盲检能力优化方法和装置制造方法及图纸

技术编号:32709412 阅读:21 留言:0更新日期:2022-03-20 08:05
本公开提出了盲检能力优化方法和装置、电子设备以及计算机可读存储介质。所述方法:确定盲检能力信息,其中,盲检能力信息包括第一子载波间隔下在每n个时隙检测物理下行控制信道候选的最大数目,第一子载波间隔下在每n个时隙非重叠控制信道单元的最大数目,n为大于1的整数。根据本公开的实施例,由于盲检能力是针对每n个时隙配置的,终端可以根据实际情况在n个时隙中灵活应用盲检能力,不易浪费盲检能力,并且在目标时隙内检测物理下行控制信道候选的数目足够多,有利于检测到承载了下行控制信息的物理下行控制信道。制信息的物理下行控制信道。制信息的物理下行控制信道。制信息的物理下行控制信道。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员:付婷
申请(专利权)人:北京小米移动软件有限公司
类型:发明
国别省市:

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