本实用新型专利技术属于芯片测试技术领域，具体涉及一种助听器芯片测试装置，包括第一载物台、测试板和第二载物台，第一载物台和测试板都设置在第二载物台上；第一载物台包括底座和压盖；底座包括底座主体和第一框体，第一框体可拆卸地固定在底座主体上，底座主体的顶面设有用于放置芯片的限位凹槽，限位凹槽底部设有用于连接测试板和芯片的测试针；压盖包括第二框体和压块，压块可拆卸地设在第二框体内侧，压块上设有与限位凹槽匹配的凸块；第二框体与第一框体可转动连接，使压盖可在打开位置和关闭位置之间切换；压盖切换至关闭位置时，凸块压住芯片。需测试不同尺寸的芯片时，只须更换压块和底座主体，第一框体和第二框体都可以重复使用，节约了材料。节约了材料。节约了材料。
【技术实现步骤摘要】
一种助听器芯片测试装置
[0001]本技术属于芯片测试
，具体涉及一种助听器芯片测试装置。
技术介绍
[0002]芯片测试装置通常包含一用于承载芯片的载物台，载物台上的芯片与测试板连接，测试板上设有信号传输接口，信号传输接口与测试平台连接，测试平台对信号进行计算处理。
[0003]现有的芯片测试装置存在以下不足：(1)芯片与测试板之间的连接结构比较复杂，不便于使用；(2)用于承载芯片的载物台结构不合理，测试不同尺寸的芯片时，须更换整个载物台，成本比较高。
技术实现思路
[0004]为解决上述问题，本技术提供一种使用方便，成本更低的助听器芯片测试装置。
[0005]具体地，本技术的技术方案是：
[0006]一种助听器芯片测试装置，包括第一载物台、测试板和第二载物台，第一载物台和测试板都设置在第二载物台上；第一载物台包括底座和压盖；底座包括底座主体和第一框体，第一框体可拆卸地固定在底座主体上，底座主体的顶面设有用于放置芯片的限位凹槽，限位凹槽底部设有用于连接测试板和芯片的测试针；压盖包括第二框体和压块，压块可拆卸地设在第二框体内侧，压块上设有与限位凹槽匹配的凸块；第二框体与第一框体可转动连接，使压盖可在打开位置和关闭位置之间切换；压盖切换至关闭位置时，凸块压住芯片。
[0007]优选地，所述第一框体的第一端设有第一轴杆，第一轴杆上套设有扭簧，第二框体的第一端与第一轴杆转动连接；压盖切换至关闭位置时，扭簧被第一框体和第二框体扭转，第一框体的第二端与第二框体的第二端通过固定件连接。
[0008]优选地，所述固定件包括卡爪、弹簧和横杆，横杆设在第一框体的第二端；第二框体的第二端设有第二轴杆，卡爪的第二端转动套设在第二轴杆上；弹簧设在卡爪与第二框体之间；压盖切换至关闭位置时，卡爪的第一端通过弹簧的恢复力勾住横杆。
[0009]优选地，所述底座主体包括凸台，限位凹槽设在凸台的顶面，第一框体套设在凸台外侧，第一框体的顶面与凸台的顶面齐平。
[0010]优选地，所述压块的外侧壁与第二框体的内侧壁吻合，压块的顶面与第二框体的顶面齐平，压块的底面与第二框体的底面齐平；第二框体上设有螺钉，压块通过螺钉锁紧固定在第二框体上。
[0011]优选地，所述压块为金属材质，第二载物台、底座和第二框体为塑料材质。
[0012]优选地，所述压块的顶面设有第一凹槽。
[0013]优选地，所述助听器芯片测试装置还包括定位件；定位件固定在第二载物台上，依次穿过测试板上的第一定位孔和底座主体上的第二定位孔。
[0014]优选地，所述第二载物台的顶面设有用于放置测试板的第二凹槽，第二凹槽的底面设有第一让位槽，用于放置导线，第二凹槽的侧壁设有第二让位槽。
[0015]优选地，所述限位凹槽的侧壁设有第三让位槽。
[0016]本技术提供的助听器芯片测试装置通过测试针连接芯片和测试板，结构简单，使用方便。第一载物台的压盖可以转动打开和关闭，便于取放芯片。在对测试针的位置有不同需求，或需测试不同尺寸的芯片时，只须更换压块和底座主体，第一框体和第二框体都可以重复使用，节约了材料，降低了成本。
附图说明
[0017]图1为一种助听器芯片测试装置的结构图；
[0018]图2为图1所示助听器芯片测试装置压盖打开后的结构图；
[0019]图3为图1所示助听器芯片测试装置压盖打开后另一视角的结构图；
[0020]图4为图3中A部分的放大图；
[0021]图5为图1中压盖的爆炸图；
[0022]图6为图1所示助听器芯片测试装置隐藏压盖后的爆炸图；
[0023]图7为图1中测试板和第二载物台的爆炸图。
具体实施方式
[0024]下面结合附图及具体实施例对本技术作进一步详细说明。
[0025]实施例一：
[0026]如图1至7所示，一种助听器芯片测试装置，包括第一载物台1、第二载物台2和测试板3，第一载物台1和测试板3都设置在第二载物台2上；第一载物台1包括底座和压盖，底座包括底座主体112和第一框体111，第一框体111可拆卸地固定在底座主体112上，底座主体112的顶面设有用于放置芯片的限位凹槽110，限位凹槽110底部设有用于连接测试板3和芯片的测试针113；压盖包括第二框体121和压块122，压块122可拆卸地设在第二框体121内侧，压块122上设有与限位凹槽110匹配的凸块120；第二框体121与第一框体111可转动连接，使压盖可在打开位置和关闭位置之间切换，压盖切换至关闭位置时，凸块120压住芯片。
[0027]上述助听器芯片测试装置通过测试针113连接芯片和测试板3，结构简单，使用方便。第一载物台1的压盖可以转动打开和关闭，便于取放芯片。在对测试针113的位置有不同需求，或需测试不同尺寸的芯片时，只须更换压块122和底座主体112，第一框体111和第二框体121都可以重复使用，节约了材料，降低了成本。
[0028]在本实施例中，第一框体111的第一端设有第一轴杆114，第一轴杆114上套设有扭簧115，第二框体121的第一端与第一轴杆114转动连接；在本实施例中，第一轴杆114固定在第一框体111上，在其它实施例中，第一轴杆114也可以固定在第二框体121上。压盖切换至关闭位置时，扭簧115被第一框体111和第二框体121扭转，第一框体111的第二端与第二框体121的第二端通过固定件连接。解除固定件对第一框体111和第二框体121的固定时，扭簧115可将压盖撑起，无需手动转动压盖，也无需在取放芯片时用手或工具撑住压盖，便于使用。在其它实施例中，也可以不设扭簧115。
[0029]在本实施例中，固定件包括卡爪123、弹簧124和横杆116，横杆116设在第一框体
111的第二端；第二框体121的第二端设有第二轴杆125，卡爪123的第二端转动套设在第二轴杆125上，弹簧124设在卡爪123和第二框体121之间。压盖切换至关闭位置时，卡爪123的第一端通过弹簧124的恢复力勾住横杆116。
[0030]在本实施例中，弹簧124为压簧，设在第二轴杆125与压块122之间，压盖切换至关闭位置时，压簧被卡爪123和第二框体121压缩，将卡爪123的第二端撑起，使卡爪123的第一端紧勾横杆116。需打开压盖时，按压卡爪123的第二端，使卡爪123的第一端脱离横杆116，需关闭压盖时，先按压卡爪123的第二端，再放松卡爪123第二端，使用方便。在其它实施例中，弹簧124也可以是拉簧，设在卡爪123的第二端与第二框体121之间。
[0031]在其它实施例中，固定件也可以为其它结构的固定件，例如螺钉。
[0032]在本实施例中，底座主体112包括凸台1121，限位凹槽110设在凸台1121的顶面，第一框体111套设在凸台1121外侧，第一框体111的顶面与凸台1121的顶面齐平。凸台1121对第一框体111有限位作用，便于将第一框本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种助听器芯片测试装置，其特征在于：包括第一载物台、测试板和第二载物台，第一载物台和测试板都设置在第二载物台上；第一载物台包括底座和压盖；底座包括底座主体和第一框体，第一框体可拆卸地固定在底座主体上，底座主体的顶面设有用于放置芯片的限位凹槽，限位凹槽底部设有用于连接测试板和芯片的测试针；压盖包括第二框体和压块，压块可拆卸地设在第二框体内侧，压块上设有与限位凹槽匹配的凸块；第二框体与第一框体可转动连接，使压盖可在打开位置和关闭位置之间切换；压盖切换至关闭位置时，凸块压住芯片。2.如权利要求1所述的助听器芯片测试装置，其特征在于，所述第一框体的第一端设有第一轴杆，第一轴杆上套设有扭簧，第二框体的第一端与第一轴杆转动连接；压盖切换至关闭位置时，扭簧被第一框体和第二框体扭转，第一框体的第二端与第二框体的第二端通过固定件连接。3.如权利要求2所述的助听器芯片测试装置，其特征在于，所述固定件包括卡爪、弹簧和横杆，横杆设在第一框体的第二端；第二框体的第二端设有第二轴杆，卡爪的第二端转动套设在第二轴杆上；弹簧设在卡爪与第二框体之间；压盖切换至关闭位置时，卡爪的第一端通过弹簧的恢复力勾住横杆...
【专利技术属性】
技术研发人员：廖振寰，蔡伟，苏坤立，
申请(专利权)人：厦门睿聆听力科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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