缺陷检测方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质技术方案

本申请公开了一种缺陷检测方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质，该缺陷检测方法包括：获得包含待测面的图像组；其中，图像组包括第一图像和第二图像，第一图像和第二图像均分别包括高亮度区域和低亮度区域，图像组中第一图像的高亮度区域和第二图像的高亮度区域拼接成的区域包括待测面；对图像组中第一图像和第二图像进行待测面的缺陷检测，获得待测面对应的缺陷预检区域。上述方案，能够提高缺陷检测的准确率。检测的准确率。检测的准确率。

【技术实现步骤摘要】
缺陷检测方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质


[0001]本申请涉及机器视觉
，特别是涉及一种缺陷检测方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]产品的生产过程中，由于受到环境、设备等多个方面的影响，产品表面会产生划痕、赃物等缺陷，产品表面的缺陷严重影响了产品的质量，现有技术中人工目检的方式准确率较低且效率较低，利用智能模型对图像数据进行分析的方式效率较高，但是图像数据通常是利用固定位置的摄像装置进行采集，但是受到复杂环境的影响，基于单一视场的图像数据进行缺陷检测的准确率也较低。有鉴于此，如何提高缺陷检测的准确率成为亟待解决的问题。

技术实现思路

[0003]本申请主要解决的技术问题是提供一种缺陷检测方法、系统、电子设备和计算机可读存储介质，能够提高缺陷检测的准确率。
[0004]为解决上述技术问题，本申请第一方面提供一种缺陷检测方法，包括：获得包含待测面的图像组；其中，所述图像组包括第一图像和第二图像，所述第一图像和所述第二图像均分别包括高亮度区域和低亮度区域，所述图像组中所述第一图像的所述高亮度区域和所述第二图像的所述高亮度区域拼接成的区域包括所述待测面；对所述图像组中所述第一图像和所述第二图像进行待测面的缺陷检测，获得所述待测面对应的缺陷预检区域。
[0005]为解决上述技术问题，本申请第二方面提供一种缺陷检测系统，包括：光源、摄像装置和处理器，其中，光源用于向待测面的部分区域打光；摄像装置用于在所述光源对所述待测面的部分区域进行打光时，采集所述待侧面的图像；处理器与所述摄像装置耦接，用于接收所述摄像装置所采集的图像，并执行上述第一方面所述的方法。
[0006]为解决上述技术问题，本申请第三方面提供一种电子设备，该电子设备包括：相互耦接的存储器和处理器，其中，所述存储器存储有程序数据，所述处理器调用所述程序数据以执行上述第一方面或上述第二方面所述的方法。
[0007]为解决上述技术问题，本申请第四方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有程序数据，所述程序数据被处理器执行时实现上述第一方面或上述第二方面所述的方法。
[0008]上述方案，获取包含待测面的图像组，其中，图像组包括第一图像和第二图像，且第一图像和第二图像均分别包括高亮度区域和低亮度区域，且同组内的第一图像的高亮度区域和第二图像的高亮度区域拼接成的区域包括待测面，也就是说获得的同组内的第一图像和第二图像均包括高亮度区域和低亮度区域，且同组内的第一图像和第二图像的高亮度区域拼接起来的区域大于或等于待测面对应的区域，从而降低强光照条件下使待测面产生强反射造成缺陷处成像不清晰的概率，对图像组中第一图像和第二图像进行待测面的缺陷
检测获得待测面对应的缺陷预检区域，进而从缺陷预检区域中获得更准确的缺陷结果，提高缺陷检测的准确率。
附图说明
[0009]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：
[0010]图1是本申请缺陷检测方法一实施方式的流程示意图；
[0011]图2是本申请第一图像和第二图像对应的一实施方式的应用场景示意图；
[0012]图3是本申请缺陷检测方法另一实施方式的流程示意图；
[0013]图4是本申请检测模块对应的一实施方式的结构示意图；
[0014]图5是本申请缺陷检测系统一实施方式的结构示意图；
[0015]图6是本申请电子设备一实施方式的结构示意图；
[0016]图7是本申请计算机可读存储介质一实施方式的结构示意图。
具体实施方式
[0017]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性的劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0018]本文中术语“系统”和“网络”在本文中常被可互换使用。本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。此外，本文中的“多”表示两个或者多于两个。
[0019]请参阅图1，图1是本申请缺陷检测方法一实施方式的流程示意图，该方法包括：
[0020]S101：获得包含待测面的图像组，其中，图像组包括第一图像和第二图像，第一图像和第二图像均分别包括高亮度区域和低亮度区域，图像组中第一图像的高亮度区域和第二图像的高亮度区域拼接成的区域包括待测面。
[0021]具体地，待测面经过光源在不同时刻从不同角度进行打光，进而获得摄像装置采集的待测面对应的图像组，且图像组包括第一图像和第二图像。其中，偶数个光源按组设置，每组中包括两个光源且对称设置于待测面的两侧，光源在打光时，同组设置的光源分别对待测面上的部分区域进行打光，摄像装置在光源打光时采集图像数据。其中，待测面为待测物体的其中一个表面。
[0022]进一步地，请参阅图2，图2是本申请第一图像和第二图像对应的一实施方式的应用场景示意图，将同组内第一个光源打光时采集到的图像定义为第一图像如图2中A所示，将同组内第二个光源打光时采集到的图像定义为第二图像如图2中B所示，其中，高亮度区域为待测面被光源打光的区域曝光后在图像数据上形成的区域，低亮度区域为图像数据上高亮度区域之外的其他区域。
[0023]进一步地，图像组中第一图像的高亮度区域和第二图像的高亮度区域拼接成的区域包括待测面，也就是说图像组中第一图像的高亮度区域和第二图像的高亮度区域所拼接成的图像完全包括待测面对应的同尺寸的图像，因此，图像组对应的光源在打光时对待测面的部分区域进行打光，且同组内光源打光的区域完全覆盖待测面，从而降低强光照条件下使待测面产生强反射造成缺陷处成像不清晰的概率。
[0024]在一应用场景中，摄像装置对着待测物体的待测面安装，偶数个光源按组分配，且每组中的两个光源对称设置于待测物体的两侧，并与待测物品成预设角度(例如：30度、45度或60度等)，光源依次亮起对待测面进行打光，同时摄像装置在光源打光时，按顺序在不同时刻采集待测面对应的图像数据，图像数据按光源的分组方式分成图像组。
[0025]S102：对图像组中第一图像和第二图像进行待测面的缺陷检测，获得待测面对应的缺陷预检区域。
[0026]具体地，利用检测算法或检测模块对图像组中第一图像和第二图像进行待测面的缺陷检测，得到待测面对应的缺陷预检区域。其中，缺陷预检区域为待测面上包括缺陷的检测框。
[0027]在一应用方式中，利用检测模型对对图像组中第一图像和第二图像进行待测面本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：获得包含待测面的图像组；其中，所述图像组包括第一图像和第二图像，所述第一图像和所述第二图像均分别包括高亮度区域和低亮度区域，所述图像组中所述第一图像的所述高亮度区域和所述第二图像的所述高亮度区域拼接成的区域包括所述待测面；对所述图像组中所述第一图像和所述第二图像进行待测面的缺陷检测，获得所述待测面对应的缺陷预检区域。2.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述第一图像和所述第二图像基于不同角度的打光在不同时刻采集，所述第一图像和所述第二图像包括第一中轴线，位于所述第一中轴线一侧的区域为高亮度区域，位于所述第一中轴线另一侧的区域为低亮度区域。3.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述图像组中所述第一图像和所述第二图像进行待测面的缺陷检测，获得所述待测面对应的缺陷预检区域的步骤，包括：将所述图像组中的所述第一图像和所述第二图像分别输入检测模型获得所述图像组对应的融合特征，并基于所述融合特征确定所述待测面对应的缺陷预检区域；其中，所述融合特征是基于所述第一图像的第一特征和所述第二图像的第二特征得到的，所述检测模型基于多个历史图像组进行训练获得。4.根据权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述检测模型至少包括第一图像通道和第二图像通道，所述将所述图像组中的所述第一图像和所述第二图像分别输入检测模型获得所述图像组对应的融合特征的步骤，包括：基于所述第一图像通道对所述图像组中的所述第一图像进行特征提取，得到第一特征；以及基于所述第二图像通道对所述图像组中的所述第二图像进行特征提取，得到第二特征；将所述第一特征和所述第二特征融合，获得所述图像组对应的融合特征。5.根据权利要求3所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述图像组包括多个，所述将所述图像组中的所述第一图像和所述第二图像分别输入检测模型获得所述图像组对应的融合特征，并基于所述融合特征确定所述待测面对应的缺陷预检区域的步骤，包括：将所述多个图像组中各个图像组的所述第一图像和所述第二图像分别输入检测模型获得所述各个图像组对应的融合特征，并基于获得的各个融合特征确定待测面对应的缺陷预检子区域；将获得的各个所述缺陷预检子区域并集后的区域，确定为所述待测面对应的缺陷预检区域。6.根据权利要求1所述的缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述图像组中所述第一图像和所述第二图像进行待测面的缺陷检测，获得所述待测面对应的缺陷预检区域的步骤之后，还包括：将所述缺陷预检区域的边界外扩，获得缺陷定量区域；对所述缺陷定量区域进行阈值分割，获得所述缺陷定量区域中的缺陷定位区...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡旗，潘华东，殷俊，高美，李中振，
申请(专利权)人：浙江大华技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：