本发明专利技术公开了一种触控显示装置异常处理方法，用于对触控显示装置进行异常检测处理，包括步骤：TDDI集成芯片对面板公共电极分块扫描，获取公共电极分块运行参数；将运行参数与规定阈值进行比较，获取公共电极分块运行异常分类结果；对TDDI集成芯片的扫描频率或者负载输入进行修正，以消除运行异常；运行参数包括过孔信号、持续输入负载。还公开了一种异常处理系统。通过对面板公共电极分块扫描，获取公共电极分块运行参数，获取公共电极块的异常类型，例如过孔失效、重载输入等，采取减小采集频率、与周围邻近的VCOM分块进行短接及关闭采集频率，从而减弱或者消除整面出现的个别发亮或发暗的VCOM分块现象。发暗的VCOM分块现象。发暗的VCOM分块现象。
【技术实现步骤摘要】
一种触控显示装置异常处理方法及系统
[0001]本专利技术涉及触控显示
，特别涉及一种触控显示装置异常处理方法及系统。
技术介绍
[0002]触摸显示的发展初始阶段，触摸显示面板是由触摸面板与显示面板贴合而成，以实现触摸显示。需要单独制备触摸面板与显示面板，成本高，厚度较大，且生产效率低。
[0003]随着触摸显示一体化技术的发展，可以将显示面板的触控显示面板的公共电极兼做触控检测的触摸感测电极，通过分时驱动，分时序的进行触摸控制与显示控制，可以同时实现触摸与显示功能。这样，将触摸感测电极直接集成在显示面板内，大大降低了制作成本，提高了生产效率，并降低了面板厚度。
[0004]当复用公共电极作为触摸感测电极时，需要将公共电极层分割为多个电极块。同时，为了实现触摸与显示的分时控制，每个电极块需要通过单独的走线提供电压信号，通过所述走线，在触摸时序为对应电极块提供触摸感测信号，在显示时序为对应电极块提供公共电压信号。
[0005]虽然在触控显示TDDI装置中，将显示功能和触控功能集成于一体，可以有效减少屏幕厚度，降低成本，得到消费者的青睐，但是TDDI类产品由于是将显示公共电极VCOM进行分块，来做触控采集单元，所以经常导致因为VCOM分块RC Loading差异太大，甚至超出了IC所能驱动的极限，势必会引起面板显示异常，比如出现整面显示出现个别VCOM分块异常发亮或者发暗等。
技术实现思路
[0006]现有技术中，TDDI类产品由于是将显示公共电极VCOM进行分块，电极分块作为触控采集单元，导致公共电极分块RC Loading差异太大，甚至超出了IC所能驱动的极限，导致面板显示出现异常发亮或者发暗异常现象。
[0007]针对上述问题，提出一种触控显示装置异常处理方法及系统，通过对面板公共电极分块扫描，获取所述公共电极分块运行参数，获取公共电极块的异常类型，例如过孔失效、重载输入等，采取减小采集频率，或者和周围邻近的VCOM分块进行短接，或者关闭采集频率等，从而减弱或者消除整面出现的个别发亮或发暗的VCOM分块现象。
[0008]第一方面，一种触控显示装置异常处理方法，用于对触控显示装置进行异常检测处理，包括：
[0009]步骤100、TDDI集成芯片对面板公共电极分块扫描，获取所述公共电极分块运行参数；
[0010]步骤200、将所述运行参数与规定阈值进行比较，获取所述公共电极分块运行异常分类结果；
[0011]步骤300、对TDDI集成芯片的扫描频率或者负载输入进行修正，以消除所述运行异
常；
[0012]其中，所述运行参数包括过孔信号、持续输入负载。
[0013]结合本专利技术所述的触控显示装置异常处理方法，第一种可能的实施方式中，所述步骤200包括：
[0014]步骤210、对公共电极块与对应的IC区域进行过孔电平检测；
[0015]步骤220、若所述过孔电平不一致，则判断所述公共电极块过孔失效。
[0016]结合本专利技术所述的触控显示装置异常处理方法，第二种可能的实施方式中，所述步骤还200包括：
[0017]步骤230、计算公共电极块在特定时间段的持续输入负载；
[0018]步骤240、若所述持续输入负载超过规定阈值，则判断所述公共电极块重载输入。
[0019]结合本专利技术第一种可能的实施方式，第三种可能的实施方式中，所述步骤300包括：
[0020]步骤310、检测过孔失效公共电极块负载，获取第一电极块负载；
[0021]步骤320、检测过孔失效公共电极块外围公共电极块负载，获取第二电极块负载；
[0022]步骤330、比较所述第一电极块负载与所述第二电极块负载，若所述第一电极块负载大于所述第二电极块负载，则将所述过孔失效公共电极块与该外围电极块短接。
[0023]结合本专利技术第二种可能的实施方式，第四种可能的实施方式中，所述步骤300还包括：
[0024]步骤340、检测重载输入公共电极块负载，获取第三电极块负载；
[0025]步骤350、检测重载输入公共电极块外围公共电极块负载，获取第四电极块负载；
[0026]步骤360、比较所述第三电极块负载与所述第四电极块负载，若所述第三电极块负载大于所述第四电极块负载，则将所述重载输入公共电极块与该外围电极块短接。
[0027]结合本专利技术第一种可能的实施方式，第五种可能的实施方式中，所述步骤300还包括：
[0028]步骤310a、降低过孔失效公共电极块的扫描频率；
[0029]步骤320a、若所述过孔失效公共电极块的扫描频率小于外围正常电极块的扫描频率，则停止扫描频率修正。
[0030]结合本专利技术第五种可能的实施方式，第六种可能的实施方式中，所述步骤300还包括：
[0031]步骤330a、梯度降低过孔失效公共电极块的扫描频率；
[0032]步骤340a、若所述过孔失效公共电极块扫描频率的小于外围正常电极块扫描频率的100％或者50％，则停止扫描频率修正。
[0033]结合本专利技术第二种可能的实施方式，第七种可能的实施方式中，所述步骤300还包括：
[0034]步骤350a、降低重载输入公共电极块的扫描频率；
[0035]步骤360a、若所述重载输入公共电极块的扫描频率小于外围正常电极块的扫描频率，则停止扫描频率修正。
[0036]结合本专利技术第二种可能的实施方式，第八种可能的实施方式中，所述步骤300还包括：
[0037]步骤370a、梯度降低重载输入公共电极块的扫描频率；
[0038]步骤380a、若所述重载输入公共电极块扫描频率的小于外围正常电极块扫描频率的100％或者50％，则停止扫描频率修正。
[0039]第二方面，一种触控显示装置异常处理系统，利用第一方面的异常处理方法，包括：
[0040]TDDI集成芯片；
[0041]公共电极块；
[0042]扫描模块；
[0043]判断模块；
[0044]校正模块；
[0045]所述扫描模块用于所述TDDI集成芯片对面板公共电极分块扫描，获取所述公共电极分块运行参数；
[0046]所述判断模块用于将所述运行参数与规定阈值进行比较，获取所述公共电极分块运行异常分类结果；
[0047]所述校正模块用于对TDDI集成芯片的扫描频率或者负载输入进行修正，以消除所述运行异常。
[0048]实施本专利技术所述的一种触控显示装置异常处理方法及系统，通过对面板公共电极分块扫描，获取所述公共电极分块运行参数，获取公共电极块的异常类型，例如过孔失效、重载输入等，采取减小采集频率，或者和周围邻近的VCOM分块进行短接，或者关闭采集频率等，从而减弱或者消除整面出现的个别发亮或发暗的VCOM分块现象。
附图说明
[0049]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种触控显示装置异常处理方法，用于对TDDI触控显示装置进行异常检测处理，包括：步骤100、TDDI集成芯片对面板公共电极分块扫描，获取所述公共电极分块运行参数；步骤200、将所述运行参数与规定阈值进行比较，获取所述公共电极分块运行异常分类结果；步骤300、对TDDI集成芯片的扫描频率或者负载输入进行修正，以消除所述运行异常；其中，所述运行参数包括过孔信号、持续输入负载。2.根据权利要求1所述的触控显示装置异常处理方法，其特征在于，所述步骤200包括：步骤210、对公共电极块与对应的IC区域进行过孔电平检测；步骤220、若所述过孔电平不一致，则判断所述公共电极块过孔失效。3.根据权利要求1所述的触控显示装置异常处理方法，其特征在于，所述步骤200还包括：步骤230、计算公共电极块在特定时间段的持续输入负载；步骤240、若所述持续输入负载超过规定阈值，则判断所述公共电极块重载输入。4.根据权利要求2所述的触控显示装置异常处理方法，其特征在于，所述步骤300包括：步骤310、检测过孔失效公共电极块负载，获取第一电极块负载；步骤320、检测过孔失效公共电极块外围公共电极块负载，获取第二电极块负载；步骤330、比较所述第一电极块负载与所述第二电极块负载，若所述第一电极块负载大于所述第二电极块负载，则将所述过孔失效公共电极块与该外围电极块短接。5.根据权利要求3所述的触控显示装置异常处理方法，其特征在于，所述步骤300还包括：步骤340、检测重载输入公共电极块负载，获取第三电极块负载；步骤350、检测重载输入公共电极块外围公共电极块负载，获取第四电极块负载；步骤360、比较所述第三电极块负载与所述第四电极块负载，若所述第三电极块负载大于所述第四电极块负载，则将...
【专利技术属性】
技术研发人员：张东琪，付浩，马鑫兰，张松岩，伍小丰，
申请(专利权)人：信利仁寿高端显示科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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