位置检测装置制造方法及图纸

位置检测装置具有多个发光部、受光部、低频截止部以及位置检测部。多个发光部将根据不同相位的调制信号序列而进行了强度调制的检测光射出。受光部接收检测光由对象物反射后的反射光并变换为电信号。位置检测部基于利用低频截止部而衰减的电信号，对对象物的位置进行检测。如果将根据调制信号序列而进行强度调制的调制期间的最初或者中途的期间设为第1期间、且将除了第1期间以外的期间设为第2期间，则低频截止部使得作为第1期间的截止频率的第1截止频率高于作为第2期间的截止频率的第2截止频率。止频率。止频率。

【技术实现步骤摘要】
位置检测装置


[0001]本公开涉及一种对对象物的位置进行检测的位置检测装置。

技术介绍

[0002]作为对对象物的位置进行检测的位置检测装置，存在光学式的位置检测装置(例如日本特开2011
‑
215099号公报)。
[0003]上述公报记载的位置检测装置具有多个发光部、受光部、以及位置检测部(运算装置)。多个发光部对对象物射出检测光。受光部接收由对象物体反射后的反射光并变换为电信号。位置检测部(运算装置)基于电信号而对对象物的位置进行检测。该装置构成为，经由使低于截止频率的频率的分量衰减的低频截止部，将电信号输入至运算装置。
[0004]在基于位置检测装置的位置检测时，多个发光部依次点亮，并且它们的反射光由受光部检测并输入至运算装置。而且，基于上述检测出的反射光的光量、详细而言为输入至运算装置的电信号，对对象物的位置进行计算(检测)。
[0005]这里，构成低频截止部的高通滤波器电路具有电阻器、电容器，电阻在规定电压下偏置。因此，脉冲串输入至低频截止部时的输出信号以如下方式变化。即，从低频截止部输出的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种位置检测装置，其中，所述位置检测装置具有：多个发光部，它们将根据不同相位的调制信号序列而进行了强度调制的检测光射出；受光部，其接收所述检测光由对象物反射后的反射光并变换为电信号；低频截止部，其使得所述电信号的低于截止频率的频率的信号分量衰减；以及位置检测部，其被输入通过所述低频截止部而衰减后的电信号，并且基于该电信号对所述对象物的位置进行检测，如果将根据所述调制信号序列而进行强度调制的调制期间的最初或者中途的期间设为第1期间，并且将除了所述第1期间以外的期间设为第2期间，则所述低频截止部使得作为所述第1期间的所述截止频率的第1截止频率高于作为所述第2期间的所述截止频率的第2截止频率。2.根据权利要求1所述的位置检测装置，其中，所述第1截止频率是高于针对根据所述调制信号序列进行的强度调制的调制频率的频率。3.根据权利要求1所述的位置检测装置，其中，所述第1期间规定为所述调...

【专利技术属性】
技术研发人员：堀边隆介，安田博，
申请(专利权)人：丰田合成株式会社，
类型：发明
国别省市：