一种带清洁结构的温度测定仪制造技术

技术编号:32879084 阅读:13 留言:0更新日期:2022-04-02 12:12
本发明专利技术公开了一种带清洁结构的温度测定仪,属于温度测定仪技术领域,包括温度测定仪主体,所述温度测定仪主体由检测显示部与探测部组成,所述探测部呈锥形,所述检测显示部上套接有清理套筒,所述清理套筒的内部分为检测清理腔与探测清理腔,所述检测清理腔与探测清理腔分别与检测显示部与探测部的形状相对应。本发明专利技术,从而能够对温度测定仪主体全方位的进行清理,能够直接将吸水清理刷从清理导槽内整条抽出,以方便使用者对吸水清理刷清理重复使用或者更换,其方便的拆装设计,能够提高清理套筒内安装的吸水清理刷能够始终对温度测定仪主体起到较好的清理效果。仪主体起到较好的清理效果。仪主体起到较好的清理效果。

【技术实现步骤摘要】
一种带清洁结构的温度测定仪


[0001]本专利技术涉及温度测定仪
,更具体地说,涉及一种带清洁结构的温度测定仪。

技术介绍

[0002]温度测试仪是测温的高精度仪器,利用固体、液体、气体受温度的影响而热胀冷缩的现象;在定容条件下,气体(或蒸气)的压强因不同温度而变化;热电效应的作用;电阻随温度的变化而变化;热辐射的影响等发生单调的、显著的变化,用来标志温度而制成温度计。
[0003]现有的温度测定仪在使用时,由于其使用环境在使用后其表面往往会附着大量的污渍,待下次使用温度测定仪时,往往会导致温度感应慢或温度测定误差较大的问题,影响温度测定仪的使用,而一般的清理手段费时费力,且清理效果不足,满足不了使用需求,故而提出了一种带清洁结构的温度测定仪来解决此类问题。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中存在的问题,本专利技术的目的在于提供一种带清洁结构的温度测定仪,以解决现有的温度测定仪在使用时,由于其使用环境在使用后其表面往往会附着大量的污渍,待下次使用温度测定仪时,往往会导致温度感应慢或温度测定误差较大的问题,影响温度测定仪使用的问题。
[0005]为解决上述问题,本专利技术采用如下的技术方案。
[0006]一种带清洁结构的温度测定仪,包括温度测定仪主体,所述温度测定仪主体由检测显示部与探测部组成,所述探测部呈锥形,所述检测显示部上套接有清理套筒,所述清理套筒的内部分为检测清理腔与探测清理腔,所述检测清理腔与探测清理腔分别与检测显示部与探测部的形状相对应,所述检测清理腔与探测清理腔之间的内部设置有清理导槽,所述清理导槽呈螺旋状,所述清理导槽的内部安装有吸水清理刷。
[0007]作为上述技术方案的进一步描述:
[0008]所述清理套筒上开设有添液口,所述添液口与清理导槽的内部相连通。
[0009]作为上述技术方案的进一步描述:
[0010]所述吸水清理刷包含有橡胶支撑条,所述橡胶支撑条的外部固定连接有清理套,所述橡胶支撑条包含有安装条与贴合条,所述贴合条与安装条之间一体成型,所述安装条安装于清理导槽的内侧,所述贴合条的内部开设有空腔。
[0011]作为上述技术方案的进一步描述:
[0012]所述温度测定仪主体的顶部一体成型有凸块,所述清理套筒的顶部盖接有盖板,所述盖板的底部开设有与凸块相匹配的卡槽,所述凸块的顶部与卡槽的内壁接触。
[0013]作为上述技术方案的进一步描述:
[0014]所述清理套筒的底部开设有排污口,所述排污口的内侧螺纹连接有密封塞。
[0015]作为上述技术方案的进一步描述:
[0016]所述安装条上开设有均匀分布的凹槽,所述清理套的内侧延伸至凹槽的内部。
[0017]作为上述技术方案的进一步描述:
[0018]所述清理导槽的顶部延伸至清理套筒的顶部。
[0019]作为上述技术方案的进一步描述:
[0020]所述盖板上套接有密封圈,所述密封圈的底部与清理套筒接触。
[0021]相比于现有技术,本专利技术的优点在于:
[0022](1)本方案,通过将使用后的温度测定仪主体塞入清理套筒的内部,利用吸水清理刷与温度测定仪主体的外表面接触,从而对温度测定仪主体上附着的污渍进行清理刷除,螺旋状的清理导槽限制吸水清理刷围绕在温度测定仪主体的外侧,从而能够对温度测定仪主体全方位的进行清理,方便温度测定仪主体的后续使用,确保其温度探测能力不受附着物的影响,当吸水清理刷使用一定次数后,能够直接将吸水清理刷从清理导槽内整条抽出,以方便使用者对吸水清理刷清理重复使用或者更换,其方便的拆装设计,能够提高清理套筒内安装的吸水清理刷能够始终对温度测定仪主体起到较好的清理效果。
[0023](2)本方案,通过添液口,使用者能够向清理导槽的内部添加清洁剂,而清洁剂的类型可以根据温度测定仪主体上附着的污渍适应性选择,从而提高清洁结构的适用范围以及其对温度测定仪主体的清洗效果,满足使用者的使用需求。
[0024](3)本方案,通过橡胶支撑条对清理套进行支撑定型,并通过安装条,方便将清理套安装于清理导槽上并形成螺旋状,而贴合条将清理套撑起,使其与温度测定仪主体贴合接触,通过在贴合条设计出空腔,使的橡胶制的贴合条形变能力进一步提高,从而使得温度测定仪主体的外部能够对支撑清理套的贴合条进行挤压,提高清理套与温度测定仪主体的贴合效果,增强清理套对温度测定仪主体的清理作用。
附图说明
[0025]图1为本专利技术的正视剖视结构示意图;
[0026]图2为本专利技术图1中A部的放大结构示意图;
[0027]图3为本专利技术吸水清理刷的截面结构示意图。
[0028]图中标号说明:
[0029]1、温度测定仪主体;11、检测显示部;12、探测部;2、清理套筒;21、检测清理腔;22、探测清理腔;3、密封圈;4、清理导槽;5、吸水清理刷;51、橡胶支撑条;511、安装条;512、贴合条;52、清理套;53、空腔;6、添液口;7、凸块;8、盖板;9、卡槽;10、排污口;13、凹槽。
具体实施方式
[0030]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述;
[0031]请参阅图1~3,本专利技术中,一种带清洁结构的温度测定仪,包括温度测定仪主体1,温度测定仪主体1由检测显示部11与探测部12组成,探测部12呈锥形,检测显示部11上套接有清理套筒2,清理套筒2的内部分为检测清理腔21与探测清理腔22,检测清理腔21与探测清理腔22分别与检测显示部11与探测部12的形状相对应,检测清理腔21与探测清理腔22之
间的内部设置有清理导槽4,清理导槽4呈螺旋状,清理导槽4的内部安装有吸水清理刷5。
[0032]本专利技术中,通过将使用后的温度测定仪主体1塞入清理套筒2的内部,利用吸水清理刷5与温度测定仪主体1的外表面接触,从而对温度测定仪主体1上附着的污渍进行清理刷除,螺旋状的清理导槽4限制吸水清理刷5围绕在温度测定仪主体1的外侧,从而能够对温度测定仪主体1全方位的进行清理,方便温度测定仪主体1的后续使用,确保其温度探测能力不受附着物的影响,当吸水清理刷5使用一定次数后,能够直接将吸水清理刷5从清理导槽4内整条抽出,以方便使用者对吸水清理刷5清理重复使用或者更换,其方便的拆装设计,能够提高清理套筒2内安装的吸水清理刷5能够始终对温度测定仪主体1起到较好的清理效果。
[0033]请参阅图1,其中:清理套筒2上开设有添液口6,添液口6与清理导槽4的内部相连通。
[0034]本专利技术中,通过添液口6,使用者能够向清理导槽4的内部添加清洁剂,而清洁剂的类型可以根据温度测定仪主体1上附着的污渍适应性选择,从而提高清洁结构的适用范围以及其对温度测定仪主体1的清洗效果,满足使用者的使用需求。
[0035]请参阅图1~3,其中:吸水清理刷5包含有橡胶支撑条51,橡胶支撑条51的外部固定连接有清理套52,橡胶支撑条51包含本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种带清洁结构的温度测定仪,包括温度测定仪主体(1),所述温度测定仪主体(1)由检测显示部(11)与探测部(12)组成,所述探测部(12)呈锥形,其特征在于:所述检测显示部(11)上套接有清理套筒(2),所述清理套筒(2)的内部分为检测清理腔(21)与探测清理腔(22),所述检测清理腔(21)与探测清理腔(22)分别与检测显示部(11)与探测部(12)的形状相对应,所述检测清理腔(21)与探测清理腔(22)之间的内部设置有清理导槽(4),所述清理导槽(4)呈螺旋状,所述清理导槽(4)的内部安装有吸水清理刷(5)。2.根据权利要求1所述的一种带清洁结构的温度测定仪,其特征在于:所述清理套筒(2)上开设有添液口(6),所述添液口(6)与清理导槽(4)的内部相连通。3.根据权利要求1所述的一种带清洁结构的温度测定仪,其特征在于:所述吸水清理刷(5)包含有橡胶支撑条(51),所述橡胶支撑条(51)的外部固定连接有清理套(52),所述橡胶支撑条(51)包含有安装条(511)与贴合条(512),所述贴合条(512)与安装条(511)之间一体成...

【专利技术属性】
技术研发人员:王理尹若静刘倩倩王玲玲尹国庆
申请(专利权)人:蚌埠正浩电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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