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壁面残余应力测试夹具及其操作方法技术

技术编号:32731427 阅读:11 留言:0更新日期:2022-03-20 08:37
本发明专利技术提供一种壁面残余应力测试夹具及其操作方法,其中的壁面残余应力测试夹具,用于与衍射仪尤拉环样品台配合使用,包括外圈固定框架,所述外圈固定框架具有中心通孔,所述中心通孔内设有载物台,所述载物台的顶部用于承载固定待测物体,所述载物台的高度位置能够沿着所述中心通孔的轴向被调整。根据本发明专利技术,通过所述载物台的高度位置的轴向调整实现了其上的待测物体的位置调整,从而在实现对待测物体的定位的同时保证所述待测物体能够被调整到衍射仪检测头的需求位置,进而有效降低采用衍射仪尤拉环样品台对壁面的残余应力的测量过程的操作难度,提高测量效率。提高测量效率。提高测量效率。

【技术实现步骤摘要】
壁面残余应力测试夹具及其操作方法


[0001]本专利技术属于壁面残余应力测试夹具设计
,具体涉及一种壁面残余应力测试夹具及其操作方法。

技术介绍

[0002]残余应力是一种内应力,内应力是指产生应力的各种因素不复存在时(如外加载荷去除、加工完成、温度已均匀、相变过程终止等),由于形变,体积变化不均匀而存留在构件内部并自身保持平衡的应力。
[0003]残余应力与构件的疲劳强度,耐应力腐蚀和尺寸稳定等密切相关。如焊接引起的残余应力能使构件变形,在特殊介质中工作构件表面张力会造成应力腐蚀,热处理或磨削产生的残余应力往往是量具尺寸稳定性下降的原因,这些残余应力都是要尽量避免和设法消除的;而某些情况下残余应力是有利的,如承受往复载荷的曲轴在轴颈表面有适当的压应力可提高其疲劳寿命。因此测定残余应力对控制各类加工工艺,检查表面强化或消除应力的工艺效果以及进行失效分析等都有重要意义。对于壁面的残余应力,目前公开的技术方案中多采用粘贴应变片的方法获取,其方法操作复杂,计算繁琐,不利于残余应力的测量。而采用衍射仪尤拉环样品台通过X射线则能够非常方便的获取到壁面的残余应力,但是现有技术中缺少对待测物体的定位夹持装置,使其残余应力的测量过程具有操作难度、测量效率较低。

技术实现思路

[0004]因此,本专利技术提供一种壁面残余应力测试夹具及其操作方法,以能够降低采用衍射仪尤拉环样品台对壁面的残余应力的测量过程的操作难度,提高测量效率。
[0005]为了解决上述问题,本专利技术提供一种壁面残余应力测试夹具,用于与衍射仪尤拉环样品台配合使用,包括外圈固定框架,所述外圈固定框架具有中心通孔,所述中心通孔内设有载物台,所述载物台的顶部用于承载固定待测物体,所述载物台的高度位置能够沿着所述中心通孔的轴向被调整。
[0006]在一些实施方式中,所述壁面残余应力测试夹具还包括高度调整件,所述高度调整件处于所述载物台的底部以对所述载物台形成支撑,所述高度调整件的外圆周侧与所述中心通孔的孔壁之间螺纹连接。
[0007]在一些实施方式中,所述载物台上具有沿着轴向贯通的第一键槽,所述高度调整件与所述载物台相对应的端面上具有第二键槽,键插装于所述第一键槽与所述第二键槽中,以能够通过旋转所述载物台带动所述高度调整件旋转;和/或,所述载物台凸出于所述中心通孔的外圆周壁上构造有防滑结构。
[0008]在一些实施方式中,所述防滑结构包括滚花。
[0009]在一些实施方式中,所述载物台与所述高度调整件之间具有径向限位结构;优选地,所述径向限位结构为凹凸配合结构。
[0010]在一些实施方式中,所述载物台的顶部具有沿其径向贯通的第一V形槽,所述第一V形槽的开口朝上;和/或,还包括锁定件,所述锁定件能够锁定所述载物台相对于所述外圈固定框架的轴向及周向位置。
[0011]在一些实施方式中,所述载物台的顶部还具有沿其径向贯通的第二V形槽,所述第二V形槽的开口朝上,所述第一V形槽与所述第二V形槽形成交叉。
[0012]在一些实施方式中,所述壁面残余应力测试夹具还包括定位结构,所述定位结构能够与所述第一V形槽和/或所述第二V形槽一起对所述待测物体形成夹持。
[0013]在一些实施方式中,所述定位结构包括连接于所述载物台上的螺钉以及能够张紧于两个所述螺钉之间的弹性线体。
[0014]在一些实施方式中,所述衍射仪尤拉环样品台包括平板,所述外圈固定框架被夹持固定于所述平板上;优选地,所述衍射仪尤拉环样品台还包括:样品台定位框架,所述样品台定位框架呈U型,包括底板和两侧壁,两侧壁的顶端相向延伸形成翻边;
[0015]弹性件,设置于所述样品台定位框架的底板上;
[0016]所述平板设置于所述弹性件上;
[0017]所述测试夹具被放置于所述平板上,借助所述弹性件的弹性力,所述测试夹具的所述外圈固定框架能够被夹持于所述平板及所述样品台定位框架的所述翻边之间。
[0018]本专利技术还提供一种壁面残余应力测试夹具的操作方法,包括如下步骤:
[0019]将所述壁面残余应力测试夹具置于衍射仪尤拉环样品台上并将外圈固定框架固定于衍射仪尤拉环样品台上;
[0020]调整载物台的高度以使待测物体位于预定的测试位置。
[0021]在一些实施方式中,当所述壁面残余应力测试夹具包括高度调整件时,在外圈固定框架被固定后,通过旋转载物台带动高度调整件旋转,从而调整载物台的高度,以使待测物体位于预定的测试位置。
[0022]在一些实施方式中,当所述壁面残余应力测试夹具进一步包括第一键槽与第二键槽时,在外圈固定框架被固定后,旋拧载物台以使高度调整件调整至第一位置,在第一位置,衍射仪尤拉环的双激光点在第一V形槽与第二V形槽的交叉点内重合;
[0023]将待测物体放置于第一V形槽或第二V形槽内。
[0024]在一些实施方式中,进一步还包括:
[0025]从第一键槽及第二键槽中拔出键,并旋转载物台以调整置于载物台上的待测物体的方位;
[0026]并在待测物体的方位确定后固定载物台;
[0027]待测物体能够被固定于载物台上。
[0028]本专利技术提供的一种壁面残余应力测试夹具及其操作方法,通过所述载物台的高度位置的轴向调整实现了其上的待测物体的位置调整,从而在实现对待测物体的定位的同时保证所述待测物体能够被调整到衍射仪检测头的需求位置,进而有效降低采用衍射仪尤拉环样品台对壁面的残余应力的测量过程的操作难度,提高测量效率。
附图说明
[0029]图1为专利技术实施例的壁面残余应力测试夹具与衍射仪尤拉环样品台配合使用状态
下的示意图(立体);
[0030]图2为专利技术实施例的壁面残余应力测试夹具与衍射仪尤拉环样品台配合使用状态下的示意图(正视);
[0031]图3为本专利技术实施例的壁面残余应力测试夹具的立体结构示意图(放置待测物体后);
[0032]图4为图3中的载物台的立体结构示意图;
[0033]图5为图3中的载物台的侧视图;
[0034]图6为图3中的高度调整件的立体结构示意图;
[0035]图7为图3中的外圈固定框架的立体结构示意图;
[0036]图8为图3中的载物台与高度调整件通过键实现连接的结构示意图。
[0037]附图标记表示为:
[0038]1、外圈固定框架;11、中心通孔;2、载物台;21、第一键槽;22、防滑结构;24、第一V形槽;25、第二V形槽;3、高度调整件;31、第二键槽;4、键;6、锁定件;71、限位凸台;72、限位凹槽;100、待测物体;201、样品台定位框架;202、弹性件;203、平板。
具体实施方式
[0039]结合参见图1至图8所示,根据本专利技术的实施例,提供一种壁面残余应力测试夹具,用于与衍射仪尤拉环样品台配合使用,包括外圈固定框架1,其外圈的形状可以为圆柱、方柱、多边形柱等,本专利技术不做特别限定,所述外圈固定框架1具有中心通本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种壁面残余应力测试夹具,其特征在于,用于与衍射仪尤拉环样品台配合使用,包括外圈固定框架(1),所述外圈固定框架(1)具有中心通孔(11),所述中心通孔(11)内设有载物台(2),所述载物台(2)的顶部用于承载固定待测物体(100),所述载物台(2)的高度位置能够沿着所述中心通孔(11)的轴向被调整。2.根据权利要求1所述的壁面残余应力测试夹具,其特征在于,还包括高度调整件(3),所述高度调整件(3)处于所述载物台(2)的底部以对所述载物台(2)形成支撑,所述高度调整件(3)的外圆周侧与所述中心通孔(11)的孔壁之间螺纹连接。3.根据权利要求2所述的壁面残余应力测试夹具,其特征在于,所述载物台(2)上具有沿着轴向贯通的第一键槽(21),所述高度调整件(3)与所述载物台(2)相对应的端面上具有第二键槽(31),键(4)插装于所述第一键槽(21)与所述第二键槽(31)中,以能够通过旋转所述载物台(2)带动所述高度调整件(3)旋转;优选地,所述载物台(2)凸出于所述中心通孔(11)的外圆周壁上构造有防滑结构(22);优选地,所述防滑结构(22)包括滚花。4.根据权利要求2所述的壁面残余应力测试夹具,其特征在于,所述载物台(2)与所述高度调整件(3)之间具有径向限位结构;优选地,所述径向限位结构为凹凸配合结构。5.根据权利要求1至4中任一项所述的壁面残余应力测试夹具,其特征在于,所述载物台(2)的顶部具有沿其径向贯通的第一V形槽(24),所述第一V形槽(24)的开口朝上;和/或,还包括锁定件(6),所述锁定件(6)能够锁定所述载物台(2)相对于所述外圈固定框架(1)的轴向及周向位置。6.根据权利要求5所述的壁面残余应力测试夹具,其特征在于,所述载物台(2)的顶部还具有沿其径向贯通的第二V形槽(25),所述第二V形槽(25)的开口朝上,所述第一V形槽(24)与所述第二V形槽(25)形成交叉。7.根据权利要求6所述的壁面残余应力测试夹具,其特征在于,还包括定位结构,所述定位结构能够与所述第一V形槽(24)和/或所述第二V形槽(25)一起对所述待测物体(100)形成夹持;优选地,所述定位结构包括连接于所述载物台...

【专利技术属性】
技术研发人员:张誉元张晖
申请(专利权)人:张誉元
类型:发明
国别省市:

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