一种确定射频额定平均功率的电气实验方法技术

本发明专利技术公开了一种确定射频额定平均功率的电气实验方法，属于电气数据测试技术领域，包括以下步骤：S1、将射频功率源连接到所测电缆的输入端；S2、将吸收负载连接到所测电缆的负载端；S3、在所测电缆位置处放置光纤温度传感器；S4、对射频功率源的功率输入进行分阶段增加，当光纤温度传感器的数值达到稳定后，记录每个阶段的输入功率以及对应的温度，直到光纤温度传感器的数字达到所测电缆的最大额定温度；对比实验所得的温升与最大导体温度和环境温度之间的差值，当两者数值相等时，即确定输入功率为额定平均功率，通过比较差值的方法，可以准确的得到平均功率，方法简单，准确。准确。准确。

【技术实现步骤摘要】
一种确定射频额定平均功率的电气实验方法


[0001]本专利技术属于电气数据测试
，具体为一种确定射频额定平均功率的电气实验方法。

技术介绍

[0002]射频额定平均功率代表同轴通信电缆能够连续承载的最大平均输入功率，且电缆在额定功率下工作时，其内导体的温度不应超过所规定的允许值。电缆的额定功率取决于电缆内部发热情况及其散热能力，同时与介质材料的耐高温能力有关。电缆内部发热取决于传输的平均功率以及电缆衰减值的高低。电缆的衰减越低，可以传输的平均功率越大，现有测定方法较为复杂，并且不够准确。
[0003]为此，我们提出了一种确定射频额定平均功率的电气实验方法来解决上述问题。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种确定射频额定平均功率的电气实验方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种确定射频额定平均功率的电气实验方法，包括以下步骤：
[0006]S1、将射频功率源连接到所测电缆的输入端；
[0007]S2、将吸收负载连接到所测电缆的负载端；
[0008]S3、在所测电缆位置处放置光纤温度传感器；
[0009]S4、对射频功率源的功率输入进行分阶段增加，当光纤温度传感器的数值达到稳定后，记录每个阶段的输入功率以及对应的温度，直到光纤温度传感器的数字达到所测电缆的最大额定温度；
[0010]S5、计算不同功率阶段的所测电缆的温升，即室温与所测电缆温度的差值；/>[0011]S6、计算不同功率阶段其最大额定环境温度下对应的电缆温度，即最大导体温度；
[0012]S7、将最大导体温度下对应的功率与最大额定温度对应的功率进行比较，最大导体温度下对应的功率不超过最大额定温度时的功率；
[0013]S8、对比实验所得的温升与最大导体温度和环境温度之间的差值，当两者数值相等时，即确定输入功率为额定平均功率。
[0014]进一步优化本技术方案，所述S2中，利用功率计检测所测电缆负载端的功率。
[0015]进一步优化本技术方案，所述S3中，对所测电缆的外导体进行温度测量，将电缆内部钻有一小孔，用于测量内导体的温度。
[0016]进一步优化本技术方案，所述S3中，内导体和外导体的温度测量分别设置3个检测点检测，位置分别位于所测电缆的中心点，以及位于中心点左右0.5米处进行测量。
[0017]进一步优化本技术方案，所述S5和S6中，分别计算内导体的温升和外导体的温升，在最大环境温度下，内导体的温度即为内导体的温升，外导体的温度即为外导体的温升与
最大环境温度之和。
[0018]进一步优化本技术方案，所述S2中，负载失配时，需要利用公式算出额定平均功率的测量误差。
[0019]进一步优化本技术方案，所述S4中，计算光纤温度传感器的数值达到稳定时所需要的馈电时间，当馈电时间为发热时间常数的三倍左右时，光纤温度传感器的数值将趋于一个稳定值。
[0020]进一步优化本技术方案，所述S2和S4中，在电缆的负载端接入电流表，在同一功率时，多次记录多组温度值，记载电流最大时的温度值。
[0021]与现有技术相比，本专利技术提供了一种确定射频额定平均功率的电气实验方法，具备以下有益效果：
[0022]1、对射频功率源的功率输入进行分阶段增加，当光纤温度传感器的数值达到稳定后，记录每个阶段的输入功率以及对应的温度，直到光纤温度传感器的数字达到所测电缆的最大额定温度，分段增加，测定数据更加准确，覆盖范围广，使得结果准确。
[0023]2、将重新计算最大额定环境温度下的所测电缆温度，与最高额定温度进行比较，比较得到的额定功率是不超过最高额定温度时的功率，对比实验所得的温升与最大导体温度和环境温度之间的差值，当两者数值相等时，即确定输入功率为额定平均功率，通过比较差值的方法，可以准确的得到平均功率，方法简单，准确。
附图说明
[0024]图1为效果例SFCFK
‑
50
‑
4电缆射频额定平均功率试验验证结果图；
[0025]图2为效果例SFCFK
‑
50
‑
6电缆射频额定平均功率试验验证结果图；
[0026]图3为效果例SYFY
‑
50
‑
12电缆射频额定平均功率试验验证结果图；
[0027]图4为效果例HCTAY
‑
50
‑
22电缆射频额定平均功率试验验证结果图。
具体实施方式
[0028]下面将结合本专利技术的实施例，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0029]实施例一：
[0030]一种确定射频额定平均功率的电气实验方法，包括以下步骤：
[0031]S1、将射频功率源连接到所测电缆的输入端；
[0032]S2、将吸收负载连接到所测电缆的负载端；
[0033]S3、在所测电缆位置处放置光纤温度传感器；
[0034]其中，光纤温度传感器需要测量内导体和外导体的温度，并分别测量三个位置处的温度，取其平均值，使得实验测得的结果更加的准确，贴近真实值。S4、对射频功率源的功率输入进行分阶段增加，当光纤温度传感器的数值达到稳定后，记录每个阶段的输入功率以及对应的温度，直到光纤温度传感器的数字达到所测电缆的最大额定温度；
[0035]其中，温度上升到一定值即为光线传感器的数值达到稳定状态；
[0036]S5、计算不同功率阶段的所测电缆的温升，即室温与所测电缆温度的差值；其中，内导体的温升＝内导体温度
‑
室温；外导体的温升＝外导体温度
‑
室温；
[0037]S6、计算不同功率阶段其最大额定环境温度下对应的电缆温度，即最大导体温度；
[0038]其中，内导体温度＝内导体的温升+最大额定环境温度；外导体温度＝外导体的温升+最大额定环境温度；
[0039]S7、将最大导体温度下对应的功率与最大额定温度对应的功率进行比较，最大导体温度下对应的功率不超过最大额定温度时的功率；
[0040]S8、对比实验所得的温升与最大导体温度和环境温度之间的差值，当两者数值相等时，即确定输入功率为额定平均功率。
[0041]具体的，所述S2中，利用功率计检测所测电缆负载端的功率。
[0042]其中，利用得到的功率和频射功率源的输出功率计算出其损耗功率，从而得到对应点的功率数值。
[0043]具体的，所述S3中，对所测电缆的外导体进行温度测量，将电缆内部钻有一小孔，用于测量内导体的温度。
[0044]其中，使得光纤温度传感器的所测值能更加本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种确定射频额定平均功率的电气实验方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、将射频功率源连接到所测电缆的输入端；S2、将吸收负载连接到所测电缆的负载端；S3、在所测电缆位置处放置光纤温度传感器；S4、对射频功率源的功率输入进行分阶段增加，当光纤温度传感器的数值达到稳定后，记录每个阶段的输入功率以及对应的温度，直到光纤温度传感器的数字达到所测电缆的最大额定温度；S5、计算不同功率阶段的所测电缆的温升，即室温与所测电缆温度的差值；S6、计算不同功率阶段其最大额定环境温度下对应的电缆温度，即最大导体温度；S7、将最大导体温度下对应的功率与最大额定温度对应的功率进行比较，最大导体温度下对应的功率不超过最大额定温度时的功率；S8、对比实验所得的温升与最大导体温度和环境温度之间的差值，当两者数值相等时，即确定输入功率为额定平均功率。2.根据权利要求1所述的一种确定射频额定平均功率的电气实验方法，其特征在于，所述S2中，利用功率计检测所测电缆负载端的功率。3.根据权利要求1所述的一种确定射频额定平均功率的电气实验方法，其特征在于，所述S3中，对所测电缆的外导体进行温度测量，将电缆内部钻有一小孔，...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖仁贵，胡震杰，陈斌，沈林林，张洋，丁晓莉，沈东妹，刘修红，
申请(专利权)人：通鼎互联信息股份有限公司，
类型：发明
国别省市：