一种杂质积聚特性评估装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种杂质积聚特性评估装置及系统，杂质积聚特性评估装置包括：杜瓦结构，包括内容器和外容器，所述内容器设置在所述外容器内，所述内容器和所述外容器呈真空设置；法兰密封机构，可拆卸地安装在所述内容器和所述外容器处的开口；检测机构，包括真空度检测件以及若干温度检测件，所述真空度检测件安装在所述内容器和外容器之间形成的夹层空间内；所述温度检测件呈阵列设置在所述内容器内。所述温度检测件呈阵列设置在所述内容器内。所述温度检测件呈阵列设置在所述内容器内。

【技术实现步骤摘要】
一种杂质积聚特性评估装置及系统


[0001]本专利技术涉及推进剂评估装置
，具体涉及一种杂质积聚特性评估装置及系统。

技术介绍

[0002]低温推进剂是指在地面和空间使用环境温度下不可贮存、只有在极低环境温度下才能在贮箱内长期保持液态的推进剂，它属于不可贮存的推进剂。液氟、液氧和液氢都是低温推进剂。液氧/液氢推进剂组合式目前使用的比冲最高的液体推进剂，在大型运载火箭和航天飞行器上被广泛使用。为了测试低温推进剂杂质在进行监控，急需一种杂质积聚特性评估装置。

技术实现思路

[0003]因此，本专利技术所要解决的技术问题在于提供一种能够检测试低温推进剂杂质评估装置实现对于低温推进剂筒体内部的危害检测。
[0004]为此，本专利技术提供了一种杂质积聚特性评估装置，包括：
[0005]杜瓦结构，包括内容器和外容器，所述内容器设置在所述外容器内，所述内容器和所述外容器呈真空设置；
[0006]法兰密封机构，可拆卸地安装在所述内容器和所述外容器处的开口；
[0007]检测机构，包括真空度检测件以及若干温度本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种杂质积聚特性评估装置，其特征在于，包括：杜瓦结构，包括内容器和外容器，所述内容器设置在所述外容器内，所述内容器和所述外容器呈真空设置；法兰密封机构，可拆卸地安装在所述内容器和所述外容器处的开口；检测机构，包括真空度检测件以及若干温度检测件，所述真空度检测件安装在所述内容器和外容器之间形成的夹层空间内；所述温度检测件呈阵列设置在所述内容器内。2.根据权利要求1中所述的杂质积聚特性评估装置，其特征在于，所述内容器内设有若干第一观察窗；所述外容器上设有若干第二观察窗，所述第二观察窗正对所述第一观察窗设置。3.根据权利要求2中所述的杂质积聚特性评估装置，其特征在于，所述第一观察窗的第一尺寸小于所述第二观察窗的第二尺寸。4.根据权利要求3中所述的杂质积聚特性评估装置，其特征在于，所述法兰密封机构包括内法兰体和外法兰体，所述内法兰体盖设在内容器上，所述外法兰体盖设在所述外容器上。5.根据权利要求4中所述的杂质积聚特性评估装置，其特征在于，所述检测机构还包括压力检测件，所述压力检测件伸入所...

【专利技术属性】
技术研发人员：王天祥，雷刚，陈强，刘占卿，董薇，张晓萍，孙庆国，杨潞锋，杨晓静，刘岩云，袁启平，魏秋帆，
申请(专利权)人：中国人民解放军六三九二一部队，
类型：发明
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