一种用于微分测头标定的辅助装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于微分测头标定的辅助装置，包括连接套筒和与连接套筒同轴的定位柱，定位柱直径大于连接套筒外径，定位柱与连接套筒呈T型，连接套筒靠近定位柱的一端为封闭端，连接套筒与定位柱之间通过过度圆台相连，定位柱沿其轴线方向远离连接套筒的方向至靠近连接套筒的方向同轴设置有沉孔，沉孔中心同轴连接定位导向柱，定位导向柱远离连接套筒的一端与定位柱远离连接套筒的一端平齐，定位导向柱远离连接套筒的一端以其轴线为回转方向均布多个定位珠，通过连接套筒套接在微分测头的测杆上，通过定位珠对标定刀头进行导向，可以有效的确保刀头与微分测头测杆的同轴度，提高标定精度和标定效率。提高标定精度和标定效率。提高标定精度和标定效率。

【技术实现步骤摘要】
一种用于微分测头标定的辅助装置


[0001]本技术涉及标定装置领域，特别是涉及一种用于微分测头标定的辅助装置。

技术介绍

[0002]引伸计标定仪，是一种纯机械式的高精度位移测微仪器，依据JJG762
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92引伸计检定规程要求，专门用于对各类引伸计的标定，也广泛用于位移传感器的检定以及相应百分表、千分表、微分测头的检定，现有的立式微分测头在进行检定的时候，需要使用刀头同轴对准微分测头的测杆，由于刀头为立式放置，很难同轴对准测量杆，需要多次进行调节，会严重影响标定效率。

技术实现思路

[0003]针对上述问题，本技术提供了一种用于微分测头标定的辅助装置，具有结构简单，定位精准，可以快速确保同轴度，提高标定效率的优点。
[0004]本技术的技术方案是：
[0005]一种用于微分测头标定的辅助装置，包括连接套筒和与连接套筒同轴的定位柱，所述定位柱直径大于连接套筒外径，所述定位柱与连接套筒呈T型，所述连接套筒靠近定位柱的一端为封闭端，所述连接套筒与定位柱之间通过过度圆台相连，所述定位柱沿其轴线方向远离连接套本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于微分测头标定的辅助装置，其特征在于，包括连接套筒(1)和与连接套筒(1)同轴的定位柱(2)，所述定位柱(2)直径大于连接套筒(1)外径，所述定位柱(2)与连接套筒(1)呈T型，所述连接套筒(1)靠近定位柱(2)的一端为封闭端，所述连接套筒(1)与定位柱(2)之间通过过度圆台(3)相连，所述定位柱(2)沿其轴线方向远离连接套筒(1)的方向至靠近连接套筒(1)的方向同轴设置有沉孔(21)，所述沉孔(21)中心同轴连接定位导向柱(22)，所述定位导向柱(22)远离连接套筒(1)的一端与定位柱(2)远离连接套筒(1)的一端平齐，所述定位导...

【专利技术属性】
技术研发人员：武建波，胡中兰，
申请(专利权)人：成都瑞司塔测试技术有限公司，
类型：新型
国别省市：