一种多通道的光模块误码仪的测试方法与可读存储介质技术

技术编号:32643226 阅读:16 留言:0更新日期:2022-03-12 18:19
本发明专利技术提供了一种多通道的光模块误码仪的测试方法,包括以下步骤:S1、将误码仪和电脑通过以太网连接;S2、选择与电脑相连的误码仪的IP地址和端口号,选择要测试的速率和码型;S3、初始化通道,将选择要测试的速率和码型写入误码仪并开启一个工作线程;S4、误码仪开启的工作线程为:循环获取误码数,并将误码数和测试时间显示出来。本发明专利技术还提供了一种可读存储介质。本发明专利技术的有益效果是:在USB通信之外新增以太网通信,以便在USB端口不够用时可以转用网,还可以选择多种测试速率,且每个通道的测试速率相互独立,可以多种速率的光模块一起测试,提高了测试效率。提高了测试效率。提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种多通道的光模块误码仪的测试方法与可读存储介质


[0001]本专利技术涉及误码仪,尤其涉及一种多通道的光模块误码仪的测试方法与可读存储介质。

技术介绍

[0002]传统的误码仪多为单通道,与PC端之间用USB通信,可以测试的光模块速率较少。单通道误码仪在生产测试中效率太低,另外生产线上有大量的测试设备也是通过USB连接PC端,但PC端的USB端口有限,经常会出现USB端口冲突或不够用的情况。

技术实现思路

[0003]为了解决现有技术中的问题,本专利技术提供了一种多通道的光模块误码仪的测试方法与可读存储介质。
[0004]本专利技术提供了一种多通道的光模块误码仪的测试方法,包括以下步骤:
[0005]S1、将误码仪和电脑通过以太网连接;
[0006]S2、选择与电脑相连的误码仪的IP地址和端口号,选择要测试的速率和码型;
[0007]S3、初始化通道,将选择要测试的速率和码型写入误码仪并开启一个工作线程;
[0008]S4、误码仪开启的工作线程为:循环获取误码数,并将误码数和测试时间显示出来。
[0009]作为本专利技术的进一步改进,在步骤S1中,用网线将误码仪和电脑相连接,并将电脑IP手动改成与误码仪同一网络号之下。
[0010]作为本专利技术的进一步改进,在步骤S2中,打开安装在电脑上的上位机软件,选择与电脑相连的误码仪的IP地址和端口号,选择要测试的速率和码型。
[0011]作为本专利技术的进一步改进,在步骤S3中,点击初始化通道按钮,上位机软件将对应速率的配置信息通过:MDIO_指令写入误码仪并开启一个工作线程。
[0012]作为本专利技术的进一步改进,在步骤4中,开启的工作线程的主要任务是循环发送:?MDIO_指令以获取误码数,并将误码数和测试时间显示在对应的光口或电口的红色编辑框中,当误码数为0时,编辑框显示为绿色,大于0时,编辑框显示为红色。
[0013]作为本专利技术的进一步改进,在误码仪中运行的嵌入式软件,在上电后的工作状态如下:
[0014](1)一直循环检查以太网通信模块是否有数据可读;
[0015](2)当发现有数据可读时,从传输层UDP中将完整的指令读出,并将标志变量置1;
[0016](3)标志变量置1后进入指令解析并执行;
[0017]先寻找指令中的字符

_

并确定它在指令数组中的位置下标,在此位置下标左边的三个字符如果是

i2c

则为i2c指令,如果是

DIO

则为MDIO指令;
[0018]指令数组的第二个字符是



则为读取指令,否则为写入指令;
[0019](4)执行完指令后,将执行结果再通过以太网发送回电脑的上位机软件,然后将标
志变量置0。
[0020]本专利技术还提供了一种可读存储介质,所述可读存储介质中存储有执行指令,所述执行指令被处理器执行时用于实现如上述中任一项所述的方法。
[0021]本专利技术的有益效果是:在USB通信之外新增以太网通信,以便在USB端口不够用时可以转用网,还可以选择多种测试速率,且每个通道的测试速率相互独立,可以多种速率的光模块一起测试,提高了测试效率。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的方案。
[0023]图1是本专利技术一种多通道的光模块误码仪的测试方法的嵌入式软件的测试流程图。
具体实施方式
[0024]需要说明的是,在不冲突的情况下,本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0025]在本专利技术的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本专利技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本专利技术保护范围的限制。此外,术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本专利技术的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。
[0026]在本专利技术的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以通过具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0027]下面结合附图说明及具体实施方式对本专利技术作进一步说明。
[0028]如图1所示,一种多通道的光模块误码仪的测试方法,测试过程如下:
[0029]步骤1:用网线将误码仪和电脑相连接,并将电脑IP手动改成与误码仪同一网络号之下。
[0030]步骤2:打开上位机软件,选择与电脑相连的误码仪的IP地址和端口号,选择要测试的速率和码型。
[0031]步骤3:点击初始化通道按钮。在这一步,上位机软件将对应速率的配置信息通过:MDIO_指令写入误码仪并开启一个工作线程。误码仪有主控芯片STM32和测误码芯片tlk10232,上位机与STM32UDP协议网络连接,STM32与tlk10232以MDIO总线连接,STM32收到
指令后再通过MDIO总线将配置写入tlk10232。
[0032]步骤4:开启的工作线程的主要任务是循环发送:?MDIO_指令以获取误码数,并将误码数和测试时间显示在对应的光口或电口的红色编辑框中。当误码数为0时,编辑框显示为绿色,大于0时,编辑框显示为红色。
[0033]最终完成光模块的测试,提高了测试效率。在测试过程中可以随时切换测试速率,还能每个通道选择不同速率进行测试。
[0034]误码仪的测试软件可分为两部分:在误码仪中运行的嵌入式软件和在电脑上运行的上位机软件。
[0035]嵌入式软件与上位机软件之间的以太网通信有四种指令(指令中的括号只是区分):
[0036](1):i2c_(通道)(设备地址)(寄存器地址)(数据个数)(数据1)(数据2)
……
[0037]指示MCU用i2c总线将数据写入被测光模块,成功向上位机返回字符

Y

,失败返回

N


[0038](2):?i2c_(通道本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多通道的光模块误码仪的测试方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、将误码仪和电脑通过以太网连接;S2、选择与电脑相连的误码仪的IP地址和端口号,选择要测试的速率和码型;S3、初始化通道,将选择要测试的速率和码型写入误码仪并开启一个工作线程;S4、误码仪开启的工作线程为:循环获取误码数,并将误码数和测试时间显示出来。2.根据权利要求1所述的多通道的光模块误码仪的测试方法,其特征在于:在步骤S1中,用网线将误码仪和电脑相连接,并将电脑IP手动改成与误码仪同一网络号之下。3.根据权利要求2所述的多通道的光模块误码仪的测试方法,其特征在于:在步骤S2中,打开安装在电脑上的上位机软件,选择与电脑相连的误码仪的IP地址和端口号,选择要测试的速率和码型。4.根据权利要求3所述的多通道的光模块误码仪的测试方法,其特征在于:在步骤S3中,点击初始化通道按钮,上位机软件将对应速率的配置信息通过:MDIO_指令写入误码仪并开启一个工作线程。5.根据权利要求4所述的多通道的光模块误码仪的测试方法,其特征在于:在步骤4中,开启的工作线程的主要任务是循环发送:?MDIO_指令以获取误码数,并将误码数和测试时间显示在对应的光口或电口的红...

【专利技术属性】
技术研发人员:嵇成友张芳达
申请(专利权)人:深圳市源拓光电技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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