一种带状线谐振器及微波薄膜材料电磁参数测试装置制造方法及图纸

技术编号:3266834 阅读:190 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种带状线谐振器及微波薄膜材料电磁参数测试装置,属于微波测试技术领域。带状线谐振器包括金属接地板4、内导体5、金属短路板6和耦合环7等四个部分,所述两块相互平行的金属接地板4的两端分别与金属断路板6连接,内导体5处于两块金属接地板4的中间,其中一块金属接地板4与内导体5相连的上下方的适当位置具有两个耦合环7,以实现微波信号的输入和输出。微波薄膜材料电磁参数测试装置包括微波信号源1、本实用新型专利技术所述的带状线谐振器2和标量网络分析仪3。本实用新型专利技术的带状线谐振器具有工作频率宽、体积小、使用方便、测试误差小等优点。本实用新型专利技术的微波薄膜材料电磁参数测试装置,能够在各个微波频段范围内对微波薄膜材料电磁参数进行测试。(*该技术在2015年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

一种带状线谐振器及微波薄膜材料电磁参数测试装置,属于微波测试
,特别涉及一种微波薄膜材料的电磁参数测试装置。
技术介绍
微波薄膜材料作为一种多功能材料,其性能的优劣必须经过性能参数的实际测试。描述微波薄膜材料电磁特性的两个基本参数是复介电常数和复磁导率,它们是评价微波薄膜材料电磁性能优劣的主要依据,也是进行电磁屏蔽设计和微波通信设计的重要参数。国外对微波薄膜材料电磁参数在微波频段下的测试工作已开展了十多年,常用的测试方法为网络参数法。网络参数法通过测试放置有被测微波薄膜材料的微波传输线的散射参数,计算出被测材料的电磁参数。所采用的传输线的类型有带状线、微带线、矩形波导、共面波导及同轴线等。网络参数法的测试频率范围较宽,但测试传感器的制作复杂、高次模式影响大、测试误差较大。对于微波薄膜材料电磁参数的测试,也可以采用谐振腔微扰法。文献“张秀成,聂彦,何华辉等,微波薄膜材料复介电常数与复磁导率测试研究,华中科技大学学报,2004,Vol.32,No.4,p 90~92.”利用矩形谐振腔微扰法进行2GHz附近的微波薄膜材料电磁测试技术研究。测试频率范围窄,若进行更低频率(例如1GHz本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种带状线谐振器,包括金属接地板(4)、内导体(5)、金属短路板(6)和耦合环(7)等四个部分,其特征是,所述两块相互平行的金属接地板(4)的两端分别与金属断路板(6)连接,内导体(5)处于两块金属接地板(4)的中间,其中一块金属接地板(4)与内导体(5)相连的上下方的适当位置具有两个耦合环(7),以实现微波信号的输入和输出。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李恩郭高凤张其劭陆海鹏梁迪飞邓龙江
申请(专利权)人:电子科技大学
类型:实用新型
国别省市:90[中国|成都]

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