检查设备制造技术

本公开提供一种检查设备，包括：检查装置，限定穿过其中的检查通道并对通过对检查通道的物品发射射线以实施检查；和传送带，传送带构造成传送带环路，传送带的第一表面用作承载被检查物品的承载面，传送带的第一表面沿所述安检通道穿过所述安检通道仅一次。安检通道穿过所述安检通道仅一次。安检通道穿过所述安检通道仅一次。

【技术实现步骤摘要】
检查设备


[0001]本公开涉及安检领域，特别地，本专利技术涉及一种检查设备。

技术介绍

[0002]CT检查设备被广泛的应用于多种检查，目前已经用于行李物品的安全检查。CT检查设备是将例如X射线CT发生装置和检测装置安装在圆形轴承上，并且做回转运动。圆形轴承的中心孔限定的空间构成了检查通道。
[0003]期望提供一种性能改善的CT检查设备能够提高检查效率。

技术实现思路

[0004]根据本专利技术的一个方面，提供了一种检查设备，包括：
[0005]检查装置，限定穿过其中的检查通道并对通过对检查通道的物品发射射线以实施检查；
[0006]传送带，所述传送带构造成传送带环路，所述传送带的第一表面用作承载被检查物品的承载面，所述传送带的所述第一表面沿所述安检通道穿过所述安检通道仅一次。
[0007]在一个实施例中，所述传送带的所述第一表面经过所述检查装置的下方，并且所述第一表面朝向远离所述检查装置。
[0008]在一个实施例中，CT检查设备还包括清洁装置，所述清洁装置配置成清洗所述第一表面。
[0009]在一个实施例中，所述传送带从所述检查装置的第一侧运动至所述检查装置的第二侧，所述第二侧与所述第一侧相对；并且
[0010]所述清洁装置布置成离开所述检查装置，所述传送带在到达所述检查装置的所述第一侧前经由所述清洁装置清洁。
[0011]在一个实施例中，所述清洁装置布置成位于检查装置的第二侧，所述传送带经过所述清洁装置清洁后运动至所述检查装置的第一侧。
[0012]在一个实施例中，所述清洁装置布置成位于检查装置的下方，所述传送带经过所述清洁装置清洁后运动至所述检查装置的第一侧。
[0013]在一个实施例中，CT检查设备还包括用于驱动所述传送带移动的至少一个驱动轮。
[0014]在一个实施例中，CT检查设备还包括用于引导所述传送带的多个转向轮，其中所述驱动轮和所述转向轮配置成张紧所述传送带以便形成所述传送带环路。
[0015]在一个实施例中，所述清洁装置使用水或者清洗剂溶液清洗所述第一表面。
[0016]在一个实施例中，CT检查设备还包括干燥装置，配置在传送带环路一侧朝向所述第一表面喷射气体，在传送带运动方向上所述干燥装置位于所述清洁装置的下游。
[0017]在一个实施例中，所述传送带环路配置成包括第一段，其中在第一段传送带相对于竖直方向倾斜向下运动，所述清洁装置布置在第一段的一侧清洁第一段的第一表面。
[0018]在一个实施例中，所述传送带环路配置成包括第二段，其中在第二段传送带相对于竖直方向倾斜向上运动，所述清洁装置布置在第二段侧用于清洁第二段的第一表面，所述第二段在传送带运动方向上位于所述第一段的下游。
[0019]在一个实施例中，所述CT检查设备用于检查可食用物或容易带来残留物的物品。
附图说明
[0020]现在将参考附图仅以举例的方式描述本专利技术的一个或多个实施例，在附图中：
[0021]图1示出了根据本公开的CT检查设备的示意图，其中左侧部分示意地示出了安检设备的截面视图，右侧部分示意地示出了安检设备的侧视图。
[0022]图2示出了根据本公开的CT检查设备的示意俯视图，其中包括干燥设备。
[0023]图3示出了根据本公开的CT检查设备的传送带环路示意图。
具体实施方式
[0024]在以下实施例中，术语“第一”、“第二”等是为了区分不同部件，而不是排序或表示主次。说明书中的“上”、“下”等表示方位的术语并不意指绝对方位，而是表示部件之间的相对位置。
[0025]本公开的一方面提供一种检查设备，包括检查装置，检查装置限定穿过其中的检查通道，并对通过对检查通道的物品发射射线以实施检查。检查装置可以包括例如射线源和探测器(图中未示出)，射线源朝向物品发射射线，探测器探测与物品发生作用后的射线，从而可以完成对物品的检查。例如检查装置包括X射线源，X射线源朝向检查通道上被传送的物品发射射线，探测器探测透射通过物品后的射线，从而可以完成对物品的成像。检查装置还可以以分时地从多个角度朝向物品发射X射线，并探测每次透射通过物品的射线，通过对探测信号的处理形成物品的三维图像。在一种实施例中，检查设备可以是CT检查设备。
[0026]在一种实施例中，探测器检查设备还包括传送带21，传送带21构造成传送带环路，所述传送带21的第一表面21
‑
1用作承载被检查物品的承载面，所述传送带21的所述第一表面21
‑
1沿所述检查通道穿过所述检查装置仅一次。在一个实施例中，传送带21仅穿过检查装置一次可以理解为传送带21仅穿过检查装置(具体地检查通道)一次，然后从检查装置的外部通过，从而完成环路。例如，传送带21从左向右通过检查装置(具体地检查通道)一次后，不会从右向左再次穿过检查装置，而是从检查装置的外部从右向左运行，从而实现传送带环路；然而应该理解这里的左、右只是一种示例为了表示传送带21的运行方式。
[0027]在一个实施例中，传送带21仅穿过检查装置一次可以理解为传送带21在射线源和探测器之间仅穿过一次，而不是在射线源和探测器之间往复运动。传送带21穿过射线源和探测器之间后，从检查装置的外部绕过，形成封闭的传送带环路。例如，在无机架检查设备的情况中，采用分布式射线源和探测器阵列，传送带从射线源和探测器阵列之间穿过，从分布式射线源和探测器阵列的外部绕回，形成传送带的环路。
[0028]如图1所示，在本公开的一个实施例中，检查设备可以是CT检查设备，CT检查设备包括检查装置。在本实施例中，CT检查设备的检查装置包括环形结构10，用于实施CT检查，是CT检查设备的主体，所述环形结构10限定穿过其中的安检通道；和，传送带21，所述传送带21构造成传送带环路，所述传送带21的第一表面21
‑
1(在图1中是传送通道内的传送带的
上表面)用作承载被检查物品的承载面，所述传送带21的所述第一表面21
‑
1沿所述安检通道穿过所述安检通道仅一次。在图1中示出了传送带的第一表面21
‑
1和第二表面21
‑
2。在本实施例中，射线源和探测器布置在环形结构10上，射线源和探测器相对设置。环形结构10可以在传送方向上延伸，因而环形结构10限定了传送通道，并且环形结构10限定了在其内部的空间，例如圆柱形空间；环形结构10可以旋转。然而，应该之间环形结构10内部的空间不必是严格的圆柱形空间，实际上环形结构10内部的空间由环形结构10的内壁限定。环形结构10的内部空间需要尽量大，这样可以容纳更多的物品同时通过环形结构10以被检查。环形结构10可以包括外壁，外壁的形状不必是圆柱形，环形结构10可以包括其他附件，因而根据需要环形结构10可以具有任何必要的形状。环形结构10可以保持相对设置的射线源和探测器在圆形轨迹上旋转。环形结构10上相对设置的射线源和探测器指的是射线源在圆形轨本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检查设备，包括：检查装置，限定穿过其中的检查通道并通过对所述检查通道的物品发射射线以实施检查；和传送带，所述传送带构造成传送带环路，所述传送带的第一表面用作承载被检查物品的承载面，所述传送带的所述第一表面沿所述检查通道穿过所述检查装置仅一次。2.根据权利要求1所述的检查设备，其中所述传送带的所述第一表面经过所述检查装置的下方，并且所述第一表面朝向远离所述检查装置。3.根据权利要求1所述的检查设备，还包括清洁装置，所述清洁装置配置成清洗所述第一表面。4.根据权利要求3所述的检查设备，其中所述传送带在所述检查通道内从所述检查装置的第一侧运动至所述检查装置的第二侧，所述第二侧与所述第一侧相对；并且所述清洁装置布置成离开所述检查装置，所述传送带在到达所述检查装置的所述第一侧前经由所述清洁装置清洁。5.根据权利要求4所述的检查设备，其中所述清洁装置布置成位于检查装置的第二侧，所述传送带经过所述清洁装置清洁后运动至所述检查装置的第一侧。6.根据权利要求4所述的检查设备，其中所述清洁装置布置成位于检查装置的下方，所述传送带经过所述清洁装置清洁后运动至所述检查装置的第一侧。7....

【专利技术属性】
技术研发人员：黄清萍，洪明志，王子楠，张立国，
申请(专利权)人：同方威视技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：