体光纤折射率传感器及制备方法技术

本发明专利技术提供了一种马赫曾德尔干涉仪光子晶体光纤折射率传感器，包括依次耦合的第一单模光纤、细芯光纤、光子晶体光纤以及第二单模光纤，相邻两段光纤通过熔接方式耦合，传输光经过第一单模光纤进入细芯光纤以及光子晶体光纤，最后从第二单模光纤射出。本发明专利技术利用直接熔接的方式，将一段细芯光纤和一段光子晶体光纤熔接在两段单模光纤之间，形成复合型MZI器件，可以通过细芯光纤和光子晶体光纤的长度来获得高质量的干涉光谱，操作简便，加工效率高，成本低，适用于不同类型的光纤折射率器件，本方案相比于传统PCF器件具有更高的折射率灵敏度及更高的条纹分辨率，可用于生物医药和食品等领域。品等领域。品等领域。

【技术实现步骤摘要】
马赫曾德尔干涉仪光子晶体光纤折射率传感器及制备方法


[0001]本专利技术涉及边坡工程安全性评估
，特别涉及一种马赫曾德尔干涉仪光子晶体光纤折射率传感器及制备方法。

技术介绍

[0002]折射率测量在生物、物理、化学等领域有着广泛应用。光子晶体光纤(PCF)由于其包层区域是由一系列孔阵列组成，相较于普通单模光纤具有更低的温度交叉灵敏度，且具有更强的双折射效应，在光纤传感中具有重要应用。马赫曾德尔(MZI)干涉仪具有制造简单、灵敏度高等优点在折射率传感中受到广泛关注。
[0003]现阶段基于MZI的PCF的光纤折射率传感器，主要有锥形PCF
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MZI(图1，引自Wu D,Zhao Y,Li J.PCF taper
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based Mach
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Zehnder interferometer for refractive index sensing in a PDMS detection cell[J].Sensors and Actuators B:Chemical,2015,213:本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种马赫曾德尔干涉仪光子晶体光纤折射率传感器，其特征在于，包括依次耦合的第一单模光纤、细芯光纤、光子晶体光纤以及第二单模光纤，相邻两段光纤通过熔接方式耦合，传输光经过第一单模光纤进入细芯光纤以及光子晶体光纤，最后从第二单模光纤射出。2.根据权利要求1所述的一种马赫曾德尔干涉仪光子晶体光纤折射率传感器，其特征在于，所述第一单模光纤、所述第二单模光纤的芯层和包层直径分别为8.2μm和125μm。3.根据权利要求1所述的一种马赫曾德尔干涉仪光子晶体光纤折射率传感器，其特征在于，所述细芯光纤的芯层和包层直径分别为2.5μm和125μm。4.根据权利要求1所述的一种马赫曾德尔干涉仪光子晶体光纤折射率传感器，其特征在于，所述光子晶体光纤的包层由六层空气孔阵列组成，包层直径125μm，空气孔和芯层直径分别为2.88μm和10.1μm。5.根据权利要求1所述的一种马赫曾德尔干涉仪光子晶体光纤折射率传感器，其特征在于，器件灵敏度能够达到307.25nm/RIU。6.根据权利要求1所述的一种马赫曾德尔干涉仪光子晶体光纤折射率传...

【专利技术属性】
技术研发人员：董欣然，段吉安，孙小燕，银恺，
申请(专利权)人：中南大学，
类型：发明
国别省市：