一种平面反射镜阵列的校准系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及平面反射镜阵列技术领域，特别涉及一种平面反射镜阵列的校准系统及方法。该系统包括：校准组件、微调组件、控制装置、水平仪和方位仪；校准组件与控制装置电连接，校准组件和待校准的平面反射镜阵列连接，平面反射镜阵列包括镜框和与镜框连接的多块平面反射镜，校准组件用于对平面反射镜阵列中的目标平面反射镜进行水平调整；微调组件用于对除目标平面反射镜外的每块平面反射镜的水平度进行微调；水平仪用于对所有平面反射镜的水平度进行测量；方位仪用于对处于竖直状态的所有平面反射镜的方位角进行校准。本发明专利技术提供了一种平面反射镜阵列的校准系统及方法，具有校准成本低，校准速度快的优异效果。校准速度快的优异效果。校准速度快的优异效果。

【技术实现步骤摘要】
一种平面反射镜阵列的校准系统及方法


[0001]本专利技术涉及平面反射镜阵列
，特别涉及一种平面反射镜阵列的校准系统及方法。

技术介绍

[0002]平面反射镜阵列是由多个平面镜组成的反射镜阵列，平面反射镜阵列能够将太阳光反射到投影点上，为投影点提供视场和能量。然而，平面反射镜阵列结构巨大、投影距离较长，即便单个平面反射镜产生微小的角度变化，也会使投影点的坐标和亮度产生巨大变化，进而影响测量精度。因此，需要对平面反射镜阵列进行校准。
[0003]相关技术中，对平面反射镜阵列进行校准时，通常利用光源将光照射到平面反射镜阵列形成干涉条纹，利用干涉条纹以及波前信息，确定子镜的二维倾角，以实现平面反射镜阵列的校准。然而，利用光学精密仪器进行校准的方式存在成本高且时间长的问题。
[0004]因此，急需一种平面反射镜阵列的校准系统及方法来解决上述问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供了一种平面反射镜阵列的校准系统及方法，具有校准成本低，校准速度快的优异效果。
[0006]第一方面，本专利技术提供了本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种平面反射镜阵列的校准系统，其特征在于，包括：校准组件(1)、微调组件、控制装置(2)、水平仪和方位仪；所述校准组件(1)与所述控制装置(2)电连接，所述校准组件(1)和待校准的平面反射镜阵列(3)连接，所述平面反射镜阵列(3)包括镜框(32)和与所述镜框(32)连接的多块平面反射镜(31)，所述校准组件(1)用于接收由所述控制装置(2)发来的第一校准指令，并根据所述第一校准指令对所述平面反射镜阵列(3)中的目标平面反射镜进行水平调整；所述微调组件用于对除所述目标平面反射镜外的每块平面反射镜(31)的水平度进行微调，以使所有平面反射镜(31)均处于水平状态；所述水平仪用于对所有平面反射镜(31)的水平度进行测量；所述校准组件(1)还用于接收由所述控制装置(2)发来的第二校准指令，并根据所述第二校准指令将所有平面反射镜(31)由水平状态转变为竖直状态；所述方位仪用于对处于竖直状态的所有平面反射镜(31)的方位角进行校准，以使所有平面反射镜(31)的方位角为目标方位角。2.根据权利要求1所述的校准系统，其特征在于，所述校准组件(1)包括位姿调整器(11)、固定于所述位姿调整器(11)上的横梁(12)以及固定于所述横梁(12)上的至少一个副梁(13)，所述副梁(13)与所述镜框(32)连接；所述位姿调整器(11)与所述控制装置(2)连接，所述位姿调整器(11)用于接收所述控制装置(2)发来的所述第一校准指令和所述第二校准指令；所述位姿调整器(11)根据所述第一校准指令，通过与所述横梁(12)、所述副梁(13)配合对所述目标平面反射镜进行水平调整；所述位姿调整器(11)根据所述第二校准指令，通过与所述横梁(12)、所述副梁(13)配合将所有平面反射镜(31)由水平状态转变为竖直状态。3.根据权利要求2所述的校准系统，其特征在于，所述位姿调整器(11)包括水平丝杠、俯仰丝杠和转向机，所述水平丝杠和所述俯仰丝杠通...

【专利技术属性】
技术研发人员：张震坤，王静，范小礼，白翔，徐小琴，周健，王俊，邓蓉，姚石磊，
申请(专利权)人：中国人民解放军六三九二一部队，
类型：发明
国别省市：