一种低压盘柜的测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种低压盘柜的测试装置。该测试装置包括：插接件、接线切换模块、测试电路和控制器；其中，接线切换模块与控制器电连接，测试电路包括多个测试模块，每个测试模块均与控制器以及接线切换模块电连接；多个测试模块中的各测试模块分别用于测试待测试低压盘柜的不同特性，控制器用于控制接线切换模块切换与待测试低压盘柜电连接的测试模块；多个测试模块包括待测试低压盘柜的主回路测试模块和控制回路测试模块，控制回路测试模块包括多个测试单元，每个测试单元均有两路电源输出端，两路电源输出端分别用于提供第一电压和第二电压。本发明专利技术实施例提供的技术方案，能够提高测试效率和可靠性。能够提高测试效率和可靠性。能够提高测试效率和可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种低压盘柜的测试装置


[0001]本专利技术实施例涉及开关测试技术，尤其涉及一种低压盘柜的测试装置。

技术介绍

[0002]对于配电盘，如应用在核电站的低压盘柜，需要定期进行全面检修，在检修过程中需对低压盘柜进行多种测试，如低压盘柜的回路电阻测试、绝缘测试等，以便在测试到低压盘柜有故障时，及时采取相应措施。
[0003]目前，现有的低压盘柜的测试装置，通常需要人工辅助，且对盘柜开关的不同功能需使用不同的仪器单独测试，如继电器保护校验仪、机械特性测试仪、直阻测试仪、绝缘电阻测试仪等，测试过程接线繁琐并且存在短路、错线风险，影响测试效率和可靠性。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供一种低压盘柜的测试装置，以提高测试效率和可靠性。
[0005]本专利技术实施例提供了一种低压盘柜的测试装置，包括：插接件、接线切换模块、测试电路和控制器；
[0006]其中，接线切换模块与控制器电连接，测试电路包括多个测试模块，每个测试模块均与控制器以及接线切换模块电连接，插接件用于连接接线切换模块与待测试低压盘柜；
[0007]多个测试模块中的各测试模块分别用于测试待测试低压盘柜的不同特性，控制器用于控制接线切换模块切换与待测试低压盘柜电连接的测试模块，以使不同的测试模块分别对待测试低压盘柜进行测试；
[0008]多个测试模块包括待测试低压盘柜的主回路测试模块和控制回路测试模块，控制回路测试模块包括多个测试单元，每个测试单元均有两路电源输出端，两路电源输出端分别用于提供第一电压和第二电压。
[0009]可选的，控制回路测试模块还包括第一开关单元，测试单元通过第一开关单元与待测试低压盘柜的控制回路电连接，第一开关单元还与控制器电连接；
[0010]控制器还用于通过第一开关单元控制待测试低压盘柜的分合闸，以使测试单元测试待测试低压盘柜的分合闸线圈阻值。
[0011]可选的，第一开关单元包括多个开关,各测试单元均连接有开关，控制器还用于控制多个开关的通断，以使测试单元输出第一电压或第二电压。
[0012]可选的，控制回路测试模块包括状态测试单元，控制器还用于控制状态测试单元与待测试低压盘柜的控制回路之间通路的通断。
[0013]可选的，主回路测试模块包括绝缘电阻单元和第二开关单元，第二开关单元与控制器电连接，绝缘电阻单元通过第二开关单元与待测试低压盘柜的主回路电连接。
[0014]可选的，第二开关单元包括多个开关，控制器还用于控制多个开关的通断，以使主回路测试模块对待测试低压盘柜的主回路进行绝缘测试和电阻测试。
[0015]可选的，多个测试模块还包括辅助触点测试模块，辅助触点测试模块用于对待测
试低压盘柜的辅助触点进行通断测试。
[0016]可选的，插接件包括一次插接件和二次插接件，主回路测试模块通过一次插接件与待测试低压盘柜的主回路电连接，控制回路测试模块通过二次插接件与待测试低压盘柜的控制回路电连接。
[0017]可选的，接线切换模块包括一次接线切换模块和二次接线切换模块，一次插接件通过一次接线切换模块与主回路测试模块电连接，二次插接件通过二次接线切换模块与控制回路测试模块电连接。
[0018]可选的，第一电压为48V，第二电压为24V。
[0019]本专利技术实施例提供的低压盘柜的测试装置，包括插接件、接线切换模块、测试电路和控制器；其中，接线切换模块与控制器电连接，测试电路包括多个测试模块，每个测试模块均与控制器以及接线切换模块电连接，插接件用于连接接线切换模块与待测试低压盘柜；多个测试模块中的各测试模块分别用于测试待测试低压盘柜的不同特性，控制器用于控制接线切换模块切换与待测试低压盘柜电连接的测试模块，以使不同的测试模块分别对待测试低压盘柜进行测试；多个测试模块包括待测试低压盘柜的主回路测试模块和控制回路测试模块，控制回路测试模块包括多个测试单元，每个测试单元均有两路电源输出端，两路电源输出端分别用于提供第一电压和第二电压。本专利技术实施例提供的低压盘柜的测试装置，通过多个测试模块可对低压盘柜进行不同性能的测试，测试过程简单，不同的功能测试无需使用不同的仪器单独测试，并且无需人工辅助，从而可提高测试效率和可靠性。
附图说明
[0020]图1是本专利技术实施例一提供的一种低压盘柜的测试装置的结构示意图；
[0021]图2是本专利技术实施例一提供的一种低压盘柜的测试装置的结构框图；
[0022]图3是本专利技术实施例二提供的一种控制回路测试模块的结构示意图；
[0023]图4是本专利技术实施例三提供的一种主回路测试模块的结构示意图；
[0024]图5是本专利技术实施例三提供的一种辅助触点测试模块的结构示意图。
具体实施方式
[0025]下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。
[0026]实施例一
[0027]图1是本专利技术实施例一提供的一种低压盘柜的测试装置的结构示意图，图2是本专利技术实施例一提供的一种低压盘柜的测试装置的结构框图。参考图1和图2，本实施例可适用于对低压盘柜进行测试情况，低压盘柜的测试装置包括：插接件10、接线切换模块20、测试电路30和控制器40。
[0028]其中，接线切换模块10与控制器40电连接，测试电路30包括多个测试模块，每个测试模块均与控制器40以及接线切换模块20电连接，插接件10用于连接接线切换模块20与待测试低压盘柜50；多个测试模块中的各测试模块分别用于测试待测试低压盘柜50的不同特性，控制器40用于控制接线切换模块20切换与待测试低压盘柜50电连接的测试模块，以使
不同的测试模块分别对待测试低压盘柜50进行测试；多个测试模块包括待测试低压盘柜50的主回路测试模块31和控制回路测试模块32，控制回路测试模块32包括多个测试单元，每个测试单元均有两路电源输出端，两路电源输出端分别用于提供第一电压和第二电压。
[0029]具体的，测试电路30可集成在测试仪60中，当测试装置对待测试低压盘柜50进行测试时，待测试低压盘柜50可置于测试抽架70，并与插接件10连接，接线切换模块20可包括多个开关，接线切换模块20中的开关与测试模块一一对应，控制器40可控制接线切换模块20中开关的通断，从而控制与插接件10电连接的测试模块，使得不同的测试模块分别对待测试低压盘柜50进行测试。例如，当控制器40控制接线切换模块20中的一个开关导通时，该开关对应的测试模块如主回路测试模块31对待测试低压盘柜50的主回路进行测试，测试模块完成测试后可将测试过程中的测试数据传输至控制器40，控制器40控制该开关断开，以此控制其它开关的通断，使各测试模块均完成对待测试低压盘柜50的测试。
[0030]其中，控制回路测试模块32中的测试单元，可提供第一电压或第二电压至待测试低压盘柜本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种低压盘柜的测试装置，其特征在于，包括：插接件、接线切换模块、测试电路和控制器；其中，所述接线切换模块与所述控制器电连接，所述测试电路包括多个测试模块，每个所述测试模块均与所述控制器以及所述接线切换模块电连接，所述插接件用于连接所述接线切换模块与待测试低压盘柜；所述多个测试模块中的各测试模块分别用于测试所述待测试低压盘柜的不同特性，所述控制器用于控制所述接线切换模块切换与所述待测试低压盘柜电连接的测试模块，以使不同的测试模块分别对所述待测试低压盘柜进行测试；所述多个测试模块包括所述待测试低压盘柜的主回路测试模块和控制回路测试模块，所述控制回路测试模块包括多个测试单元，每个所述测试单元均有两路电源输出端，所述两路电源输出端分别用于提供第一电压和第二电压。2.根据权利要求1所述的低压盘柜的测试装置，其特征在于，所述控制回路测试模块还包括第一开关单元，所述测试单元通过所述第一开关单元与所述待测试低压盘柜的控制回路电连接，所述第一开关单元还与所述控制器电连接；所述控制器还用于通过所述第一开关单元控制所述待测试低压盘柜的分合闸，以使所述测试单元测试所述待测试低压盘柜的分合闸线圈阻值。3.根据权利要求2所述的低压盘柜的测试装置，其特征在于，所述第一开关单元包括多个开关,各所述测试单元均连接有所述开关，所述控制器还用于控制所述多个开关的通断，以使所述测试单元输出所述第一电压或所述第二电压。4.根据权利要求1所述的低压盘柜的测试装置，其特征在于，所述控制回路测试模块包括状态测...

【专利技术属性】
技术研发人员：顾如清，周翌嘉，余剑华，吴旭东，陈志洪，
申请(专利权)人：无锡中科电气设备有限公司，
类型：发明
国别省市：