一种测试设备及其测试方法技术

本申请公开了一种测试设备及其测试方法，属于高能光子测试领域，测试设备包括至少一测试模块，其包括位移台，用于提供至少一个方向上的位移；安装装置，将电路板安装于位移台；支撑装置，用于承载闪烁晶体以及临近所述闪烁晶体的射源；位移台调节电路板的位置以使电路板与闪烁晶体耦合。本申请的技术方案中电路板以及闪烁晶体的安装简单、快捷，电路板与闪烁晶体能够更加精准的耦合，从而保证了探头性能测试的准确性和可重复性。试的准确性和可重复性。试的准确性和可重复性。

【技术实现步骤摘要】
一种测试设备及其测试方法


[0001]本申请涉及高能光子测试领域，尤其是涉及测试设备以及基于上述测试设备的测试方法。

技术介绍

[0002]PET探测器作为PET系统的基本单元，其性能直接决定了PET系统的整体性能。PET探测器的主要性能包括时间分辨率、能量分辨率、计数率以及γ光子的沉积位置信息等。其中探头作为PET探测器的关键，决定了探测器的主要性能，因此如何准确测试探头的性能参数显得尤为重要。
[0003]探测器的探头包括闪烁晶体、光电转换器以及闪烁脉冲电信号读出电路，其中闪烁晶体用来沉积γ光子，负责将γ光子转换成可见光光子；光电转换器负责将闪烁晶体产生的可见光光子转化成闪烁脉冲电信号；闪烁脉冲电信号读出电路则负责将闪烁脉冲电信号输入到示波器或者MVT采集板等采样装置中。
[0004]目前现有技术中采用的测试设备主要有两种：
[0005]第一种是通过泡沫板，将闪烁晶体和电路板放在泡沫板上预先挖好的槽内，然后通过胶带等工具固定住这些器件。
[0006]第二种是通过3D打印出一些小型零件，然后将闪烁晶体和电路板固定在这些小型零件上，然后通过调整这些小零件到一个合适的位置进行测量。
[0007]通过泡沫板等固定装置简单搭建的实验装置容易出现随着测量时间变长导致闪烁晶体松动的问题，从而导致测量精度不够，甚至产生测量误差；而通过3D打印的小零件进行测试，无法精确的保证每一次闪烁晶体和电路板的位置都相同，存在比较大的误差，导致实验不具备有很强的可重复性。
[0008]
技术介绍
部分的内容仅仅是公开专利技术人所知晓的技术，并不当然代表本领域的现有技术。
[0009]申请内容
[0010]为了克服现有技术的不足，本申请的目的之一在于提供一种测试精度高、误差小、实验可重复性高的测试设备。
[0011]为了克服现有技术的不足，本申请的目的之二在于提供一种测试精度高、误差小、实验可重复性高的测试方法，该测试方法用于测试探头的性能参数。
[0012]为了克服现有技术的不足，本申请的目的之三在于提供一种测试精度高、误差小、实验可重复性高的测试方法，该测试方法用于测试探头的符合时间分辨率。
[0013]本申请的目的之一采用如下技术方案实现：
[0014]一种测试设备，包括至少一测试模块，所述测试模块包括：位移台，用于提供至少一个方向上的位移；安装装置，用于将电路板安装于所述位移台；支撑装置，用于承载闪烁晶体以及临近所述闪烁晶体的射源；所述位移台调节所述电路板的位置以使所述电路板与所述闪烁晶体耦合。
[0015]根据本申请的一方面，所述安装装置包括磁铁，所述磁铁将所述电路板固定于所述位移台。
[0016]根据本申请的一方面，所述支撑装置包括第一载物台以及限位件，所述限位件安装于所述第一载物台并与所述第一载物台形成固定所述闪烁晶体的固定槽。
[0017]根据本申请的一方面，所述第一载物台设有开口以及第四固定孔，所述限位件设有第一调节孔，所述限位件安装于所述开口中，所述限位件通过所述第一调节孔以及所述第四固定孔固定于所述第一载物台。
[0018]根据本申请的一方面，所述第一调节孔的长度大于所述第四固定孔的直径以使所述限位件的安装位置适应不同尺寸的所述闪烁晶体。
[0019]根据本申请的一方面，所述第一载物台还设有第二限位边，所述第二限位边抵触所述限位件以避免所述限位件安装时滑动。
[0020]根据本申请的一方面，所述支撑装置包括第二载物台，所述第二载物台固定于所述第一载物台，所述第二载物台用于安装所述射源。
[0021]根据本申请的一方面，所述第二载物台设有插接槽，所述插接槽用于插接所述射源。
[0022]根据本申请的一方面，所述第二载物台设有第二调节孔，所述第一载物台设有第三固定孔，所述第二载物台通过所述第二调节孔以及所述第三固定孔固定于所述第一载物台。
[0023]根据本申请的一方面，所述第二调节孔的长度大于所述第三固定孔的直径以调节所述射源的高度。
[0024]根据本申请的一方面，所述位移台包括：第一方向移动部，沿第一方向运动；第二方向移动部，沿第二方向运动，所述第二方向与所述第一方向不同；第二方向固定部，所述第二方向固定部设置于所述第一方向移动部以及所述第二方向移动部之间。
[0025]根据本申请的一方面，所述位移台还包括：第一方向固定部，所述第一方向固定部与所述第一方向移动部连接；第一方向操作部，所述第一方向操作部安装于所述第一方向固定部并与所述第一方向移动部连接，所述第一方向操作部带动所述第一方向移动部沿第一方向运动；第二方向操作部，所述第二方向操作部安装于所述第二方向固定部并与所述第二方向移动部连接，所述第二方向操作部带动所述第二方向移动部沿第二方向运动。
[0026]根据本申请的一方面，所述测试设备还包括屏蔽罩，所述屏蔽罩遮盖所述测试模块并为测试提供黑暗环境。
[0027]根据本申请的一方面，所述测试设备还包括底板以及移动装置，所述位移台通过所述移动装置滑动安装于所述底板。
[0028]根据本申请的一方面，两个所述测试模块沿同一直线相对设置于所述移动装置。
[0029]根据本申请的一方面，提供一种测试设备的测试方法，包括以下步骤：将电路板安装于位移台；将闪烁晶体固定于支撑装置；移动所述位移台以使所述闪烁晶体与所述电路板上的光电转换器初步对准；操作所述位移台以使所述电路板位置进行微调，使所述光电转换器与所述闪烁晶体耦合；将射源安装于所述支撑装置并与所述闪烁晶体临近；安装屏蔽罩并对探头的性能参数进行测试。
[0030]根据本申请的一方面，提供一种测试设备的测试方法，包括以下步骤：分别将电路
板安装于相对设置的位移台；分别将闪烁晶体固定于与所述电路板对应的支撑装置；分别移动所述位移台以使所述闪烁晶体与对应的所述电路板上的光电转换器初步对准；分别操作所述位移台以使所述电路板位置进行微调，使所述光电转换器与对应的所述闪烁晶体耦合，同时使两所述测试模块的所述闪烁晶体对准；将射源安装于其中一个所述支撑装置并与所述闪烁晶体临近；安装屏蔽罩并对探头的符合时间分辨率进行测试。
[0031]由于本申请中位移台能够调节电路板的位置以使电路板与闪烁晶体更加精准的耦合，同时闪烁晶体与射源临近设置，二者之间无异物遮挡，能够保证在近距离条件下的准直，从而保证了探头性能测试的准确性和可重复性。
[0032]由于本申请中设置了移动装置，位移台通过移动装置滑动安装于底板，两测试模块通过移动装置确保位于同一直线上，从而能够实现符合时间分辨率的测量并且提高测量的准确性。
附图说明
[0033]图1为本申请测试设备的分解图；
[0034]图2为图1的测试设备的底板的立体图；
[0035]图3为图1的测试设备的测试模块的立体图；
[0036]图4为图3的测试模块的固定支架的立体图；
[0037]图5为图3的测试模块的位本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试设备，其特征在于：包括至少一测试模块，所述测试模块包括：位移台，用于提供至少一个方向上的位移；安装装置，用于将电路板安装于所述位移台；支撑装置，用于承载闪烁晶体以及临近所述闪烁晶体的射源；所述位移台调节所述电路板的位置以使所述电路板与所述闪烁晶体耦合。2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于：所述安装装置包括磁铁，所述磁铁将所述电路板固定于所述位移台。3.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于：所述支撑装置包括第一载物台以及限位件，所述限位件安装于所述第一载物台并与所述第一载物台形成固定所述闪烁晶体的固定槽。4.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于：所述第一载物台设有开口以及第四固定孔，所述限位件设有第一调节孔，所述限位件安装于所述开口中，所述限位件通过所述第一调节孔以及所述第四固定孔固定于所述第一载物台。5.根据权利要求4所述的测试设备，其特征在于：所述第一调节孔的长度大于所述第四固定孔的直径以使所述限位件的安装位置适应不同尺寸的所述闪烁晶体。6.根据权利要求4所述的测试设备，其特征在于：所述第一载物台还设有第二限位边，所述第二限位边抵触所述限位件以避免所述限位件安装时滑动。7.根据权利要求3所述的测试设备，其特征在于：所述支撑装置包括第二载物台，所述第二载物台固定于所述第一载物台，所述第二载物台用于安装所述射源。8.根据权利要求7所述的测试设备，其特征在于：所述第二载物台设有插接槽，所述插接槽用于插接所述射源。9.根据权利要求7所述的测试设备，其特征在于：所述第二载物台设有第二调节孔，所述第一载物台设有第三固定孔，所述第二载物台通过所述第二调节孔以及所述第三固定孔固定于所述第一载物台。10.根据权利要求9所述的测试设备，其特征在于：所述第二调节孔的长度大于所述第三固定孔的直径以调节所述射源的高度。11.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于：所述位移台包括：第一方向移动部，沿第一方向运动；第二方向移动部，沿第二方向运动，所述第二方向与所述第一方向不同；第二方向固定部，所述第二方向固定部设...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡超，汪飞，凌怡清，谢庆国，
申请(专利权)人：华中科技大学，
类型：发明
国别省市：