导入测试档案的方法、系统及工作机技术方案

本申请公开一种导入测试档案的方法、系统及工作机，其中，导入测试档案的方法包括：工作机获取待测试产品的第一配对信息并上传至存储有若干测试档案的服务器；工作机接收服务器根据第一配对信息匹配的目标测试档案，并清除存在于工作机内除目标测试档案以外的其他测试档案。本申请能够避免测试人员在进行测试芯片时选错测试档案，从而提高测试准确性，并且提高测试效率。提高测试效率。提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
导入测试档案的方法、系统及工作机


[0001]本申请涉及测试档案调用领域，具体涉及一种导入测试档案的、系统及工作机。

技术介绍

[0002]在对芯片进行测试时，需要针对芯片的测试内容对机台设置对应的参数以及功能，为了节省时间并提高测试效率，测试人员一般会将对应芯片测试的机台参数以及相应的功能设置整合成测试档案，以便后续需要进行测试时直接在机台内导入测试档案，现如今，由于测试档案都是直接储存在机台上，在对芯片测试时，需要在众多测试档案中寻找到对应芯片的测试档案，一旦测试人员选择档案时大意疏忽，则可能会选错测试档案，进而导致测试失败或者得到错误的测试结果。
[0003]因此，设计一种能够解决上述问题的导入测试档案的方法、系统及工作机显得尤为重要。

技术实现思路

[0004]本申请的目的在于提供一种导入测试档案的方法、系统及工作机，能够避免在进行测试芯片时选错测试档案，从而提高测试准确性，并且提高测试效率。
[0005]为实现上述目的，本申请提供了一种导入测试档案的方法，包括：
[0006]工作机获取待测试产品本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种导入测试档案的方法，其特征在于，包括：工作机获取待测试产品的第一配对信息并上传至存储有若干测试档案的服务器；所述工作机接收所述服务器根据所述第一配对信息匹配的目标测试档案，并清除存在于所述工作机内除所述目标测试档案以外的其他测试档案。2.如权利要求1所述的导入测试档案的方法，其特征在于，所述测试档案具有第二配对信息；所述服务器根据所述第一配对信息匹配目标测试档案包括：根据所述第一配对信息匹配所述测试档案的所述第二配对信息，将匹配成功的所述测试档案确定为所述目标测试档案。3.如权利要求2所述的导入测试档案的方法，其特征在于，若所述服务器内不存在匹配成功的所述测试档案，则反馈错误信息至所述工作机。4.如权利要求2所述的导入测试档案的方法，其特征在于，所述第一配对信息和所述第二配对信息分别包括档案名称。5.如权利要求1所述的导入测试档案的方法，其特征在于，还包括：所述工作机创建或修改所述测试档案并上传至所述服务器。6.如权利要求5所述的导入测试档案的方法，其特征在于，还包括：每次上传所述测试档案至所述服务器时，记录所述测试档案的创建信息和/或修改信息。7.如权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈超村，郑挺，郑朝生，林泽详，卢旭坤，袁俊，辜诗涛，
申请(专利权)人：广东利扬芯片测试股份有限公司，
类型：发明
国别省市：