本实用新型专利技术公开了一种控制器老化测试控制装置，包括主控MCU、定时器模块、状态指示模块和控制输出单元，所述定时器模块、所述状态指示模块和所述控制输出单元分别与所述主控MCU端口连接，所述主控MCU上还设置有用于下载老化冲击测试程序的程序烧录端口，所述控制输出单元的输出端与待测控制器连接；所述主控MCU、所述定时器模块、所述状态指示模块和所述控制输出单元均固定设置于一壳体内，所述壳体内还可拆卸地设置有一小型数字万用表。通过下载不同的老化冲击测试程序对不同类型的控制器进行老化冲击测试，同时，通过定时器模块设置不同的老化冲击测试时间，确保了同批次产品的一致性，降低了产品的不良率，提升了产品质量。量。量。
【技术实现步骤摘要】
一种控制器老化测试控制装置
[0001]本技术涉及控制装置
，具体为一种控制器老化测试控制装置。
技术介绍
[0002]在电机控制器生产过程中，常规的老化冲击测试耗电量大，且需购置不同的电机进行匹配测试，设备浪费大，导致测试成本很高。
[0003]常见的老化冲击测试无法根据不同类型的电机控制器定制不同的老化冲击的时间，时间过长或者过短都无法保证同批次产品的一致性，严重影响控制器的产品质量；另一方面，在结束老化冲击测试时，测试者往往需要对不合格的控制器进行电器元件检测，在此过程中需要另外寻找检测用的万用电表，十分不便。
[0004]因此，亟需一种能够克服上述不足的用于控制器的老化冲击测试控制装置。
技术实现思路
[0005]针对上述存在的技术不足，本技术的目的是提供一种控制器老化测试控制装置，其内设置有定时器模块和与待测控制器连接的控制输出单元，通过下载不同的老化冲击测试程序对不同的控制器进行老化冲击测试，同时可以通过定时器模块设置不同控制器的测试时间，提升了控制器的产品质量，节约了测试成本。
[0006]为解决上述技术问题，本技术采用如下技术方案：
[0007]本技术提供一种控制器老化测试控制装置，包括主控MCU(Microcontroller Unit，微控制单元)、定时器模块、状态指示模块和控制输出单元，所述定时器模块、所述状态指示模块和所述控制输出单元分别与所述主控MCU端口连接，所述主控MCU上还设置有用于下载老化冲击测试程序的程序烧录端口，所述控制输出单元的输出端与待测控制器连接；所述主控MCU、所述定时器模块、所述状态指示模块和所述控制输出单元均固定设置于一壳体内，所述壳体内还可拆卸地设置有一小型数字万用表。
[0008]优选地，所述控制输出单元的输出端通过一线束端口与所述待测控制器电气连接，所述线束端口设置于所述壳体外并分别与所述控制输出单元和所述待测控制器连接。
[0009]优选地，所述状态指示模块包括用于显示工作状态的运行指示灯和显示检测结果的合格指示灯及失败指示灯，所述运行指示灯、所述合格指示灯和所述失败指示灯均设置于所述壳体的上表面。
[0010]优选地，所述状态指示模块包括用于播报测试结果的语音播报单元，所述语音播报单元包括一喇叭，所述壳体的侧面开设有喇叭孔，所述喇叭固定设置于壳体内对应喇叭孔处。
[0011]优选地，所述主控MCU连接有一组控制按键和一液晶显示屏，所述控制按键和所述液晶显示屏均设置于所述壳体的上表面。
[0012]优选地，所述主控MCU还连接有一电源模块，所述电源模块包括电源和用于显示电源接通状态的电源指示灯，所述电源固定设置于所述壳体内部，所述电源指示灯设置于所
述壳体的上表面。
[0013]优选地，所述主控MCU还连接有一用于启动装置工作的测试按钮，所述测试按钮设置于所述壳体的上表面。
[0014]优选地，所述壳体背面固定设置有一可开合的腔体，所述小型数字万用表可拆卸地设置于所述腔体内。
[0015]优选地，所述主控MCU为一STM32系列的嵌入式单片机。
[0016]与现有技术对比，本技术的有益效果为：
[0017](1)通过下载不同的老化冲击测试程序对不同类型的控制器进行老化冲击测试，不需要购置不同的电机进行匹配测试，检测成本较低。
[0018](2)通过在测试控制装置上增设定时器模块，对不同类型的控制器设置不同的老化冲击测试时间，同时，状态指示模块显示检测结果，确保了同批次产品的一致性，降低了产品的不良率，提升了产品质量。
[0019](3)在测试控制装置内设置小型数字万用表，便于使用者在测试完成后直接对控制器内部的电器元件进行电性检测。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0021]图1为本技术的一种具体实施例的控制器老化测试控制装置的主视图；
[0022]图2为本技术的一种具体实施例的控制器老化测试控制装置的左视图；
[0023]图3为本技术的一种具体实施例的控制器老化测试控制装置的壳体背面结构示意图；
[0024]图4为本技术的一种具体实施例的线束端口的结构示意图；
[0025]图5为本技术的一种具体实施例的控制器老化测试控制装置内部的硬件结构连接示意图。
[0026]附图标记说明：
[0027]1‑
主控MCU，11
‑
定时器模块，12
‑
状态指示模块，121
‑
运行指示灯，122
‑
合格指示灯，123
‑
失败指示灯，13
‑
控制输出单元，131
‑
线束端口，14
‑
程序烧录端口，15
‑
语音播报单元，16
‑
控制按键，17
‑
液晶显示屏，18
‑
测试按钮，19
‑
电源模块，191
‑
电源指示灯，2
‑
壳体，21
‑
喇叭孔，22
‑
USB充电插口，23
‑
腔体，231
‑
小型数字万用表。
具体实施方式
[0028]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0029]实施例：
[0030]如图1
‑
图5所示，本技术提供了一种控制器老化测试控制装置，包括主控MCU1(Microcontroller Unit，微控制单元)、定时器模块11、状态指示模块12和控制输出单元13，定时器模块11、状态指示模块12和控制输出单元13分别与主控MCU1端口连接，主控MCU1上还设置有用于下载老化冲击测试程序的程序烧录端口14，控制输出单元13的输出端与待测控制器连接；主控MCU1、定时器模块11、状态指示模块12和控制输出单元13均固定设置于一壳体2内，壳体2内还可拆卸地设置有一小型数字万用表231。
[0031]作为本技术的一种优选的实施方式，控制输出单元13的输出端通过一线束端口131与待测控制器电气连接，线束端口131设置于壳体2外并分别与控制输出单元13和待测控制器连接。具体的，壳体2侧面设置有一开口，线束端口131上的线束穿过所述开本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种控制器老化测试控制装置，其特征在于，包括主控MCU、定时器模块、状态指示模块和控制输出单元，所述定时器模块、所述状态指示模块和所述控制输出单元分别与所述主控MCU端口连接，所述主控MCU上还设置有用于下载老化冲击测试程序的程序烧录端口，所述控制输出单元的输出端与待测控制器连接；所述主控MCU、所述定时器模块、所述状态指示模块和所述控制输出单元均固定设置于一壳体内，所述壳体内还可拆卸地设置有一小型数字万用表。2.根据权利要求1所述的一种控制器老化测试控制装置，其特征在于，所述控制输出单元的输出端通过一线束端口与所述待测控制器电气连接，所述线束端口设置于所述壳体外并分别与所述控制输出单元和所述待测控制器连接。3.根据权利要求1所述的一种控制器老化测试控制装置，其特征在于，所述状态指示模块包括用于显示工作状态的运行指示灯和显示检测结果的合格指示灯及失败指示灯，所述运行指示灯、所述合格指示灯和所述失败指示灯均设置于所述壳体的上表面。4.根据权利要求1所述的一种控制器老化测试控制装置，其特征在于，所述状态指示模块包括用于播...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈波波，李汉青，王在峰，
申请(专利权)人：徐州科亚机电有限公司，
类型：新型
国别省市：
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