测试机构及分光机制造技术

本申请提供了一种测试机构及分光机，该测试机构用于对分选件进行测试，包括：支撑座，用于支撑分选件，支撑座上开设有通孔；测试针，位于支撑座的下方；测试驱动组件，与测试针相连，用于驱动测试针进出通孔以使该测试针靠近或远离分选件。本申请通过支撑座将分选件支撑，在支撑座的下方设置测试针和用于驱动测试针升降的测试驱动组件。当测试驱动组件驱动测试针上升时，测试针穿过支撑座上的通孔并与分选件的引脚接触导通，从而可对分选件进行测试。特别是对于引脚位于底部的球头LED芯片来说，本申请提供的测试机构对于该类LED芯片的测试操作方便快捷，有助于提高测试精度。有助于提高测试精度。有助于提高测试精度。

【技术实现步骤摘要】
测试机构及分光机


[0001]本申请属于分光机
，更具体地说，是涉及一种测试机构及使用该测试机构的分光机。

技术介绍

[0002]分光机是按照波长、亮度、工作电压等参数将LED(Light Emitting Diode，发光二极管)芯片分成多个组别以进行分类的设备。
[0003]目前，测试机构多用于对引脚位于两端的LED芯片，而对于引脚位于底部的球头LED芯片来说，其测试的难度较大，导致测试精度差。

技术实现思路

[0004]本申请实施例的目的在于提供一种测试机构及分光机，以解决相关技术中存在的：目前的测试机构对于引脚位于底部的球头LED芯片的测试难度大，测试精度差的问题。
[0005]为实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案是：
[0006]一方面，提供一种测试机构，用于对分选件进行测试，包括：
[0007]支撑座，用于支撑所述分选件，所述支撑座上开设有通孔；
[0008]测试针，位于所述支撑座的下方；
[0009]测试驱动组件，与所述测试针相连，用于驱动所述测试针进出所述通本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.测试机构，用于对分选件进行测试，其特征在于，包括：支撑座，用于支撑所述分选件，所述支撑座上开设有通孔；测试针，位于所述支撑座的下方；测试驱动组件，与所述测试针相连，用于驱动所述测试针进出所述通孔以使该测试针靠近或远离所述分选件。2.如权利要求1所述的测试机构，其特征在于：所述测试驱动组件包括测试底座、支撑所述测试针的测试滑动座和用于驱动所述测试滑动座升降的测试驱动单元；所述测试驱动单元安装于所述测试底座上，所述测试驱动单元与所述测试滑动座连接。3.如权利要求2所述的测试机构，其特征在于：所述测试滑动座包括安装于所述测试底座上的测试上夹持座和与所述测试上夹持座连接以夹持所述测试针的测试下夹持座。4.如权利要求3所述的测试机构，其特征在于：所述测试针上开设有开孔；所述测试驱动组件还包括安装于所述开孔中的第一弹性件和安装于所述测试滑动座上并伸入所述开孔中的抵挡柱，所述第一弹性件的一端与所述开孔的内侧壁抵接，所述第一弹性件的另一端与所述抵挡柱抵接。5.如权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：段雄斌，周巍，曹亮，何选民，
申请(专利权)人：深圳市标谱半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：