新型光谱仪和基于DLP技术的光强检测方法技术

本发明专利技术公开一种新型光谱仪和基于DLP技术的光强检测方法，其中，新型光谱仪包括依次设置的入射狭缝、准直元件、色散元件、DLP挡光板以及探测器；其中，所述DLP挡光板，用以将经所述色散元件按波长分散成的多条光束以预设规则转变为包含CIEXYZ三刺激值的投影光；探测器，位于所述DLP挡光板的投影面上，用以测量所述投影光中的CIEXYZ三刺激值。本发明专利技术技术方案能提高光谱仪检测CIERGB的效率。能提高光谱仪检测CIERGB的效率。能提高光谱仪检测CIERGB的效率。

【技术实现步骤摘要】
新型光谱仪和基于DLP技术的光强检测方法


[0001]本专利技术涉及光谱仪产品
，特别涉及一种新型光谱仪和基于DLP技术的光强检测方法。

技术介绍

[0002]现有光谱仪的原理是入射光依次穿过入射狭缝、准直元件、色散元件到达探测器阵列，再通过探测器阵列上的感应器获取各个波长位置处的光强值，绘制出光谱曲线，最后通过光谱曲线经计算得到R/G/B的值；然而，在以上过程中，为了绘制光谱曲线，必须记录每一点处的光强值，即探测器阵列上针对每一点处均需设置一感应器，基于各个感应器的感应值，才能绘制光谱曲线，容易理解，各个感应器累积的感应时间较长，延长了光谱仪的响应时间，影响了光谱仪检测R/G/B的工作效率。

技术实现思路

[0003]本专利技术的主要目的是提出一种新型光谱仪，旨在解决现有技术中光谱仪检测R/G/B的工作效率低的技术问题。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提出的新型光谱仪，包括依次设置的入射狭缝、准直元件、色散元件、DLP挡光板以及探测器；其中，
[0005]所述DLP挡光板，用以将经所述色散元件按波长分散成的多条光束以预设规则转变为包含CIEXYZ三刺激值的投影光；
[0006]探测器，位于所述DLP挡光板的投影面上，用以测量所述投影光中的CIEXYZ三刺激值。
[0007]可选地，所述DLP挡光板具有与每一经所述色散元件按波长分散成的光束一一对应的挡光区域，各所述挡光区域相较于竖直平面的倾斜角度各不相同。
[0008]可选地，所述探测器还用以根据CIEXYZ三刺激值结合加混色定律及转换矩阵方法计算CIERGB值。
[0009]可选地，所述准直元件集成于所述色散元件面向所述入射狭缝的一侧。
[0010]可选地，所述准直元件和色散元件由凹面光栅构成。
[0011]本专利技术还提出一种基于DLP技术的光强检测方法，使用新型光谱仪，新型光谱仪包括依次设置的入射狭缝、准直元件、色散元件、DLP挡光板以及探测器；其中，所述DLP挡光板，用以将经所述色散元件按波长分散成的多条光束以预设规则转变为包含CIEXYZ三刺激值的投影光；探测器，位于所述DLP挡光板的投影面上，用以测量所述投影光中的CIEXYZ三刺激值；
[0012]将所述入射狭缝对准待测光源，以使入射光穿过所述入射狭缝形成所述新型光谱仪成像系统的物点，透过所述入射狭缝的光线经所述准直元件转变为平行光，所述平行光经过所述色散元件按波长分散为多条光束，所述多条光束照射至所述DLP挡光板，转变为包含CIEXYZ三刺激值的投影光，所述投影光投射至所述探测器，以供所述探测器测量CIEXYZ
三刺激值。
[0013]可选地，在所述多条光束照射至所述DLP挡光板的步骤之前，调整所述DLP挡光板上各挡光区域处的倾角，以使各挡光区域相较于竖直平面的角度各不相同。
[0014]可选地，在所述投影光投射至所述探测器，以供所述探测器测量CIEXYZ三刺激值的步骤之后，根据测量获得的CIEXYZ三刺激值结合加混色定律及转换矩阵方法计算CIERGB值。
[0015]本专利技术技术方案通过在光谱仪的色散元件与探测器之间引入DLP挡光板，该DLP挡光板可以将入射光束以预设规则转变为包含CIEXYZ三刺激值的投影光，投影光到达探测器以后，探测器通过测量其CIEXYZ即可通过计算推理出CIERGB，显然，如此设计，避免了记录各个波长光处的光强，以绘制光谱曲线，换言之，即可避免引入用于测量每一点处光强的多个感应器，继而避免多个感应器感应时间的累加，从而有效缩短光谱仪检测CIERGB的时间，提高其响应效率。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0017]图1为本专利技术新型光谱仪一实施例的光路示意图。
[0018]附图标号说明：
[0019]标号名称标号名称1入射狭缝2准直元件3色散元件4DLP挡光板5探测器6聚焦元件
[0020]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0021]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0022]需要说明，若本专利技术实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0023]另外，若本专利技术实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结
合不存在，也不在本专利技术要求的保护范围之内。
[0024]本专利技术提出一种新型光谱仪。
[0025]在本专利技术实施例中，如图1，该新型光谱仪包括依次设置的聚焦元件6、入射狭缝1、准直元件2、色散元件3、DLP挡光板4以及探测器5；其中，
[0026]DLP挡光板4，用以将经色散元件3按波长分散成的多条光束以预设规则转变为包含CIEXYZ三刺激值的投影光；
[0027]探测器5，位于DLP挡光板4的投影面上，用以测量投影光中的CIEXYZ三刺激值。
[0028]可以理解，入射狭缝1，用以在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点，准直元件2用以使狭缝发出的光线变为平行光，色散元件3用以使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。本实施例中，准直元件2和色散元件3由凹面光栅构成，以有效简化新型光谱仪的整体结构，当然，于其他实施例中，该准直元件2可以是一独立的透镜、反射镜，本设计不限于此。
[0029]可以理解，DLP(Digital Light Processing)即数字光处理，这种技术要先把影响信号经过数字处理，然后再把光投影出来，而本实施例中的DLP挡光板4，即是将各个波长入射的光强经过数字处理计算(例如但不限于：乘以不同系数值)，以将光束转变为包含CIEXYZ三刺激值的投影光。
[0030]关于CIEXYZ与CIEXYZ值的关系，光谱三刺激值是由CIERGB光谱三刺激值经过数学变换得到的，记为CIERGB本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种新型光谱仪，其特征在于，包括依次设置的入射狭缝、准直元件、色散元件、DLP挡光板以及探测器；其中，所述DLP挡光板，用以将经所述色散元件按波长分散成的多条光束以预设规则转变为包含CIEXYZ三刺激值的投影光；探测器，位于所述DLP挡光板的投影面上，用以测量所述投影光中的CIEXYZ三刺激值。2.如权利要求1所述的新型光谱仪，其特征在于，所述DLP挡光板具有与每一经所述色散元件按波长分散成的光束一一对应的挡光区域，各所述挡光区域相较于竖直平面的倾斜角度各不相同。3.如权利要求1所述的新型光谱仪，其特征在于，所述探测器还用以根据CIEXYZ三刺激值结合加混色定律及转换矩阵方法计算CIERGB值。4.如权利要求1所述的新型光谱仪，其特征在于，所述准直元件集成于所述色散元件面向所述入射狭缝的一侧。5.如权利要求4所述的新型光谱仪，其特征在于，所述准直元件和色散元件由凹面光栅构成。6.一种基于DLP技术的光强检...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨荣华，
申请(专利权)人：深圳思凯测试技术有限公司，
类型：发明
国别省市：