信息处理方法以及信息处理装置制造方法及图纸

本公开提供信息处理方法以及信息处理装置。该信息处理方法包含如下步骤：算出以图像的视野为基准定义的第1坐标系中的相当于痕迹的特征的位置；算出以图像中记录的工件(4)的位置为基准定义的第2坐标系中的相当于痕迹的特征的位置；算出第1坐标系中的相当于痕迹的特征的位置的第1分布的大小、和第2坐标系中的相当于痕迹的特征的位置的第2分布的大小；和在第1分布的大小与第2分布的大小的差分超过第1给定值的情况下，输出表示相当于痕迹的特征是在加工工序中形成于工件(4)的表面的痕迹的意思的信息，在上述差分为第1给定值以下的情况下，输出表示相当于痕迹的特征是检查工序中的痕迹的误检测的意思的信息。中的痕迹的误检测的意思的信息。中的痕迹的误检测的意思的信息。

【技术实现步骤摘要】
信息处理方法以及信息处理装置


[0001]本公开涉及用于检测形成于工件的表面的痕迹的信息处理方法以及信息处理装置。

技术介绍

[0002]在用于生产工件的制造线中包含：对工件实施加工的加工工序；和检查在加工工序中实施了加工的工件的外观的检查工序。在专利文献1中公开了如下技术：在检查工序中，基于检测到形成于工件的表面的痕迹的检查信息来确定痕迹的产生原因。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：JP特开2004
‑
153228号公报

技术实现思路

[0006]本公开的一个方式所涉及的信息处理方法用于在用于生产工件的制造线所包含的检查工序中检测形成于所述工件的表面的痕迹，其中，该检查工序拍摄通过加工工序实施了加工的所述工件来检查所述工件的外观，该信息处理方法包含如下步骤：(a)在所述检查工序中拍摄的图像中包含相当于所述痕迹的特征的情况下，对每个所述工件算出以所述图像的视野为基准定义的第1坐标系中的相当于所述痕迹的特征的位置；(b)在所述图像中包含相当于所述痕迹的特征的情况下，对每个所述工件算出以所述图像中记录的所述工件的位置为基准定义的第2坐标系中的相当于所述痕迹的特征的位置；(c)算出所述第1坐标系中的相当于所述痕迹的特征的位置的第1分布的大小、和所述第2坐标系中的相当于所述痕迹的特征的位置的第2分布的大小；和(d)在所述第1分布的大小与所述第2分布的大小的差分超过第1给定值的情况下，输出表示相当于所述痕迹的特征是在所述加工工序中形成于所述工件的表面的所述痕迹的意思的信息，在所述第1分布的大小与所述第2分布的大小的差分为所述第1给定值以下的情况下，输出表示相当于所述痕迹的特征是所述检查工序中的所述痕迹的误检测的意思的信息。
附图说明
[0007]图1是表示实施方式所涉及的制造线的概念的图。
[0008]图2是表示实施方式所涉及的制造线的整体的流程的流程图。
[0009]图3是具体表示图2的步骤S104(检查工序)的内容的流程图。
[0010]图4是表示检查工序中由摄像机拍摄的工件的图像的一例的图。
[0011]图5是用于说明图3的流程图的步骤S1045的内容的图。
[0012]图6是用于说明图3的流程图的步骤S1050以及S1051的内容的图。
[0013]图7是表示存放于数据库的位置坐标信息的一例的图。
[0014]附图标记的说明
[0015]2 制造线
[0016]4 工件
[0017]4a 顶面
[0018]6 第1加工设备
[0019]8 第2加工设备
[0020]10 第3加工设备
[0021]12 第1运送装置
[0022]14 第1加工装置
[0023]16，30 卡盘
[0024]17 检查设备
[0025]18 运送装置
[0026]20 摄像机
[0027]22 保存用服务器
[0028]24 数据库
[0029]26 解析用终端
[0030]28 解析结果显示用显示器
[0031]32 图像
[0032]34 特征
具体实施方式
[0033]在专利文献1公开的现有技术中，不能明确地区分加工工序中产生的痕迹和检查工序中的痕迹的误检测。
[0034]本公开的目的在于，提供能明确区分加工工序中产生的痕迹和检查工序中的痕迹的误检测的信息处理方法以及信息处理装置。
[0035]本公开的一个方式所涉及的信息处理方法用于在用于生产工件的制造线所包含的检查工序中检测形成于所述工件的表面的痕迹，该检查工序拍摄通过加工工序实施了加工的所述工件来检查所述工件的外观，所述信息处理方法包含如下步骤：(a)在所述检查工序中拍摄的图像中包含相当于所述痕迹的特征的情况下，对每个所述工件算出以所述图像的视野为基准定义的第1坐标系中的相当于所述痕迹的特征的位置；(b)在所述图像中包含相当于所述痕迹的特征的情况下，对每个所述工件算出以所述图像中记录的所述工件的位置为基准定义的第2坐标系中的相当于所述痕迹的特征的位置；(c)算出所述第1坐标系中的相当于所述痕迹的特征的位置的第1分布的大小、和所述第2坐标系中的相当于所述痕迹的特征的位置的第2分布的大小；和(d)在所述第1分布的大小与所述第2分布的大小的差分超过第1给定值的情况下，输出表示相当于所述痕迹的特征是在所述加工工序中形成于所述工件的表面的所述痕迹的意思的信息，在所述第1分布的大小与所述第2分布的大小的差分为所述第1给定值以下的情况下，输出表示相当于所述痕迹的特征是所述检查工序中的所述痕迹的误检测的意思的信息。
[0036]根据本方式，能明确地区分加工工序中产生的痕迹和检查工序中的痕迹的误检测。其结果，能提高检查工序中的工件的外观检查的精度。
[0037]例如也可以构成为，在所述加工工序中，使用在抓握所述工件的状态下对所述工件实施第1加工的第1加工设备，所述信息处理方法还包含如下步骤：(e)算出所述第2坐标系中的相当于所述痕迹的特征的位置与所述第2坐标系中的所述第1加工设备对所述工件的抓握位置的差分即第1差分，在所述(d)中，在所述第1分布的大小与所述第2分布的大小的差分超过所述第1给定值、且所述第1差分为第2给定值以下的情况下，输出表示所述痕迹的产生要因是缘于所述第1加工设备对所述工件的抓握的意思的信息。
[0038]根据本方式，能确定痕迹的产生要因是缘于第1加工设备对工件的抓握。
[0039]例如也可以构成为，在所述加工工序中，还使用在抓握所述工件的状态下对所述工件实施第2加工的第2加工设备，所述信息处理方法还包含如下步骤：(f)算出所述第2坐标系中的相当于所述痕迹的特征的位置与所述第2坐标系中的所述第2加工设备对所述工件的抓握位置的差分即第2差分，在所述(d)中，在所述第1分布的大小与所述第2分布的大小的差分超过所述第1给定值、且所述第1差分比所述第2差分小、且所述第1差分为所述第2给定值以下的情况下，输出表示所述痕迹的产生要因是缘于所述第1加工设备对所述工件的抓握的意思的信息。
[0040]根据本方式，在痕迹的产生要因是缘于加工工序所包含的多个加工设备中的任一者对工件的抓握的情况下，能准确地确定成为痕迹的产生要因的加工设备。
[0041]例如，也可以构成为，在所述(c)中，在算出所述第2分布的大小后，利用所述第2分布的大小的算出结果来算出所述第1分布的大小。
[0042]根据本方式，在算出第2分布的大小后，利用第2分布的大小的算出结果来算出第1分布的大小，由此能容易地进行第1分布的大小与第2分布的大小的比较。
[0043]本公开的一个方式所涉及的信息处理装置用于在用于生产工件的制造线所包含的检查工序中检测形成于所述工件的表面的痕迹，该检查工序拍摄通过加工工序进行了加工的所述工件来检查所述工件的外观，所述信息处理本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种信息处理方法，用于在用于生产工件的制造线所包含的检查工序中检测形成于所述工件的表面的痕迹，其中，所述检查工序拍摄通过加工工序实施了加工的所述工件来检查所述工件的外观，所述信息处理方法包含如下步骤：(a)在所述检查工序中拍摄的图像中包含相当于所述痕迹的特征的情况下，对每个所述工件算出以所述图像的视野为基准定义的第1坐标系中的相当于所述痕迹的特征的位置；(b)在所述图像中包含相当于所述痕迹的特征的情况下，对每个所述工件算出以所述图像中记录的所述工件的位置为基准定义的第2坐标系中的相当于所述痕迹的特征的位置；(c)算出所述第1坐标系中的相当于所述痕迹的特征的位置的第1分布的大小、和所述第2坐标系中的相当于所述痕迹的特征的位置的第2分布的大小；和(d)在所述第1分布的大小与所述第2分布的大小的差分超过第1给定值的情况下，输出表示相当于所述痕迹的特征是在所述加工工序中形成于所述工件的表面的所述痕迹的意思的信息，在所述第1分布的大小与所述第2分布的大小的差分为所述第1给定值以下的情况下，输出表示相当于所述痕迹的特征是所述检查工序中的所述痕迹的误检测的意思的信息。2.根据权利要求1所述的信息处理方法，其中，在所述加工工序中，使用在抓握所述工件的状态下对所述工件实施第1加工的第1加工设备，所述信息处理方法还包含如下步骤：(e)算出所述第2坐标系中的相当于所述痕迹的特征的位置与所述第2坐标系中的所述第1加工设备对所述工件的抓握位置的差分即第1差分，在所述(d)中，在所述第1分布的大小与所述第2分布的大小的差分超过所述第1给定值、且所述第1差分为第2给定值以下的情况下，输出表示所述痕迹的产生要因是缘于所述第1加工设备对所述工件的抓握的意思的信息。3.根据权利要求2所述的信息处理方法，其中，在所述加工工序中，还使用在抓握所述工件的状态下对所述工件实施第2加工的第2加工设备，所述信...

【专利技术属性】
技术研发人员：原伸夫，山崎刚志，胁谷康一，石川朋幸，高桥成太，
申请(专利权)人：松下知识产权经营株式会社，
类型：发明
国别省市：