【技术实现步骤摘要】
一种超导接头电阻闭合环路测试仪
[0001]本技术涉及超导材料
,尤其涉及一种超导接头电阻闭合环路测试仪。
技术介绍
[0002]实用的高温超导材料主要包括第一代的Bi系PIT带材和第二代Y系涂层导体带材;
[0003]因为这两类超导带材的承载电流的能力,即临界电流,对内部材料存在的微观结构缺陷相当敏感,因此,其临界电流会随位置的变化而变化,即沿长度方向存在不均匀性,同时,在超导带材组成的闭环应用中,对闭环连接处接头电阻的测量尤为重要,而现有技术中缺乏对电阻的测量,因此,本技术提出一种超导接头电阻闭合环路测试仪以解决现有技术中存在的问题。
技术实现思路
[0004]针对上述问题,本技术的目的在于提出一种超导接头电阻闭合环路测试仪,该超导接头电阻闭合环路测试仪解决了接头电阻无法测量的问题,测量更加方便。
[0005]为实现本技术的目的,本技术通过以下技术方案实现:一种超导接头电阻闭合环路测试仪,包括圆盘和基座板,所述圆盘下方的中间位置处设有基座板,且基座板的一侧设有安装盘,所述安装盘的外侧绕设 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种超导接头电阻闭合环路测试仪,包括圆盘(1)和基座板(2),其特征在于:所述圆盘(1)下方的中间位置处设有基座板(2),且基座板(2)的一侧设有安装盘(3),所述安装盘(3)的外侧绕设有励磁线圈(4),所述安装盘(3)的外侧套设有非磁性固定筒(5),且非磁性固定筒(5)的外侧绕设有超导带闭环(6),所述非磁性固定筒(5)一侧位置处的基座板(2)上设有加热器(7),所述非磁性固定筒(5)上方位置处的基座板(2)上设有霍尔探头(8),所述超导带闭环(6)的下端设有超导接头(9),所述基座板(2)的下方位置处设有浸入池(10),且浸入池(10)的内部装有低温冷却液(11)。2.根据权利要求1所述的一种超导接头电阻闭合环路测试仪,其特征在于:所述超导带闭环(6)为水滴形状,且超导带闭环(6)为单环结构。3.根据权利要求1所述的一种超导接头电阻闭合环路测试仪,其特征在于:所述基座板(2)浸入所述...
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