【技术实现步骤摘要】
烃源岩有机显微组分识别方法、装置、电子设备及介质
[0001]本专利技术涉及石油地质领域,更具体地,涉及一种烃源岩有机显微组分识别方法、装置、电子设备及介质。
技术介绍
[0002]烃源岩中的有机显微组分是油气生成的物质基础,其类型和组成决定了烃源岩的品质和生烃潜力,是评价常规和非常规油气资源潜力的关键地质参数。
[0003]拉曼光谱分析技术是近年来迅速发展起来的一种分子光谱原位分析技术,是分析物质化学结构信息的有力工具,已被广泛应用于材料学和地质学的许多领域。由于拉曼光谱对碳材料的结构有序状态非常敏感,可以为结构的有序性程度提供非常可靠的信息,因此被广泛用来表征石墨等碳质材料的结构特征。烃源岩中的有机显微组分作为一种非晶态固体,与石墨相似,具有微晶层片状结构,但结构不像石墨那样完全有规则的排列,其类型主要取决于内部碳物质的分子结构。鉴于拉曼光谱能反映碳物质结构的有序程度,并且能够指示碳物质中存在的结构缺陷,因此可从分子水平上研究认识烃源岩中有机显微组分的结构。这为利用拉曼光谱快速准确的识别有机显微组分提供了可能,但 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种烃源岩有机显微组分识别方法,其特征在于,包括:选取标样,确定能够识别有机显微组分的有机质测量点;针对所述有机质测量点进行拉曼光谱分析,计算所述有机质测量点对应的D峰与G峰的横坐标差值;重新确定能够识别不同有机显微组分的有机质测量点,针对每个有机质测量点重复上述步骤,计算每一个有机质测量点对应的D峰与G峰的横坐标差值;根据所述横坐标差值,建立有机显微组分识别图版。2.根据权利要求1所述的烃源岩有机显微组分识别方法,其中,针对所述有机质测量点进行拉曼光谱分析,计算所述有机质测量点对应的D峰与G峰的横坐标差值包括:针对所述有机质测量点进行拉曼光谱分析,获得原始拉曼光谱图;扣除所述原始拉曼光谱图的背景,获得去背景拉曼光谱图;针对所述去背景拉曼光谱图中的D峰、G峰分别进行拟合,获得D峰和G峰的拟合曲线图;计算所述有机质测量点对应的D峰与G峰的横坐标差值。3.根据权利要求2所述的烃源岩有机显微组分识别方法,其中,通过公式(1)计算所述有机质测量点对应的D峰与G峰的横坐标差值:其中,为能够识别有机显微组分a的有机质测量点a1对应的D峰与G峰的横坐标差值,为拟合曲线图中D峰所对应的横坐标值,为拟合曲线图中G峰所对应的横坐标值。4.根据权利要求2所述的烃源岩有机显微组分识别方法,其中,通过Lorentzian公式针对所述去背景拉曼光谱图中的D峰、G峰分别进行拟合。5.根据权利要求4所述的烃源岩有机显微组分识别方法,其中,所述Lorentzian公式为:其中,A为去背景拉曼光谱图中曲线中基线上的积分面积,w为待拟和峰的半高宽,x0为待拟和...
【专利技术属性】
技术研发人员:鲍芳,芮晓庆,张庆珍,俞凌杰,范明,
申请(专利权)人:中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院,
类型:发明
国别省市:
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