一种中低压防雷元件测试电路制造技术

技术编号:32627281 阅读:27 留言:0更新日期:2022-03-12 18:00
本实用新型专利技术涉及一种中低压防雷元件测试电路,所述中低压防雷元件测试电路包括:包括主控电路、电源控制电路及显示电路,所述主控电路分别与所述电源控制电路、显示电路电连接;所述电源控制电路,用于为主控电路提供稳定的供电电源,所述主控电路,用于采集测试电压施加于被测试防雷元件后,流经防雷元件的电流值,并将所述电流值传送至所述显示电路,所述显示电路用于显示所述电流值。本实用新型专利技术提供的中低压防雷元件测试电路,利用较为简单的电路结构实现了对中低压防雷元件的测试。电路结构实现了对中低压防雷元件的测试。电路结构实现了对中低压防雷元件的测试。

【技术实现步骤摘要】
一种中低压防雷元件测试电路


[0001]本技术涉及防雷测试
,尤其涉及一种中低压防雷元件测试电路。

技术介绍

[0002]防雷元件测试设备一般应用于电信、电力、气象、机房、电力配电线路、铁塔输电线路、加油站、工厂接地网等防雷设施的避雷器性能测试。避雷器,用于保护电气设备免受雷击时高瞬态过电压危害,并限制续流时间,也常限制续流幅值的一种电器。避雷器有时也称为过电压保护器,过电压限制器。现有技术中中低压防雷元件测试的电路结构较为复杂,使得对应的防雷元件测试仪的成本较高。

技术实现思路

[0003]有鉴于此,有必要提供一种中低压防雷元件测试电路,用以解决现有技术中中低压防雷元件测试的电路结构较为复杂的问题。
[0004]为了解决上述问题,本技术提供一种中低压防雷元件测试电路,包括主控电路、电源控制电路及显示电路,所述主控电路分别与所述电源控制电路、显示电路电连接;
[0005]所述电源控制电路,用于为主控电路提供稳定的供电电源,所述主控电路,用于采集测试电压施加于被测试防雷元件后,流经防雷元件的电流值,并将所述电流值传送至所述显示电路,所述显示电路用于显示所述电流值。
[0006]进一步地,所述主控电路包括主控芯片IC5、电容C16及电容C17,所述主控芯片IC5的20、40引脚分别接电容C17的两端,所述电容C16与所述电容C17并联,所述电容C16的一端接地,所述电容C16的另一端接直流电源。
[0007]进一步地,所述主控电路还包括晶振CR1、电容C18及电容C19,所述晶振CR1的两端分别接所述主控芯片IC5的18、19引脚,所述主控芯片IC5的18引脚还接所述电容C18的一端,所述电容C18的另一端接所述电容C19的一端,所述电容C19的另一端接所述主控芯片IC5的19引脚。
[0008]进一步地,所述电源控制电路包括电池BATT、开关SW1、三极管V6、稳压器IC1

1、IC

2、IC

3及电容C7,所述电池BATT的负极接地,所述电池BATT的正极通过开关SW1接所述三极管V6发射极,所述三极管V6的集电极同时接稳压器IC1

1、IC

2、IC

3的1引脚,所述稳压器IC1

1、IC

2、IC

3的3引脚通过电容C7接地。
[0009]进一步地,所述电源控制电路还包括电阻R11

R16、电阻R18

1、电阻R18

2、电阻R18

3、三极管V7、二极管V8、二极管V9及电容C3,所述电阻R11的两端分别接所述三极管V6的发射极和基极,所述三极管V6的发射极还与所述电容C3的一端连接,所述电容C3的另一端同时接电阻R13的一端、电阻R14的一端、二极管V8的阴极,所述电阻R13的另一端接三极管V7的基极,所述电阻R14的另一端及二极管V8的阳极接三极管V7的发射极,所述三极管V6的集电极通过电阻R12接所述三极管V6的基极,所述稳压器IC1

1、IC

2、IC

3的3引脚分别通过电阻R18

1、电阻R18

2、电阻R18

3接电容C7的一端,所述电容C7的另一端接地。
[0010]进一步地,所述显示电路包括显示屏OCM12864

1、电容C14及电容C15,所述显示电路的7

14引脚分别与所述主控芯片IC5的P00

P07引脚,所述电容C15的两端分别接所述显示屏OCM12864

1的1、2引脚,所述电容14与所述电容C15并联。
[0011]进一步地,所述显示电路还包括二极管V10、三极管V11、三极管V12及电阻R19、电阻R20、电阻R22,所述显示屏OCM12864

1的20引脚接所述三极管V11的集电极,所述三极管V11的发射极接所述二极管V10的阴极,所述二极管V10的阳极接通过电阻R19接所述二极管V9的阳极,所述三极管V11的基极通过电阻R20接三极管V12的集电极,所述三极管V12的发射极接地,所述三极管V12的基极通过电阻R22接地。
[0012]进一步地,所述中低压防雷元件测试电路还包括通信电路,所述通信电路包括通信芯片IC9及电阻R8,所述通信芯片IC9的2、3引脚分别与主控芯片IC5的12、13引脚。
[0013]进一步地,所述中低压防雷元件测试电路还包括存储电路,所述存储电路包括存储芯片IC8、电容C27、电容C30及电容C31,所述存储芯片IC8的2、16引脚分别接所述电容C27的两端,所述存储芯片IC8的6、15引脚分别接所述电容C30的两端,所述存储芯片IC8的4、5引脚分别接所述电容C31的两端,所述存储芯片IC8的9、10引脚分别与所述通信芯片IC9的1、4引脚连接。
[0014]进一步地,所述中低压防雷元件测试电路还包括供电电源电路,所述供电电源电路包括电阻R24、电阻R25、电容C22

C24、滑动电阻RP3,直流电源接所述电阻R24的一端,所述电阻R24的另一端接所述主控芯片IC5的2引脚,所述直流电源还通过电容C22接地,所述电阻R24的另一端接所述滑动电阻RP3的3引脚,所述滑动电阻RP3的1引脚通过电阻R25接地,所述电阻R24的另一端通过电容C23接地,所述电阻R24的另一端还通过电容C24接地。
[0015]采用上述实施例的有益效果是:通过电源控制电路为主控电路提供稳定的供电电源,使用测试电压模拟防雷的过电压,将测试电压施加于被测试防雷元件后,被测试防雷元件内部会有电流值,通过主控电路检测流经防雷元件的电流值,将所述电流值进行显示,通过该电流值与安全阈值范围进行对比,可以确定防雷元件是否合格;利用较为简单的电路结构实现了对中低压防雷元件的测试。
附图说明
[0016]图1为本技术提供的中低压防雷元件测试电路一实施例的结构示意图;
[0017]图2为本技术实施例提供的主控电路的电路原理图;
[0018]图3为本技术实施例提供的晶振单元的电路原理图;
[0019]图4为本技术实施例提供的电源控制电路的电路原理图;
[0020]图5为本技术实施例提供的显示电路的电路原理图;
[0021]图6为本技术实施例提供的通信电路的电路原理图;
[0022]图7为本技术实施例提供的存储电路的电路原理图;
[0023]图8为本技术实施例提供的供电电源电路的电路原理图;
[0024]图9为本技术实施例提供的分压器的电路原理图。
具体实施方式
[0025]下面结合附本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种中低压防雷元件测试电路,其特征在于,包括主控电路、电源控制电路及显示电路,所述主控电路分别与所述电源控制电路、显示电路电连接;所述电源控制电路,用于为主控电路提供稳定的供电电源,所述主控电路,用于采集测试电压施加于被测试防雷元件后,流经防雷元件的电流值,并将所述电流值传送至所述显示电路,所述显示电路用于显示所述电流值。2.根据权利要求1所述的中低压防雷元件测试电路,其特征在于,所述主控电路包括主控芯片IC5、电容C16及电容C17,所述主控芯片IC5的20、40引脚分别接电容C17的两端,所述电容C16与所述电容C17并联,所述电容C16的一端接地,所述电容C16的另一端接直流电源。3.根据权利要求2所述的中低压防雷元件测试电路,其特征在于,所述主控电路还包括晶振CR1、电容C18及电容C19,所述晶振CR1的两端分别接所述主控芯片IC5的18、19引脚,所述主控芯片IC5的18引脚还接所述电容C18的一端,所述电容C18的另一端接所述电容C19的一端,所述电容C19的另一端接所述主控芯片IC5的19引脚。4.根据权利要求2所述的中低压防雷元件测试电路,其特征在于,所述电源控制电路包括电池BATT、开关SW1、三极管V6、稳压器IC1

1、IC

2、IC

3及电容C7,所述电池BATT的负极接地,所述电池BATT的正极通过开关SW1接所述三极管V6发射极,所述三极管V6的集电极同时接稳压器IC1

1、IC

2、IC

3的1引脚,所述稳压器IC1

1、IC

2、IC

3的3引脚通过电容C7接地。5.根据权利要求4所述的中低压防雷元件测试电路,其特征在于,所述电源控制电路还包括电阻R11

R16、电阻R18

1、电阻R18

2、电阻R18

3、三极管V7、二极管V8、二极管V9及电容C3,所述电阻R11的两端分别接所述三极管V6的发射极和基极,所述三极管V6的发射极还与所述电容C3的一端连接,所述电容C3的另一端同时接电阻R13的一端、电阻R14的一端、二极管V8的阴极,所述电阻R13的另一端接三极管V7的基极,所述电阻R14的另一端及二极管V8的阳极接三极管V7的发射极,所述三极管V6的集电极通过电阻R12接所述三极管V6的基极,所述稳压器IC1

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【专利技术属性】
技术研发人员:彭小刚彭锦
申请(专利权)人:武汉博宇电力设备有限公司
类型:新型
国别省市:

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