辐射检查系统技术方案

技术编号:32588696 阅读:44 留言:0更新日期:2022-03-09 17:22
本公开涉及一种辐射检查系统,包括:辐射源,具有加速器靶点;和探测器臂,包括臂体和多个探测器模块,多个探测器模块沿臂体的长度方向在臂体上排布,每个探测器模块包括电路板和安装在电路板上的多个探测器晶体,每个探测器模块中的多个探测器晶体的安装方向相互平行,并且沿电路板上的参考直线排布且相对于参考直线呈预设夹角,多个探测器模块对应至少两种不同的预设夹角。本公开实施例能够改善生成的检查图像的质量。检查图像的质量。检查图像的质量。

【技术实现步骤摘要】
辐射检查系统


[0001]本公开涉及辐射检查领域,尤其涉及一种辐射检查系统。

技术介绍

[0002]在辐射检查过程中,辐射源向物体发射X射线或者γ射线,位于被检物体另一侧的探测器组件能够接收被物体削弱的射线信号,并通过数据处理模块转换和生成表示物体内部情况的图像信息。
[0003]以集装箱/车辆检查系统为例,系统包括用于形成检查通道的探测器臂。在探测器臂上可设有多个相同规格的探测器模块,每个探测器模块包括并排设置的多个探测器晶体。为了使探测器模块正对辐射源的束流方向,在探测器臂上的多个探测器模块分别被设置成不同的安装角度。

技术实现思路

[0004]专利技术人经研究发现,在探测器臂上安装的多个探测器模块中,相邻探测器模块的边缘探测器晶体与辐射源的靶点之间的距离存在着突变,影响系统生成的检查图像的质量。
[0005]有鉴于此,本公开实施例提供一种辐射检查系统,能够改善生成的检查图像的质量。
[0006]在本公开的一个方面,提供一种辐射检查系统,包括:辐射源,具有加速器靶点;和探测器臂,包括臂体和多个探测器模块,所述多个探测器模块沿所述臂体的长度方向在所述臂体上排布,每个探测器模块包括电路板和安装在所述电路板上的多个探测器晶体,所述每个探测器模块中的所述多个探测器晶体的安装方向相互平行,并且沿所述电路板上的参考直线排布且相对于所述参考直线呈预设夹角,所述多个探测器模块对应至少两种不同的预设夹角。
[0007]在一些实施例中,所述多个探测器模块包括多个探测器模块组,至少一个探测器模块组包括相邻设置的多个相同的探测器模块,所述多个相同的探测器模块中的每个探测器模块对应的预设夹角不同于其他至少一个探测器模块组对应的预设夹角。
[0008]在一些实施例中,所述多个相同的探测器模块相对于所述臂体呈不同的安装角度,以使所述多个相同的探测器模块中的每个探测器模块的至少部分探测器晶体沿安装方向的延长线通过所述加速器靶点。
[0009]在一些实施例中,每个探测器模块的电路板呈平行四边形,且所述平行四边形的第一侧边作为所述电路板上的参考直线与所述多个探测器晶体的安装方向呈预设夹角。
[0010]在一些实施例中,所述平行线四边形中与所述第一侧边相邻的两个相对的第二侧边和第三侧边均与所述多个探测器晶体的安装方向平行。
[0011]在一些实施例中,每个探测器模块组中的多个探测器模块沿所述臂体的长度方向依次相邻设置。
[0012]在一些实施例中,所述臂体包括:竖臂体,被配置为在所述辐射检查系统处于检查状态时竖直设置,其中,排布在所述竖臂体上,且位于所述加速器靶点所在水平面以上的各个探测器模块组分别对应的预设夹角沿竖直方向向上逐渐减小。
[0013]在一些实施例中,所述臂体还包括:横臂体,被配置为在所述辐射检查系统处于检查状态时水平设置,其中,排布在所述横臂体上的各个探测器模块组分别对应的预设夹角沿远离所述加速器靶点的水平方向逐渐减小。
[0014]在一些实施例中,所述臂体包括第一臂体段和第二臂体段,所述多个探测器模块组包括位于所述第一臂体段的至少两个探测器模块组和位于所述第二臂体段的至少两个探测器模块组,位于所述第一臂体段的至少两个探测器模块组的组间距离小于位于所述第二臂体段的至少两个探测器模块组的组间距离。
[0015]在一些实施例中,所述第一臂体段的长度方向和所述第二臂体段的长度方向平行,所述第一臂体段与所述加速器靶点在所述第一臂体段的长度方向上的距离小于所述第二臂体段与所述加速器靶点在所述第二臂体段的长度方向上的距离。
[0016]在一些实施例中,所述臂体包括:竖臂体,具有所述第一臂体段,且被配置为在所述辐射检查系统处于检查状态时竖直设置;和横臂体,具有所述第二臂体段,且被配置为在所述辐射检查系统处于检查状态时水平设置。
[0017]因此,根据本公开实施例,在探测器臂的臂体上设置多个探测器模块组,使探测器模块中的多个探测器晶体相对于电路板上的参考直线的预设夹角不同于其他探测器模块中的多个探测器晶体相对于电路板上的参考直线的预设夹角。在进行探测器模块的安装时,可根据臂体的不同安装位置采用对应于不同预设夹角的探测器模块,无需使各个探测器模块根据辐射源的束流方向被设置成较大的安装角度,这样可有效地降低或消除相邻探测器模块的边缘探测器晶体与辐射源的靶点之间距离的突变,使成像更加清晰,提高成像指标。
附图说明
[0018]构成说明书的一部分的附图描述了本公开的实施例,并且连同说明书一起用于解释本公开的原理。
[0019]参照附图,根据下面的详细描述,可以更加清楚地理解本公开,其中:
[0020]图1是根据本公开辐射检查系统的一些实施例的结构示意图;
[0021]图2

图4分别是根据本公开辐射检查系统的一些实施例中探测器晶体与电路板上的参考直线呈不同预设夹角的探测器模块的结构示意图;
[0022]图5是根据本公开辐射检查系统的一些实施例中探测器模块的结构示意图;
[0023]图6是相关技术中加速器靶点到探测器臂的相邻探测器模块的相邻探测器晶体的距离变化示意图;
[0024]图7是根据本公开辐射检查系统的一些实施例中加速器靶点到探测器臂的相邻探测器模块的相邻探测器晶体的距离变化示意图。
[0025]应当明白,附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。此外,相同或类似的参考标号表示相同或类似的构件。
具体实施方式
[0026]现在将参照附图来详细描述本公开的各种示例性实施例。对示例性实施例的描述仅仅是说明性的,决不作为对本公开及其应用或使用的任何限制。本公开可以以许多不同的形式实现,不限于这里所述的实施例。提供这些实施例是为了使本公开透彻且完整,并且向本领域技术人员充分表达本公开的范围。应注意到:除非另外具体说明,否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、材料的组分、数字表达式和数值应被解释为仅仅是示例性的,而不是作为限制。
[0027]本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性,而只是用来区分不同的部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指在该词前的要素涵盖在该词后列举的要素,并不排除也涵盖其他要素的可能。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系,当被描述对象的绝对位置改变后,则该相对位置关系也可能相应地改变。
[0028]在本公开中,当描述到特定器件位于第一器件和第二器件之间时,在该特定器件与第一器件或第二器件之间可以存在居间器件,也可以不存在居间器件。当描述到特定器件连接其它器件时,该特定器件可以与所述其它器件直接连接而不具有居间器件,也可以不与所述其它器件直接连接而具有居间器件。
[0029]本公开使用的所有术语(包括技术术语或者科学术语)与本公开所属领域的普通技术人员理解的含义相同,除非另外特别定义。还应当理解,在诸如通用字典中定义的术语应当被解释为具有与它本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种辐射检查系统,其特征在于,包括:辐射源(10),具有加速器靶点(11);和探测器臂,包括臂体(20)和多个探测器模块(30),所述多个探测器模块(30)沿所述臂体(20)的长度方向在所述臂体(20)上排布,每个探测器模块(30)包括电路板(31)和安装在所述电路板(31)上的多个探测器晶体(32),所述每个探测器模块(30)中的所述多个探测器晶体(32)的安装方向相互平行,并且沿所述电路板(31)上的参考直线(R)排布且相对于所述参考直线(R)呈预设夹角,所述多个探测器模块(30)对应至少两种不同的预设夹角。2.根据权利要求1所述的辐射检查系统,所述多个探测器模块(30)包括多个探测器模块组(30a;30b;30c;30d;30e;30f),至少一个探测器模块组(30a;30b;30c;30d;30e;30f)包括相邻设置的多个相同的探测器模块(30),所述多个相同的探测器模块(30)中的每个探测器模块(30)对应的预设夹角不同于其他至少一个探测器模块组(30a;30b;30c;30d;30e;30f)对应的预设夹角。3.根据权利要求2所述的辐射检查系统,其特征在于,所述多个相同的探测器模块(30)相对于所述臂体(20)呈不同的安装角度,以使所述多个相同的探测器模块(30)中的每个探测器模块(30)的至少部分探测器晶体(32)沿安装方向的延长线(12)通过所述加速器靶点(11)。4.根据权利要求2所述的辐射检查系统,其特征在于,每个探测器模块(30)的电路板(31)呈平行四边形,且所述平行四边形的第一侧边(L1)作为所述电路板(31)上的参考直线(R)与所述多个探测器晶体(32)的安装方向呈预设夹角。5.根据权利要求4所述的辐射检查系统,其特征在于,所述平行线四边形中与所述第一侧边(L1)相邻的两个相对的第二侧边(L2)和第三侧边(L3)均与所述多个探测器晶体(32)的安装方向平...

【专利技术属性】
技术研发人员:樊旭平宋全伟史俊平何远孟辉
申请(专利权)人:同方威视技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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