免调试的射频发射和接收集成电路性能的检测设备制造技术

本发明专利技术公开了免调试的射频发射和接收集成电路性能的检测设备，包括底板，所述底板的上表面边侧固定连接有制冷箱；所述制冷箱和制热箱的上端内壁均固定连接有定位臂，所述第二密封板的内部嵌入设置有动力磁铁；所述制冷箱和制热箱的上表面边侧均通过支架和检测箱的下表面相连接；所述检测箱的边侧外壁固定连接有定位套管；所述检测箱的上端内壁螺纹连接有密封盖，所述锁定套管的内部嵌入设置有推动磁铁。该免调试的射频发射和接收集成电路性能的检测设备加强了温度检测范围，且检测设备进行温度检测的效率增加，降低了电路性能检测的成本提升，同时检测设备便于检测电路抗磁场干扰的能力。的能力。的能力。

【技术实现步骤摘要】
免调试的射频发射和接收集成电路性能的检测设备


[0001]本专利技术涉及集成电路
，具体为免调试的射频发射和接收集成电路性能的检测设备。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型的电子器件或者电子设备的中的组成零件，属于人类尖端
之一，且伴随着科技的不断发展，集成电路也在向着小型化和密集化发展，其设计思路就是将常见的电子元件如电阻、电容和晶体管等元件通过半导体工艺进行连接使之具有一定所需功能的电路，但如何在有限的电路面积上植入更多的元件就是当今科学不断研究的地方，并且随着集成电路技术的不断发展，具有体积质量小、使用稳定好、使用寿命长和成本低廉等优点，因而集成电路在各行各业中均发挥着重要的作用，是现代信息社会的基石，同时由于集成电路应用广泛，因而种类繁多，按照用途可以分为通信用集成电路、遥控集成电路、语音集成电路以及射频发射和接收集成电路等，而免调试的射频发射和接收集成电路就是一种使用方便的集成电路，但为了保障射频集成电路的性能，需要在其生产时使用检测设备进行性能检测，避免影响用户的使用。
[0003]然而现有的免调试的射频发本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.免调试的射频发射和接收集成电路性能的检测设备，其特征在于：包括底板(1)，所述底板(1)的上表面边侧固定连接有制冷箱(2)，且制冷箱(2)边侧的上表面固定安装有制热箱(3)，并且制冷箱(2)的底部内壁设置有制冷机构(4)，而且制热箱(3)的内壁安装有制热机构(5)；所述制冷箱(2)和制热箱(3)的上端内壁均固定连接有定位臂(6)，且定位臂(6)的内部贯穿设置有限位杆(7)，并且限位杆(7)的下端部固定连接有第一密封板(8)，而且制冷箱(2)和制热箱(3)的边侧内壁均固定安装有限位臂(9)，同时限位臂(9)的外壁套设有第二密封板(10)，所述第二密封板(10)的内部嵌入设置有动力磁铁(11)；所述制冷箱(2)和制热箱(3)的上表面边侧均通过支架(12)和检测箱(13)的下表面相连接，且检测箱(13)的下表面安装有调节软管(14)的一端，并且调节软管(14)的另一端设置有连接机构(15)，而且检测箱(13)的底部内壁安装有放置架(16)；所述检测箱(13)的边侧外壁固定连接有定位套管(17)，且定位套管(17)的内壁活动安装有旋杆(18)，并且旋杆(18)的端部固定连接有干扰磁铁(19)，而且干扰磁铁(19)的边侧胶合固定有铁板(20)；所述检测箱(13)的上端内壁螺纹连接有密封盖(21)，且密封盖(21)的内壁固定连接有风罩(22)，并且风罩(22)的下端内部嵌入设置有电扇(23)，而且密封盖(21)的上表面安装有通气软管(24)的一端，同时通气软管(24)的另一端设置有锁定套管(25)，所述锁定套管(25)的内部嵌入设置有推动磁铁(26)。2.根据权利要求1所述的免调试的射频发射和接收集成电路性能的检测设备，其特征在于：所述定位臂(6)和限位杆(7)组成滑动结构，且限位杆(7)和限位臂(9)的...

【专利技术属性】
技术研发人员：章斌杰，王孔宝，
申请(专利权)人：深圳市芯杰矽科技有限公司，
类型：发明
国别省市：