【技术实现步骤摘要】
一种防止MCU嵌入式闪存数据泄露的电路
[0001]本专利技术涉及MCU芯片
,尤其涉及一种防止MCU嵌入式闪存数据泄露的电路。
技术介绍
[0002]Serial Wire Debug(SWD)是一种调试接口,SWD调试接口有两根线,其中一根为时钟信号线,由外部输入;另一根为数据传输线,外部输入数据时由外部驱动,输出数据时由芯片内部驱动。MCU芯片中普遍采用嵌入式闪存作为非易失储存器,用于储存程序和数据,在支持SWD的MCU芯片上,用户可以通过SWD接口实时监控MCU中的CPU的运行状态,读取MCU嵌入式闪存中所有的数据,并将程序和数据写入到MCU嵌入式闪存中,由于用户可以通过SWD接口读取MCU嵌入式闪存中所有的数据,因为容易造成数据泄露的问题,为解决这一问题,现有技术有直接禁用SWD接口的方法,这一方法虽然可以防止数据泄露,但是同时也无法再次通过SWD修改储存的程序内容,如果芯片中的软件和硬件没有支持使用其它接口来更新程序,那么这个芯片中的程序就再也无法更改。
技术实现思路
[0003]本专利技术 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种防止MCU嵌入式闪存数据泄露的电路,其特征在于,包括:计数器、比较器、与门逻辑单元以及选择器;所述计数器的输入端与SWD接口的时钟信号线连接,所述计数器的输出端与所述比较器的输入端连接,所述比较器的输出端与所述与门逻辑单元的第一输入端连接,所述与门逻辑单元的第二输入端与防泄露开关的输出引脚连接,所述与门逻辑单元的输出端与所述选择器第一输入端连接,所述选择器的第二输入端与MCU嵌入式闪存连接,所述选择器的输出端与所述SWD接口的数据传输线连接;其中,在所述防泄露开关开启时,所述防泄露开关的输出引脚输出高电平至所述与门逻辑单元;所述计数器,用于根据所述时钟信号线所出现的时钟沿进行计数,并将计数值传输至比较器;所述比较器用于将所述计数值与预设阈值进行比对,并在所述计数值达到预设阈值时向...
【专利技术属性】
技术研发人员:王锐,李志华,李建军,莫军,王亚波,
申请(专利权)人:广芯微电子广州股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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