光源和摄像头模组杂光检测系统技术方案

技术编号:32609176 阅读:35 留言:0更新日期:2022-03-12 17:34
本实用新型专利技术公开了一种光源和摄像头模组杂光检测系统,用于摄像头模组杂光检测,其中。该光源包括:光源基板和多个子光源,多个子光源均设置在光源基板上,多个子光源中包括至少两种不同形状的子光源。本实用新型专利技术的光源,便于在检测摄像头模组的杂光检测中,降低杂光辨别和分析难度,容易追踪光的反射的起始点,能提升对杂光的分析效率,节省测试和分析时间。节省测试和分析时间。节省测试和分析时间。

【技术实现步骤摘要】
光源和摄像头模组杂光检测系统


[0001]本技术属于摄像头检测
,尤其是涉及一种光源和摄像头模组杂光检测系统。

技术介绍

[0002]在相关技术中,为了检测摄像头杂光情况,如图1所示,一般采用一个单点光源的方式,将单点光源1

围绕待测摄像头模组2

从0度

180度旋转,并采集图像,采集的光源图像如图2所示,基于图2所示的系列图像通过手动来判定杂光的有无。
[0003]如上的摄像头杂光检测方法,需要手动判断杂光有无,效率低,精度低。以及,有些技术中采用多点光源对摄像头模组进行杂光检测,但是,很难判断杂光到底从哪里反射出来,不能判断杂光反射的位置。

技术实现思路

[0004]本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本技术的一个目的在于提出一种光源,在摄像头模组杂光检测时采用该光源,可以追踪杂光反射的起始点,节约杂光测试和分析时间,提升杂光检测效率。
[0005]本技术的目的之二在于提出一种摄像头模组杂光检测系统。
[0006]为了解决本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光源,用于摄像头模组杂光检测,其特征在于,所述光源包括:光源基板;多个子光源,所述多个子光源均设置在所述光源基板上,多个子光源中包括至少两种不同形状的子光源,且不同形状的子光源相邻设置。2.根据权利要求1所述的光源,其特征在于,所述光源基板为均匀发光板;所述多个子光源还包括测试图卡,所述测试图卡覆盖在所述均匀发光板上,所述测试图卡上设置有至少两种形状的通孔,所述均匀发光板的发射光线通过所述通孔形成所述多个子光源。3.根据权利要求1所述的光源,其特征在于,所述多...

【专利技术属性】
技术研发人员:田允宣
申请(专利权)人:南昌欧菲光电技术有限公司
类型:新型
国别省市:

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