一种嵌入式系统中模块化存储方法及系统技术方案

技术编号:32823770 阅读:38 留言:0更新日期:2022-03-26 20:22
本发明专利技术涉及数据储存领域,特别涉及一种嵌入式系统中模块化存储方法及系统,包括数据转换模块、通过计算模块、数据读取模块、通过数据存储模块、数据校验模块和临时缓存区域。本发明专利技术提供的嵌入式中模块化存储方法及系统通过数据转换模块转换待储存数据,适用于当前主流存储芯片,如EEPROM类型、FRAM类型或FLASH类型;并配备多种通讯协议,例如IIC、SPI和IO通讯协议,通用性强;存储过程中,进行数据冗余备份,在目标地址数据损坏时,可将备份数据写入目标地址,保证系统正常运行;在目标地址和备份地址中的数据都损坏的情况下,将默认数据写入两个地址中,保证两种数据都损坏情况下,系统仍然能够正常运行。统仍然能够正常运行。统仍然能够正常运行。

【技术实现步骤摘要】
一种嵌入式系统中模块化存储方法及系统


[0001]本专利技术涉及数据储存领域,特别涉及一种嵌入式系统中模块化存储方法及系统。

技术介绍

[0002]非易失性数据存储是嵌入式系统常用功能,用于数据的存储及读取。一般用于在电源切断之前,将系统正常运行所依赖的传感器等信息进行存储,再次开启后能够正常读取,支持系统恢复正常运行。当前无较为通用的嵌入式存储系统,导致在进行数据存储功能时,需要重新进行设计和研发适用的存储系统,这样的重复开发成本较高且效率低下,还容易引入故障与缺陷。
[0003]目前使用较多的嵌入式数据存储系统的运行流程为:存储功能初始化,包含存储操作和读取操作;设置需存储的数据、存储地址,并进行存入操作;需要读取数据时,设置读取地址,进行读取操作,并将数据读出。
[0004]传统的数据存储的流程方法通用性不强,在不同项目应用存储功能时,需要重新研究设计,浪费了研究成本,还容易引入缺陷。传统的数据储存方法还缺少数据校验过程,不具备对数据正确性的检验措施,在存储过程中可能会出现数据异常问题。传统存储方法保存的数据鲁棒性不强,在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种嵌入式系统中模块化存储方法,包括以下步骤:步骤1)通过数据转换模块,将数据应用层中的原始待储存数据转换为第一字节型数据后;通过计算模块,计算第一字节型数据的第一校验值,并分别写入存储器的预设目标地址DST1和备用地址DST2中;步骤2)通过数据读取模块,基于预设的读取数据长度CNT和数据类型,读取存储器中目标地址DST1中第一字节型数据,作为第二字节型数据,并读取第一校验值;通过数据存储模块,将所述第二字节型数据和第一校验值写入临时缓存区域;通过计算模块,计算第二字节型数据的第二校验值;步骤3)通过数据校验模块,比较所述第一校验值和第二校验值是否相同;若相同,通过数据存储模块,将临时缓存区域中的第二字节型数据和第一校验值覆盖至目标地址DST1中,并执行步骤4);若不同,执行步骤5);步骤4)通过数据读取模块,基于预设的读取数据长度CNT和数据类型,读取存储器中备用地址DST2中的第一字节型数据,作为第三字节型数据,并读取第一校验值,通过数据存储模块,将第三字节型数据和第一校验值写入临时缓存区域;通过计算模块,计算第三字节型数据的第三校验值;通过数据校验模块,比较所述第一校验值和第三校验值是否相同;若相同,则存储完成;若不同,通过数据存储模块,将临时缓存区域中的第二字节型数据和第一校验值写入备用地址DST2中,存储完成;步骤5)通过数据读取模块,基于预设的读取数据长度CNT和数据类型,读取存储器中备用地址DST2中的第一字节型数据,作为第三字节型数据,并读取第一校验值,通过数据存储模块,将第三字节型数据和第一校验值写入临时缓存区域;通过计算模块,计算第三字节型数据的第三校验值;通过数据校验模块,比较所述第一校验值和第三校验值是否相同;若相同,通过数据存储模块,将临时缓存区域中的第三字节型数据和第一校验值写入目标地址DST1中,存储完成;若不同,则通过数据存储模块,将预设的默认字节型数据覆盖至目标地址DST1和备用地址DST2。2.根据权利要求1所述的一种嵌入式系统中模块化存储方法,其特征在于,所述存储方法还包括:步骤6)通过数据转换模块,将目标地址DST1中的字节型数据或默认数据,转换为所需数据类型...

【专利技术属性】
技术研发人员:李洪祥
申请(专利权)人:北京谊安医疗系统股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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